Materialanalysemikroskop mit Schichtdickenmessystem - PR106077-2270-W Referenznummer der Bekanntmachung: PR106077-2270-W
Bekanntmachung vergebener Aufträge
Ergebnisse des Vergabeverfahrens
Lieferauftrag
Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: München
NUTS-Code: DE212 München, Kreisfreie Stadt
Postleitzahl: 80686
Land: Deutschland
E-Mail: [gelöscht]
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: https://vergabe.fraunhofer.de/
Abschnitt II: Gegenstand
Materialanalysemikroskop mit Schichtdickenmessystem - PR106077-2270-W
Materialanalysemikroskop mit Schichtdickenmessystem
Fraunhofer EMFT
Hansastraße 27d
80686 München
1 Stück Ein mikroskopbasierendes Schichtdickenmessystem zur kontaktlosen, optischen Dicken-messung von (semi-)transparenten Schichten mit einer nm-skaligen Auflösung Optionen: 3.2.10 Joystick für X-Y-Bewegung
EFRE (REACT-Projekt)
Abschnitt IV: Verfahren
- Keine oder keine geeigneten Angebote/Teilnahmeanträge im Anschluss an ein offenes Verfahren
Nach aufgehobenem offenen Verfahren wurden alle Wettbewerber in das Folge-Verfahren eingeladen.
Abschnitt V: Auftragsvergabe
Materialanalysemikroskop mit Schichtdickenmessystem
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: California
NUTS-Code: US United States
Postleitzahl: 92121
Land: Vereinigte Staaten
Abschnitt VI: Weitere Angaben
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Bonn
Postleitzahl: 53123
Land: Deutschland
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: München
Postleitzahl: 80686
Land: Deutschland
E-Mail: [gelöscht]
Internet-Adresse: https://www.fraunhofer.de