Rasterkraftmikroskop Lehrstuhl Technische Physik 2022
Freiwillige Ex-ante-Transparenzbekanntmachung
Lieferauftrag
Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber/Auftraggeber
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Würzburg
NUTS-Code: DE263 Würzburg, Kreisfreie Stadt
Postleitzahl: 97070
Land: Deutschland
Kontaktstelle(n):[gelöscht]
E-Mail: [gelöscht]
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: https://www.uni-wuerzburg.de/startseite/
Abschnitt II: Gegenstand
Rasterkraftmikroskop Lehrstuhl Technische Physik 2022
Im Rahmen des vorliegenden Vergabeverfahrens vergibt der Freistaat Bayern (Auftraggeber) – hier vertreten durch die Julius-Maximilians-Universität Würzburg – die Beschaffung eines Rasterkraftmikroskop für den Lehrstuhl für Technische Physik an der Julius-Maximilians-Universität Würzburg gemäß dem Leistungsverzeichnis des Verfahrens.
97074 Würzburg
Rasterkraftmikroskop mit kundenspezifischen Modifikationen
Abschnitt IV: Verfahren
- Die betreffenden Erzeugnisse werden gemäß den in der Richtlinie genannten Bedingungen ausschließlich für Forschungs-, Versuchs-, Untersuchungs- oder Entwicklungszwecke hergestellt
Für die Erfüllung der Projektarbeiten von Einzelphotonenquellen für Messbasierten photonischen Quantenprozessoren ist die Anschaffung eines Rasterkraftmikroskops (AFM) zwingend notwendig. Das AFM ist ein komplettes System, das in der Lage ist, die atomare Auflösung von Nanomaterialproben abzubilden und zu messen. Das gelieferte System muss vollständig sein und alle erforderlichen Computer-, Software-, Hardware-Komponenten und Zubehör für alle angegebenen Abbildungsmodi enthalten. Zusätzlich ein Akustikgehäuse zur Trennung von der Umgebung mit eingebauter Granitplattform und ein Schwingungsdämpfungssystem. Das Akustikgehäuse muss die Temperatur nach schließen der Tür innerhalb von 10 Minuten auf weniger als 0,05 °C reduzieren.
Das Gerät muss folgende Eigenschaften und Spezifikationen aufweisen:
1. Kontakt-, Tap- und berührungsloser Modus müssen unterstützt werden. Letzterer muss auch ausschließlich im attraktiven Bereich des Lennard-Jones Potentials arbeiten.
2. Lieferung eines kompletten 3D-Scansystems mit Zubehör für hochauflösende Bildgebung.
3. Probengröße von mindestens 150 mm x 150 mm x 20 mm (XYZ), optional 200 mm x 200 mm x 20 mm.
4. XY-Scannbereich muss mindestens 100 µm x 100 µm und der Z-Scanbereich 15 µm betragen. Die Scanner müssen getrennt sein und letzterer optional auf 30 µm erweiterbar sein.
5. An die Probe kann eine Vorspannung zwischen -10 V und +10 V angelegt und softwaregesteuert werden.
6. Folgende Messmodi müssen unterstütz werden: Kontaktmodus, AFM im intermittierenden Modus (tapping, soft dynamic oder AC), Berührungsloser AFM-Modus, Querkraftmikroskopie, Phasen-Bildgebung, Kraft-Abstand Spektroskopie, Volumenzuordnung der Kraft-Entfernungs-Messungen, PinPoint Nanomechanischer Modus, Bestimmung von Mechanische Eigenschaften wie Steifigkeit, Elastizitätsmodul (Young’s modulus) und Adhäsionskraft, Eindringkraft (Regelung über und Eindringtiefe), Chemische Kraftmikroskopie, Magnetkraftmikroskopie, Elektrische Kraftmikroskopie, EFM-Daten (Erfassung sowohl mit 1-Pass- als auch 2-Pass-Methoden), Piezoelektrische Kraftmikroskopie, Scanning-Kelvin-Sondenmikroskopie, Kraftmodulationsmikroskopie, Nanoindentation und Nanolithographie durch mechanische Reibung und elektrochemische Lithographie.
7. Es ist kein Austausch des Messkopfes notwendig für die oben genannten Messmodi. Für Kapillar-Pipetten-basierte Methoden (SECCM, SICM) muss optional ein entsprechender Messkopf für Pipetten verfügbar sein.
8. Der Abtastkopf muss eine Cantilever-Schwingungsfrequenz von bis zu 3 MHz ermöglichen.
9. Der AFM-Kopf muss bei seinem Aus- und Wiedereinbau so wiederholgenau positioniert werden, dass die Sonde nach dem Einsetzen innerhalb einer Abweichung von weniger als 100 μm an derselben Position positioniert werden kann.
10. Der XY-Scanner und der Z-Scanner sollten sowohl im offenen als auch im geschlossenen Regelkreis betrieben werden können.
11. Die XY- und Z-Scanner werden mechanisch von piezoelektrischen Materialien angesteuert, um die dynamische Leistung sowie die stationäre/wiederholbare Positionierung zu verbessern.
12. Das Design des XY-Scanners muss eine symmetrische 2-Achsen Einzelaufhängung aufweisen, bei der die Bewegung in der X-Achse unabhängig ist und die Y-Achse nicht beeinflusst und umgekehrt.
13. Für jeden X- und Y-Scanner müssen zwei Positionsdetektoren oder insgesamt 4 Detektoren zugewiesen werden, um eine bessere Linearität für einen großen Scanbereich zu gewährleisten.
14. Der Austausch der Sondenspitze muss sehr einfach sein, ohne Spezialwerkzeuge
oder das Entfernen des Kopfes.
15. Die Sondenhalterung ermöglicht die Verwendung von nicht vor-montierten Cantilevern, die auf den AFM-Kopf geladen sind, ohne Kleber zu verwenden.
Abschnitt V: Auftragsvergabe/Konzessionsvergabe
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Mannheim
NUTS-Code: DE126 Mannheim, Stadtkreis
Postleitzahl: 68199
Land: Deutschland
Internet-Adresse: www.parksystems.com
Abschnitt VI: Weitere Angaben
Ort: Ansbach
Land: Deutschland
Der Antrag auf Einleitung eines Nachprüfungsverfahrens ist unzulässig, soweit nicht nach Maßgabe des § 160 Abs. 3 GWB Verstöße gegen Vergabevorschriften innerhalb der in § 160 Abs. 3 Nrn. 1 – 3 GWB genannten Fristen gerügt worden sind. Rügen sind an folgende Adresse zu richten:
Julius-Maximilians-Universität Würzburg
Referat 3.3 Einkauf
Sanderring 2
97070 Würzburg
Die Universität Würzburg wird schriftlich mitteilen, ob einer Rüge abgeholfen wird.
Wird einer Rüge nicht abgeholfen, so ist ein Antrag auf Einleitung eines Nachprüfungsverfahrens unzulässig, soweit mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung der Universität Würzburg, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. Der Antrag auf Einleitung eines Nachprüfungsverfahrens ist schriftlich bei der Vergabekammer einzureichen und unverzüglich zu begründen.
Sofortige Beschwerde (§ 171 GWB)
Gegen Entscheidungen der Vergabekammer ist die sofortige Beschwerde zulässig (§ 171 Abs. 1 GWB). Die sofortige Beschwerde ist auch zulässig, wenn die Vergabekammer über einen Nachprüfungsantrag nicht innerhalb der Frist des § 167 Abs. 1 GWB entschieden hat (§ 167 Abs. 2 GWB). Die sofortige Beschwerde ist binnen einer Notfrist von zwei Wochen, die mit der Zustellung der Entscheidung, im Fall des § 167 Abs. 2 GWB mit dem Ablauf der Frist beginnt, schriftlich bei dem Beschwerdegericht einzulegen. Die sofortige Beschwerde ist zugleich mit ihrer Einlegung zu begründen. Für die sofortige Beschwerde ist das Oberlandesgericht München – Vergabesenat zuständig, der darüber entscheidet.
Auf die Präklusionsvorschrift des § 160 Abs. 3 GWB wird hingewiesen.
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Würzburg
Postleitzahl: 97070
Land: Deutschland