Xenonbasiertes Focused Ion Beam Rasterelektronen-Mikroskop (FIB-REM) mit integrierter RAMAN-Spektroskopie Referenznummer der Bekanntmachung: 2020000398
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2020-09-25
Bayern
Erlangen
Bayern
Erlangen
2020-09-25
Bayern
Erlangen
CPV: 38511100-1
Rasterelektronenmikroskope
CPV: 33114000-2
Ausrüstung für Spektroskopie