Lieferung eines Fokusierter-Ionenstrahl-/Raster-Elektronen-Zweistrahlmikroskopes (FIB/SEM)
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2021-07-07
Bayern
Forchheim
Bayern
Forchheim
2021-07-07
Bayern
Forchheim
CPV: 38511100-1
Rasterelektronenmikroskope
CPV: 38512100-8
Ionenmikroskope