1.1.
Beschaffer
Offizielle Bezeichnung: Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V.
Rechtsform des Erwerbers: Organisation, die einen durch einen öffentlichen Auftraggeber subventionierten Auftrag vergibt
2.1.
Verfahren
Titel: Beschaffung eines Hydra Bio CX Small Dual Beam Mikroskop der Firma Thermo Fischer Scientific
Beschreibung: Am Max-Planck-Institut für Biochemie (MPIB) ist eine Forschungsgruppe für KryoEM Technologie eingerichtet. Die Gruppe widmet sich unter der Leitung von Prof. Dr. Jürgen Plitzko der Entwicklung und Anwendung innovativer Werkzeuge und Technologien in der Kryo-Elektronenmikroskopie (cryoEM) und insbesondere der Kryo-Elektronentomographie (cryoET). Prof. Plitzko stellt den Beschaffungsbedarf und dessen Gründe wie folgt vor (Auszug): Zu Forschungszwecken möchte die Forschungsgruppe ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (FE-REM bzw. FE-SEM: Field-Emission-Scanning Electron Microscope) mit einem hochmodernen fokussierten induktiv gekoppelten Plasma-Ionenstrahl beschaffen. Das Mikroskop soll sowohl für die kryogene Probenpräparation als auch die Bildgebung, insbesondere die Kryo-Volumen-EM-Bildgebung, verwendet werden. Kryogene Proben ('Frozen-hydrated') sind vitrifizierte Proben, die sowohl mittels Schockgefrieren bei atmosphärischem Druck ('Plunge-freezing') als auch unter Hochdruck ('High-pressure freezing; HPF'), bei ca. 2000 bar, hergestellt werden. Die Proben sollen mit einem Plasma-Ionenstrahl (Focused-Ion-Beam, FIB) präpariert werden. Dieser Plasma-Ionen-Strahl dient der gezielten Entfernung von Material (Ablation). Der fokussierte induktiv gekoppelte Plasma-Ionenstrahl soll eine ortsspezifische großvolumige Materialentfernung und präzises Top-Down- und Querschnittfräsen ermöglichen. Ein wichtiger Vorteil der Verwendung von Plasmaquellen sind die höheren Strahlströme. Dies ermöglicht die Ablation von großen, unter hohem Druck gefrorenen Gewebeproben mit bis zu einer Größenordnung höheren Ablations-Raten im Vergleich zu herkömmlichen Flüssigmetall-Ionen-quellen, die häufig mit Gallium-Ionen betrieben werden. Kryo-FIB/SEMs (Focused-Ion-Beam Scanning Electron Microscope) werden in der Regel für die Präparation von TEM-Lamellen verwendet. Diese Lamellen, die 100-200 Nanometer dick sind und lateral mehrere zehn Mikrometer messen, sind die Grundvoraussetzung für hochauflösende Strukturuntersuchungen für die Kryo-Elektronentomographie aus biologischem Material. Der Materialverlust ist ein großes Problem und die Bearbeitungszeiten für die Erzeugung von Lamellen aus großen Proben erstrecken sich mit den derzeit in der Forschungsgruppe vorhandenen Geräten über mehrere Tage. Mit herkömmlichem Gallium-betriebenen FIBs ist dieses Problem noch vergrößert, da es sowohl in den gegebenen Abtragungsraten als auch in den verwendeten Strahlströmen limitiert ist. Proben bis maximal 40 Mikrometer Dicke können zwar bearbeitet werden, jedoch ist der Zeitaufwand dazu enorm. Schwerere Plasma-Ionen wie Xenon, die auch bei hohen Strahlströmen eine vorteilhafte lineare Beziehung aufrechterhalten, verkürzen die Zeit für die Lamellenerzeugung. Dies steht im deutlichen Gegensatz zu Gallium (Flüssigmetall-Ionen). Damit ist die Präparation von Proben die dicker sind als 40 Mikrometer mit einem Plasma FIB möglich. Dies bedeutet, dass auch Proben bis zu einer Dicke von 300 Mikrometern mit dem Plasma FIB zugänglich gemacht werden. Daher soll das Mikroskop mit Xenon-Ionen betrieben werden können. Das Mikroskop soll neben Xenon über drei weitere Arten von Plasma-Ionen verfügen, die unabhängig voneinander verwendet werden können. Konkret: Sauerstoff, Argon- und Stickstoff-Ionen. Das ermöglicht die Verfolgung von so genannten Multi-Ionen Präparationsansätzen, d.h. ein Basisfräsen mit Xenon, ein Fein-Fräsen mit Argon oder Sauerstoff, um mögliche Strahlenschäden durch den Fräsvorgang zu minimieren. Ansätze, die bereits in den Materialwissenshaften verwendet werden, jedoch noch nicht bei kryogenen Temperaturen. Dies soll nun erforscht werden. Inwieweit Stickstoff (N) Vorteile bei kryogenen Proben bietet, ist zurzeit noch wenig erforscht. Die Volumenbildgebung wird in der Regel mit Argon-Ionen durchgeführt, die zwar kleiner als Gallium-Ionen sind, aber höhere Ströme als Gallium-Ionen ermöglichen und auch weniger "Vorhang"-Artefakte ('Curtaining') beim Fräsen verursachen. Das gleiche gilt für Sauerstoff (O), welches ebenfalls Vorteile, wie geringere Aufladungen beim Fräsen als auch beim Volume-Imaging aufweist. Da große Mengen an Gewebeproben entnommen werden, ist es außerdem unerlässlich, in diesen riesigen 'Landschaften', respektive Volumina navigieren zu können, bestimmte Regionen darin anzuvisieren und so den Gesamtkontext beizubehalten. Daher ist die Fähigkeit zur multimodalen Bildgebung mit Fluoreszenz-Licht-Mikroskopie bzw. mit dem Rasterelektronen-Mikroskop (REM, VolumeEM) zwingend erforderlich, um ein Navigieren zu ermöglichen und auch die verschiedenen Längenskalen zu überbrücken. Das Gerät muss sowohl das "On-the-Grid"-Lamellenfräsen als auch die Präparation von Lift-Out-Lamellen unterstützen. Dazu bedarf es eines Mikromanipulators, der die Präparation von Lift-Out-Lamellen bei kryogenen Temperaturen unterstützt. Hiermit soll das Serial-Lift-Out-Verfahren weiterentwickelt werden, welches als eine bahnbrechende Methode für den Zugang zu Gewebe und mehrzelligen Organismen auf molekularer Ebene angesehen werden kann und einen Forschungsschwerpunkt der Forschungsgruppe von Prof. Plitzko bildet. Die Forschung hat zum Ziel, das Serial-Lift-Out Verfahren vollständig zu automatisieren und so die Anwendung von den Fähigkeiten des Benutzers zu entkoppeln und den Prozess zu beschleunigen. Zu diesem Zweck muss die Software des Gerätes über eine Scripting-Option für die von der Forschungsgruppe selbst entwickelte Software SerialFIB verfügen. Zudem muss das Gerät über Kryo-Schleusen und Halter verfügen, die mit der bestehenden Instrumentation der Mandantin kompatibel sind.
Kennung des Verfahrens: 1b1e061f-797e-4f54-a277-0b605e5b846a
Interne Kennung: VI-2025-0008
Verfahrensart: Verhandlungsverfahren ohne Aufruf zum Wettbewerb
2.1.1.
Zweck
Art des Auftrags: Lieferungen
Haupteinstufung (cpv): 38512100 Ionenmikroskope
2.1.2.
Erfüllungsort
Postanschrift: Am Klopferspitz 18
Stadt: Martinsried
Postleitzahl: 82152
Land, Gliederung (NUTS): Starnberg (DE21L)
Land: Deutschland
2.1.4.
Allgemeine Informationen
Zusätzliche Informationen: Nur das Hydra Bio CX Small Dual Beam Mikroskop der Firma Thermo Fischer Scientific erfüllt die gewünschten Spezifikationen: Der einzige weitere Hersteller eines Plasma FIB/SEM, welches für den Kryo-ET Arbeitsablauf verwendet werden könnte, ist Tescan mit dem Amber X. Das Amber X nutzt jedoch nur eine Ionenspezies (Xenon) und nicht wie gewünscht vier (Xenon, Argon, Sauerstoff, Stickstoff). Auch besitzt das Amber X von Tescan kein integriertes Fluoreszenz-Licht-Mikroskop, entspricht nicht den gewünschten Spezifikationen hinsichtlich Bildgebung und Auflösung, ist mit Kryo-Haltern von Drittanbietern (z.B. Quorum oder Leica) ausgestattet, die mit der bestehenden Instrumentation und mit der selbst entwickelten Software SerialFIB momentan nicht kompatibel ist. Zeiss ist im Bereich der kryogenen Probenpräparation für die Kryo-Elektronentomographie derzeit nur eingeschränkt wettbewerbsfähig. Zwar bietet das Unternehmen FIB/SEM-Systeme mit flüssiger Metallquelle im Rahmen des Crossbeam-Correlative-Cryo-Workflows sowie Kryo-Zubehör von Drittanbietern an, jedoch bislang kein Plasma-FIB/SEM, das für die spezifischen Anforderungen der geplanten Anwendungen geeignet wäre. Bis vor Kurzem beschränke sich das Angebot zudem auf ein Instrument mit Helium- und Neon-Ionenquelle ohne integrierte Elektronensäule, sodass keine klassische SEM-Abbildung möglich ist. Hitachi bietet zwar ein Ar/Xe Plasma FIB/SEM, habeaber keine essenziellen Erweiterungen bzw. Tendenzen diese auch für kryogene-Proben auszubauen. Hitachi bedient zudem generell nicht den akademischen oder Life-Science Markt an. Die Firma JEOL hat momentan noch kein Plasma FIB/SEM in ihrem Produkt-Programm. Sowohl Tescan (als auch Zeiss) verwenden Drittanbieter für entscheidende Komponenten,, wie beispielsweise die Luftschleuse ('airlock') um kryogene Proben in das Instrument einzubauen (in beiden Fällen: Quorum und Leica), als auch den Halter (ebenfalls in beiden Fällen: Quorum und Leica) bzw., den Mikromanipulator für kryogenen Lift-out (z.B. hier Zeiss Omniprobe; Tescan hat seit 2021 mittlerweile einen eigenen Mikromanipulator). Das FEI/TFS Hydra Bio ist mit der von Max-Plack-Insitut für Biochemie entwickelten Software (SerialFIB) vollumfänglich kompatibel. Tescan hat noch keine funktionierende Schnittschnelle entworfen ebenso wenig Jeol. Zeiss habe zwar mittlerweile diese notwendige Schnittstelle, doch bietet Zeiss kein Multi-Ion-Plasma FIB an. Es ist nicht absehbar, dass bald dem Beschaffungsbedarf adäquate Neuentwicklungen auf den Markt kommen: Die Entwicklungszyklen für die einzusetzenden Technologien reichen von 3 bis 5 bis zu 10 Jahren und mehr. Zwar wäre theoretisch der Bau eines maßgeschneiderten Geräts auf Basis der Tescan NanoSpace-Plattform denkbar, dieses würde jedoch zwei separate Ionenquellen (z. B. für Argon und Xenon) sowie Kryo-Zubehör von Drittanbietern erfordern. Die Integration bestehender Arbeitsabläufe und Software müsste eigens entwickelt werden. Zudem wäre die Kompatibilität mit den bestehenden Systemen am MPI für Biochemie ohne aufwendige Anpassungen nicht gewährleistet. Neben erheblichen Entwicklungs- und Zusatzkosten wäre eine Verfügbarkeit frühestens in 18 bis 20 Monaten realistisch - verbunden mit einer anschließenden Test- und Validierungsphase. Eine Realisierung der geplanten Anwendungen und Entwicklungen ist daher erst nach drei Jahren denkbar. Zudem würde dieses Gerät dann über lediglich über zwei Plasma Ionen verfügen und noch dazu über zwei separate Ionen-Säulen sowie über Kryo-Zubehör von Drittanbietern. Angesichts dieses Aufwands und der technologischen Komplexität erscheint eine Sonderanfertigung weder praktikabel noch wirtschaftlich vertretbar. Das Instrument Orion NanoFab von Zeiss wird nicht mehr beworben oder produziert. Weiterentwicklungen auf dieser Plattform sind somit nicht zu erwarten, was eine nachhaltige Nutzung im wissenschaftlichen Bereich der Kryo-Elektronentomographie ausschließt. Die verwendete Gasfeld-Ionisationsquelle (GFIS) für Helium und Neon ist im Fall von Neon zudem nur wenige Stunden stabil betreibbar. Das System wurde für die Bearbeitung extrem kleiner Strukturen (10-100 nm) konzipiert, ist auf Raumtemperatur beschränkt und daher weder für den "lift-out" voluminöser Proben noch für kryogene Anwendungen geeignet. Selbst eine hypothetisch noch verfügbare Einheit stellt keine realistische Alternative für die geplanten Entwicklungen dar. Die FEI Deutschland GmbH als 100%-iges Tochterunternehmen von Thermo Fisher Scientific - besitzt die alleinigen Vertriebsrechte für das EasyLift Cryo Upgrade Package in Deutschland. Für das Hydra Bio bestehen zudem folgende Patente in den USA und der Europäischen Union: Betreffs der Plasmaquelle sind dies US9029812B2, US7241361B2. Betreffs der Abrasionsmethode mit dem Plasmastrahl sind dies: EP2624284B1, EP2943769B1, EP2009421A1, US20180277361A1, US9279752B2 und US9941096B2. Ausserdem bestehen Patente betreffs des Probenträgers. Dies sind US9116091B2, US9772265B2, US7034316B2 und US9159531B2. Am 24. April 2025 erklärte FEI/TFS zudem in Übereinstimmung mit den oben angeführten Ergebnissen der Marktkonsultation, dass neben dem Hydra BioCX lediglich ein System des Herstellers TESCAN auf dem Markt für Focussed Ion Beam Systeme verfügbar sei. Andere Hersteller würden lediglich FIB-Systeme auf Gallium Basis anbieten.
Rechtsgrundlage:
Richtlinie 2014/24/EU
vgv -
5.1.
Los: LOT-0000
Titel: Beschaffung eines Hydra Bio CX Small Dual Beam Mikroskop der Firma Thermo Fischer Scientific
Beschreibung: Am Max-Planck-Institut für Biochemie (MPIB) ist eine Forschungsgruppe für KryoEM Technologie eingerichtet. Die Gruppe widmet sich unter der Leitung von Prof. Dr. Jürgen Plitzko der Entwicklung und Anwendung innovativer Werkzeuge und Technologien in der Kryo-Elektronenmikroskopie (cryoEM) und insbesondere der Kryo-Elektronentomographie (cryoET). Prof. Plitzko stellt den Beschaffungsbedarf und dessen Gründe wie folgt vor (Auszug): Zu Forschungszwecken möchte die Forschungsgruppe ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (FE-REM bzw. FE-SEM: Field-Emission-Scanning Electron Microscope) mit einem hochmodernen fokussierten induktiv gekoppelten Plasma-Ionenstrahl beschaffen. Das Mikroskop soll sowohl für die kryogene Probenpräparation als auch die Bildgebung, insbesondere die Kryo-Volumen-EM-Bildgebung, verwendet werden. Kryogene Proben ('Frozen-hydrated') sind vitrifizierte Proben, die sowohl mittels Schockgefrieren bei atmosphärischem Druck ('Plunge-freezing') als auch unter Hochdruck ('High-pressure freezing; HPF'), bei ca. 2000 bar, hergestellt werden. Die Proben sollen mit einem Plasma-Ionenstrahl (Focused-Ion-Beam, FIB) präpariert werden. Dieser Plasma-Ionen-Strahl dient der gezielten Entfernung von Material (Ablation). Der fokussierte induktiv gekoppelte Plasma-Ionenstrahl soll eine ortsspezifische großvolumige Materialentfernung und präzises Top-Down- und Querschnittfräsen ermöglichen. Ein wichtiger Vorteil der Verwendung von Plasmaquellen sind die höheren Strahlströme. Dies ermöglicht die Ablation von großen, unter hohem Druck gefrorenen Gewebeproben mit bis zu einer Größenordnung höheren Ablations-Raten im Vergleich zu herkömmlichen Flüssigmetall-Ionen-quellen, die häufig mit Gallium-Ionen betrieben werden. Kryo-FIB/SEMs (Focused-Ion-Beam Scanning Electron Microscope) werden in der Regel für die Präparation von TEM-Lamellen verwendet. Diese Lamellen, die 100-200 Nanometer dick sind und lateral mehrere zehn Mikrometer messen, sind die Grundvoraussetzung für hochauflösende Strukturuntersuchungen für die Kryo-Elektronentomographie aus biologischem Material. Der Materialverlust ist ein großes Problem und die Bearbeitungszeiten für die Erzeugung von Lamellen aus großen Proben erstrecken sich mit den derzeit in der Forschungsgruppe vorhandenen Geräten über mehrere Tage. Mit herkömmlichem Gallium-betriebenen FIBs ist dieses Problem noch vergrößert, da es sowohl in den gegebenen Abtragungsraten als auch in den verwendeten Strahlströmen limitiert ist. Proben bis maximal 40 Mikrometer Dicke können zwar bearbeitet werden, jedoch ist der Zeitaufwand dazu enorm. Schwerere Plasma-Ionen wie Xenon, die auch bei hohen Strahlströmen eine vorteilhafte lineare Beziehung aufrechterhalten, verkürzen die Zeit für die Lamellenerzeugung. Dies steht im deutlichen Gegensatz zu Gallium (Flüssigmetall-Ionen). Damit ist die Präparation von Proben die dicker sind als 40 Mikrometer mit einem Plasma FIB möglich. Dies bedeutet, dass auch Proben bis zu einer Dicke von 300 Mikrometern mit dem Plasma FIB zugänglich gemacht werden. Daher soll das Mikroskop mit Xenon-Ionen betrieben werden können. Das Mikroskop soll neben Xenon über drei weitere Arten von Plasma-Ionen verfügen, die unabhängig voneinander verwendet werden können. Konkret: Sauerstoff, Argon- und Stickstoff-Ionen. Das ermöglicht die Verfolgung von so genannten Multi-Ionen Präparationsansätzen, d.h. ein Basisfräsen mit Xenon, ein Fein-Fräsen mit Argon oder Sauerstoff, um mögliche Strahlenschäden durch den Fräsvorgang zu minimieren. Ansätze, die bereits in den Materialwissenshaften verwendet werden, jedoch noch nicht bei kryogenen Temperaturen. Dies soll nun erforscht werden. Inwieweit Stickstoff (N) Vorteile bei kryogenen Proben bietet, ist zurzeit noch wenig erforscht. Die Volumenbildgebung wird in der Regel mit Argon-Ionen durchgeführt, die zwar kleiner als Gallium-Ionen sind, aber höhere Ströme als Gallium-Ionen ermöglichen und auch weniger "Vorhang"-Artefakte ('Curtaining') beim Fräsen verursachen. Das gleiche gilt für Sauerstoff (O), welches ebenfalls Vorteile, wie geringere Aufladungen beim Fräsen als auch beim Volume-Imaging aufweist. Da große Mengen an Gewebeproben entnommen werden, ist es außerdem unerlässlich, in diesen riesigen 'Landschaften', respektive Volumina navigieren zu können, bestimmte Regionen darin anzuvisieren und so den Gesamtkontext beizubehalten. Daher ist die Fähigkeit zur multimodalen Bildgebung mit Fluoreszenz-Licht-Mikroskopie bzw. mit dem Rasterelektronen-Mikroskop (REM, VolumeEM) zwingend erforderlich, um ein Navigieren zu ermöglichen und auch die verschiedenen Längenskalen zu überbrücken. Das Gerät muss sowohl das "On-the-Grid"-Lamellenfräsen als auch die Präparation von Lift-Out-Lamellen unterstützen. Dazu bedarf es eines Mikromanipulators, der die Präparation von Lift-Out-Lamellen bei kryogenen Temperaturen unterstützt. Hiermit soll das Serial-Lift-Out-Verfahren weiterentwickelt werden, welches als eine bahnbrechende Methode für den Zugang zu Gewebe und mehrzelligen Organismen auf molekularer Ebene angesehen werden kann und einen Forschungsschwerpunkt der Forschungsgruppe von Prof. Plitzko bildet. Die Forschung hat zum Ziel, das Serial-Lift-Out Verfahren vollständig zu automatisieren und so die Anwendung von den Fähigkeiten des Benutzers zu entkoppeln und den Prozess zu beschleunigen. Zu diesem Zweck muss die Software des Gerätes über eine Scripting-Option für die von der Forschungsgruppe selbst entwickelte Software SerialFIB verfügen. Zudem muss das Gerät über Kryo-Schleusen und Halter verfügen, die mit der bestehenden Instrumentation der Mandantin kompatibel sind.
Interne Kennung: LOT-0000
5.1.1.
Zweck
Art des Auftrags: Lieferungen
Haupteinstufung (cpv): 38512100 Ionenmikroskope
5.1.2.
Erfüllungsort
Postanschrift: Am Klopferspitz 18
Stadt: Martinsried
Postleitzahl: 82152
Land, Gliederung (NUTS): Starnberg (DE21L)
Land: Deutschland
5.1.6.
Allgemeine Informationen
Auftragsvergabeprojekt nicht aus EU-Mitteln finanziert
Die Beschaffung fällt unter das Übereinkommen über das öffentliche Beschaffungswesen: ja
5.1.7.
Strategische Auftragsvergabe
Ziel der strategischen Auftragsvergabe: Keine strategische Beschaffung
5.1.15.
Techniken
Rahmenvereinbarung:
Keine Rahmenvereinbarung
Informationen über das dynamische Beschaffungssystem:
Kein dynamisches Beschaffungssystem
5.1.16.
Weitere Informationen, Schlichtung und Nachprüfung
Überprüfungsstelle: Regierung von Oberbayern Vergabekammer Südbayern
Informationen über die Überprüfungsfristen: Gemäß § 135 Abs. 3 GWB beträgt die Frist zur Geltendmachung von Vergaberechtsverstöße durch einen Nachprüfungsantrag 10 Kalendertage gerechnet ab dem Tag nach der Veröffentlichung dieser Bekanntmachung.
Organisation, die zusätzliche Informationen über das Vergabeverfahren bereitstellt: Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V.
Direktvergabe:
Begründung der Direktvergabe: Der Auftrag kann nur von einem bestimmten Wirtschaftsteilnehmer ausgeführt werden, da aus technischen Gründen kein Wettbewerb vorhanden ist
Sonstige Begründung: s. zusätzliche Informationen
6.1.
Ergebnis, Los-– Kennung: LOT-0000
6.1.2.
Informationen über die Gewinner
Wettbewerbsgewinner:
Offizielle Bezeichnung: FEI Deutschland GmbH
Angebot:
Kennung des Angebots: TEN-0001
Kennung des Loses oder der Gruppe von Losen: LOT-0000
Konzession – Wert:
Vergabe von Unteraufträgen: Nein
Informationen zum Auftrag:
Kennung des Auftrags: CON-0001
8.1.
ORG-7001
Offizielle Bezeichnung: Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V.
Registrierungsnummer: 000
Postanschrift: Hofgartenstraße 8
Stadt: München
Postleitzahl: 80539
Land, Gliederung (NUTS): München, Kreisfreie Stadt (DE212)
Land: Deutschland
Telefon: +49 39128922770
Fax: +49 39128922779
Rollen dieser Organisation:
Beschaffer
Organisation, die zusätzliche Informationen über das Vergabeverfahren bereitstellt
8.1.
ORG-7004
Offizielle Bezeichnung: Regierung von Oberbayern Vergabekammer Südbayern
Registrierungsnummer: t08921762411
Stadt: München
Postleitzahl: 80534
Land, Gliederung (NUTS): München, Kreisfreie Stadt (DE212)
Land: Deutschland
Rollen dieser Organisation:
Überprüfungsstelle
8.1.
ORG-0001
Offizielle Bezeichnung: FEI Deutschland GmbH
Größe des Wirtschaftsteilnehmers: Großunternehmen
Registrierungsnummer: DE813087076
Postanschrift: Im Steingrund 4-6
Stadt: Dreireich
Postleitzahl: 63303
Land, Gliederung (NUTS): Frankfurt am Main, Kreisfreie Stadt (DE712)
Land: Deutschland
Rollen dieser Organisation:
Bieter
Wirtschaftlicher Eigentümer:
Gewinner dieser Lose: LOT-0000
8.1.
ORG-7005
Offizielle Bezeichnung: Datenservice Öffentlicher Einkauf (in Verantwortung des Beschaffungsamts des BMI)
Registrierungsnummer: 0204:994-DOEVD-83
Stadt: Bonn
Postleitzahl: 53119
Land, Gliederung (NUTS): Bonn, Kreisfreie Stadt (DEA22)
Land: Deutschland
Telefon: +49228996100
Rollen dieser Organisation:
TED eSender
Kennung/Fassung der Bekanntmachung: 2c1f16b0-3cbe-414b-af87-16620c325381 - 01
Formulartyp: Vorankündigung – Direktvergabe
Art der Bekanntmachung: Freiwillige Ex-ante-Transparenzbekanntmachung
Unterart der Bekanntmachung: 25
Datum der Übermittlung der Bekanntmachung: 01/07/2025 16:24:44 (UTC+2) Osteuropäische Zeit, Mitteleuropäische Sommerzeit
Sprachen, in denen diese Bekanntmachung offiziell verfügbar ist: Deutsch
Veröffentlichungsnummer der Bekanntmachung: 431724-2025
ABl. S – Nummer der Ausgabe: 125/2025
Datum der Veröffentlichung: 03/07/2025