Lieferung eines hochauflösenden Feldemissions-Elektronenmikroskops mit integrierter focused-ion-beam Technik
Bekanntmachung vergebener Aufträge
Ergebnisse des Vergabeverfahrens
Lieferauftrag
Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Garching
NUTS-Code: DE21H München, Landkreis
Postleitzahl: 85748
Land: Deutschland
Kontaktstelle(n):[gelöscht]
E-Mail: [gelöscht]
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: https://www.tum.de/
Abschnitt II: Gegenstand
Lieferung eines hochauflösenden Feldemissions-Elektronenmikroskops mit integrierter focused-ion-beam Technik
Die Forschungs-Neutronenquelle Heinz Maier-Leibnitz (FRM II) der Technischen Universität München beschafft die Lieferung und vollständigen Inbetriebnahme eines hochauflösenden Feldemissions-Elektronenmikroskops mit integrierter focused-ion-beam Technik, („FIB-SEM“), zur mikroskopischen materialwissenschaftlichen Untersuchung von Kernbrennstoffen.
Garching bei München
Betriebsbereite Lieferung eines hochauflösenden Feldemissions-Elektronenmikroskops mit integrierter focused-ion-beam Technik, („FIB-SEM“), zur mikroskopischen materialwissenschaftlichen Untersuchung von Kernbrennstoffen einschließlich der vollständigen Inbetriebnahme am Verwendungsort. Darüber hinaus räumt der AN der AG eine Garantie über mindestens zwei Jahre ab Abnahmedatum ein. Innerhalb der Garantiezeit von zwei Jahren übernimmt der AN sämtliche nicht durch den AG verschuldeten Reparaturkosten sowie Wartungs- und Instandhaltungskosten (vgl hierzu auch Ziffer 3.4 des Vertrages , Vergabunterlage D).
Optional ist zudem für eine Mindestdauer von 2 Jahre nach Ablauf der Garantie ein branchenüblichen Wartungsvertrag gemäß Leistungsbeschreibung (Vergabeunterlage C) anzubieten.
Einzelheiten des Leistungsumfangs ergeben sich insbesondere aus der Leistungsbeschreibung (Vergabeunterlage C) und dem Vertrag (Vergabeunterlage D).
Wartungsvertrag für eine Mindestlaufzeit von 2 Jahren (spätestens zu beauftragen: 3 Monate vor Ablauf der Garantiezeit)
Abschnitt IV: Verfahren
Abschnitt V: Auftragsvergabe
Technische Universität München wg. Lieferung eines hochauflösenden Feldemissions-Elektronenmikroskops mit integrierter focused-ion-beam Technik
Ort: Dreieich
NUTS-Code: DE71C Offenbach, Landkreis
Land: Deutschland
Internet-Adresse: https://www.fei.com/#gsc.tab=0
Abschnitt VI: Weitere Angaben
Ort: München
Postleitzahl: 80543
Land: Deutschland
E-Mail: [gelöscht]
Telefon: [gelöscht]
Fax: [gelöscht]