1. Beschaffer
1.1.
Beschaffer
Offizielle Bezeichnung: Lehrstuhl für WW (Mikro- und Nanostrukturforschung)
Rechtsform des Erwerbers: Von einer regionalen Gebietskörperschaft kontrollierte Einrichtung des öffentlichen Rechts
Tätigkeit des öffentlichen Auftraggebers: Bildung
2. Verfahren
2.1.
Verfahren
Titel: Schnelle Elektronendirektdetektorkamera für 4D-STEM
Beschreibung: Die Ausschreibung folgt der Genehmigung des DFG Großgeräteantrags (INST 90/1482-1 FUGG) vom 5.1.2024 durch die DFG zur Beschaffung einer „Schnellen Elektronendirektdetektorkamera für 4D-STEM“ an der Friedrich-Alexander-Universität (FAU) Erlangen-Nürnberg mit der antragsverantwortlichen Person Prof. Dr. Philipp Pelz. Der Lehrstuhl für Mikro- und Nanostrukturforschung (IMN) ist verantwortlich für den Betrieb des Elektronenmikroskopielabors im Center for Nanoanalysis and Electron Microscopy (CENEM), einer Abteilung des FAU Competence Center Engineering of Advanced Materials. IMN und CENEM beschaffen einen schnelle Elektronendirektdetektorkamera für 4D-STEM zusammen mit einer Synchronisierungsloesung fuer synchronisierte Aufnahmen von 4D-STEM Daten für weiterführende Methodenentwicklungen im rasant fortschreitenden 4D-STEM-Methodenbereich. Das Gerät integriert methodische Entwicklungen des IMN und wird als einzigartige Kamera an der FAU die Forschungsmöglichkeiten in den folgenden zentralen Anwendungsbereichen maßgeblich erweitern: (i) strahlsensitive Materialien, (ii) niedrigdimensionale Materialien/2D-Materialien, (iii) in situ Mikroskopie sowie (iv) korrelative und beschleunigte Materialanalysen. Um dies zu ermöglichen, benötigt die Elektronendirektdetektorkamera eine hohe Bildrate, extrem hohe Elektronenzählrate pro Pixel, exzellente detektive Quanteneffizienz für die Messung von strahlensensitiven Proben und extrem hohe Bildrate bei verringerter Auflösung für die Durchführung von 3D Ptychographie-Experimenten bei atomarer Auflösung. Hinweis: Die Ausschreibung umfasst insgesamt 4 Lose. Bei dieser Ausschreibung handelt es sich um Los 1. Gemäß §3 Abs. 9 VgV werden die Lose 2 (Datenverarbeitungs- und -speicherworkstation) und 3 (4D-STEM Scangenerator) nach nationalem Vergaberecht vergeben. Die Ausschreibung für Los 4 (Präzessions-Elektronenbeugungssystem) kann aufgrund der zwingend notwendigen Kompatibilität zur hiermit ausgeschriebenen Elektronendirektdetektorkamera erst nach erfolgtem Zuschlag für Los 1 erfolgen. [english] (ohne Gewaehr) The tender follows the approval of the DFG large-scale equipment application (INST 90/1482-1 FUGG) dated January 5, 2024 by the DFG for the procurement of a “Fast Direct Electron Detector Camera for 4D-STEM” at the Friedrich-Alexander University (FAU) Erlangen-Nuremberg with the Person responsible for the application, Prof. Dr. Philipp Pelz. The Chair of Micro and Nanostructure Research (IMN) is responsible for operating the electron microscopy laboratory in the Center for Nanoanalysis and Electron Microscopy (CENEM), a department of the FAU Competence Center Engineering of Advanced Materials. IMN and CENEM are procuring a fast electron direct detector camera for 4D-STEM together with a synchronization solution for synchronized acquisition of 4D-STEM data for further method developments in the rapidly advancing 4D-STEM method area. The device integrates methodological developments from IMN and, as a unique camera at FAU, will significantly expand research opportunities in the following key application areas: (i) radiation-sensitive materials, (ii) low dimensional materials/2D materials, (iii) in situ microscopy as well (iv) correlative and accelerated material analyses. To make this possible, the electron direct detector camera requires a high frame rate, extremely high electron count rate per pixel, excellent detective quantum efficiency for measuring radiation-sensitive samples, and extremely high frame rate at reduced resolution for performing 3D ptychography experiments at atomic resolution. Note: The tender comprises a total of 4 lots. This invitation to tender is for lot 1. In accordance with Section 3 (9) VgV, lots 2 (data processing and storage workstation) and 3 (4D-STEM scan generator) will be awarded in accordance with national procurement law. The tender for lot 4 (precession electron diffraction system) can only be issued after the contract for lot 1 has bee
Kennung des Verfahrens: 5948ae1e-d31a-4d4b-bd18-cc3dd27d4da7
Interne Kennung: 2024000022
Verfahrensart: Offenes Verfahren
Das Verfahren wird beschleunigt: nein
2.1.1.
Zweck
Art des Auftrags: Lieferungen
Haupteinstufung (cpv): 38651600 Digitalkameras
2.1.2.
Erfüllungsort
Stadt: Erlangen
Postleitzahl: 91058
Land, Gliederung (NUTS): Erlangen, Kreisfreie Stadt (DE252)
Land: Deutschland
2.1.4.
Allgemeine Informationen
Rechtsgrundlage:
Richtlinie 2014/24/EU
vgv -
5. Los
5.1.
Los: LOT-0001
Titel: Schnelle Elektronendirektdetektorkamera für 4D-STEM
Beschreibung: Die Ausschreibung folgt der Genehmigung des DFG Großgeräteantrags (INST 90/1482-1 FUGG) vom 5.1.2024 durch die DFG zur Beschaffung einer „Schnellen Elektronendirektdetektorkamera für 4D-STEM“ an der Friedrich-Alexander-Universität (FAU) Erlangen-Nürnberg mit der antragsverantwortlichen Person Prof. Dr. Philipp Pelz. Der Lehrstuhl für Mikro- und Nanostrukturforschung (IMN) ist verantwortlich für den Betrieb des Elektronenmikroskopielabors im Center for Nanoanalysis and Electron Microscopy (CENEM), einer Abteilung des FAU Competence Center Engineering of Advanced Materials. IMN und CENEM beschaffen einen schnelle Elektronendirektdetektorkamera für 4D-STEM zusammen mit einer Synchronisierungsloesung fuer synchronisierte Aufnahmen von 4D-STEM Daten für weiterführende Methodenentwicklungen im rasant fortschreitenden 4D-STEM-Methodenbereich. Das Gerät integriert methodische Entwicklungen des IMN und wird als einzigartige Kamera an der FAU die Forschungsmöglichkeiten in den folgenden zentralen Anwendungsbereichen maßgeblich erweitern: (i) strahlsensitive Materialien, (ii) niedrigdimensionale Materialien/2D-Materialien, (iii) in situ Mikroskopie sowie (iv) korrelative und beschleunigte Materialanalysen. Um dies zu ermöglichen, benötigt die Elektronendirektdetektorkamera eine hohe Bildrate, extrem hohe Elektronenzählrate pro Pixel, exzellente detektive Quanteneffizienz für die Messung von strahlensensitiven Proben und extrem hohe Bildrate bei verringerter Auflösung für die Durchführung von 3D Ptychographie-Experimenten bei atomarer Auflösung. Hinweis: Die Ausschreibung umfasst insgesamt 4 Lose. Bei dieser Ausschreibung handelt es sich um Los 1. Gemäß §3 Abs. 9 VgV werden die Lose 2 (Datenverarbeitungs- und -speicherworkstation) und 3 (4D-STEM Scangenerator) nach nationalem Vergaberecht vergeben. Die Ausschreibung für Los 4 (Präzessions-Elektronenbeugungssystem) kann aufgrund der zwingend notwendigen Kompatibilität zur hiermit ausgeschriebenen Elektronendirektdetektorkamera erst nach erfolgtem Zuschlag für Los 1 erfolgen. [english] (ohne Gewaehr) The tender follows the approval of the DFG large-scale equipment application (INST 90/1482-1 FUGG) dated January 5, 2024 by the DFG for the procurement of a “Fast Direct Electron Detector Camera for 4D-STEM” at the Friedrich-Alexander University (FAU) Erlangen-Nuremberg with the Person responsible for the application, Prof. Dr. Philipp Pelz. The Chair of Micro and Nanostructure Research (IMN) is responsible for operating the electron microscopy laboratory in the Center for Nanoanalysis and Electron Microscopy (CENEM), a department of the FAU Competence Center Engineering of Advanced Materials. IMN and CENEM are procuring a fast electron direct detector camera for 4D-STEM together with a synchronization solution for synchronized acquisition of 4D-STEM data for further method developments in the rapidly advancing 4D-STEM method area. The device integrates methodological developments from IMN and, as a unique camera at FAU, will significantly expand research opportunities in the following key application areas: (i) radiation-sensitive materials, (ii) low dimensional materials/2D materials, (iii) in situ microscopy as well (iv) correlative and accelerated material analyses. To make this possible, the electron direct detector camera requires a high frame rate, extremely high electron count rate per pixel, excellent detective quantum efficiency for measuring radiation-sensitive samples, and extremely high frame rate at reduced resolution for performing 3D ptychography experiments at atomic resolution. Note: The tender comprises a total of 4 lots. This invitation to tender is for lot 1. In accordance with Section 3 (9) VgV, lots 2 (data processing and storage workstation) and 3 (4D-STEM scan generator) will be awarded in accordance with national procurement law. The tender for lot 4 (precession electron diffraction system) can only be issued after the contract for lot 1 has bee
Interne Kennung: 33af414a-a7f3-4911-a47c-857b42971c50
5.1.1.
Zweck
Art des Auftrags: Lieferungen
Haupteinstufung (cpv): 38651600 Digitalkameras
5.1.3.
Geschätzte Dauer
Laufzeit: 40 Wochen
5.1.6.
Allgemeine Informationen
Auftragsvergabeprojekt nicht aus EU-Mitteln finanziert
Die Beschaffung fällt unter das Übereinkommen über das öffentliche Beschaffungswesen: ja
5.1.7.
Strategische Auftragsvergabe
Ziel der strategischen Auftragsvergabe: Keine strategische Beschaffung
5.1.10.
Zuschlagskriterien
Kriterium:
Art: Preis
Bezeichnung: Preis
Beschreibung: Preis
Gewichtung (Prozentanteil, genau): 30
Kriterium:
Art: Qualität
Bezeichnung: Leistungsbewertung gemäß Kriterienkatalog
Gewichtung (Prozentanteil, genau): 70
5.1.15.
Techniken
Rahmenvereinbarung: Keine Rahmenvereinbarung
Informationen über das dynamische Beschaffungssystem: Kein dynamisches Beschaffungssystem
Elektronische Auktion: nein
5.1.16.
Weitere Informationen, Schlichtung und Nachprüfung
Schlichtungsstelle: Regierung von Mittelfranken - Vergabekammer Nordbayern
Überprüfungsstelle: Regierung von Mittelfranken - Vergabekammer Nordbayern
Organisation, die zusätzliche Informationen über das Vergabeverfahren bereitstellt: Freistaat Bayern, vertreten durch die FAU Erlangen-Nürnberg
TED eSender: Datenservice Öffentlicher Einkauf (in Verantwortung des Beschaffungsamts des BMI)
6. Ergebnisse
Wert aller in dieser Bekanntmachung vergebenen Verträge: 0,00 EUR
6.1.
Ergebnis, Los-– Kennung: LOT-0001
Status der Preisträgerauswahl: Es wurde mindestens ein Gewinner ermittelt.
6.1.2.
Informationen über die Gewinner
Wettbewerbsgewinner:
Offizielle Bezeichnung: DECTRIS AG
Angebot:
Kennung des Angebots: 2024127501
Kennung des Loses oder der Gruppe von Losen: LOT-0001
Konzession – Wert:
Bei dem Angebot handelt es sich um eine Variante: nein
Informationen zum Auftrag:
Kennung des Auftrags: CON-0001 - DECTRIS AG
Datum der Auswahl des Gewinners: 03/09/2024
Datum des Vertragsabschlusses: 04/09/2024
Der Auftrag wird als Teil einer Rahmenvereinbarung vergeben: nein
6.1.4.
Statistische Informationen:
Eingegangene Angebote oder Teilnahmeanträge:
Art der eingegangenen Einreichungen: Angebote
Anzahl der eingegangenen Angebote oder Teilnahmeanträge: 1
Bandbreite der Angebote:
Wert des niedrigsten zulässigen Angebots: 0,00 EUR
Wert des höchsten zulässigen Angebots: 0,00 EUR
8. Organisationen
8.1.
ORG-0001
Offizielle Bezeichnung: Lehrstuhl für WW (Mikro- und Nanostrukturforschung)
Registrierungsnummer: ce88896f-977f-486e-a876-f0810e06c381
Postanschrift: Cauerstraße 3
Stadt: Erlangen
Postleitzahl: 91058
Land, Gliederung (NUTS): Erlangen, Kreisfreie Stadt (DE252)
Land: Deutschland
Telefon: +49 91318570404
Rollen dieser Organisation:
Beschaffer
8.1.
ORG-0002
Offizielle Bezeichnung: Regierung von Mittelfranken - Vergabekammer Nordbayern
Registrierungsnummer: c0f12e87-76f1-4468-90ef-036d199560d7
Postanschrift: Promenade 27
Stadt: Ansbach
Postleitzahl: 91522
Land, Gliederung (NUTS): Ansbach, Kreisfreie Stadt (DE251)
Land: Deutschland
Telefon: +49 981531277
Fax: +49 981531837
Rollen dieser Organisation:
Überprüfungsstelle
8.1.
ORG-0003
Offizielle Bezeichnung: Freistaat Bayern, vertreten durch die FAU Erlangen-Nürnberg
Registrierungsnummer: 52a80168-dc3b-4bf6-814c-6220e797e56e
Abteilung: Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Mikro- und Nanostrukturforschung)
Postanschrift: Cauerstraße 3
Stadt: Erlangen
Postleitzahl: 91058
Land, Gliederung (NUTS): Erlangen, Kreisfreie Stadt (DE252)
Land: Deutschland
Kontaktperson: Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Mikro- und Nanostrukturforschung)
Telefon: +49 91318570400
Rollen dieser Organisation:
Organisation, die zusätzliche Informationen über das Vergabeverfahren bereitstellt
8.1.
ORG-0004
Offizielle Bezeichnung: Regierung von Mittelfranken - Vergabekammer Nordbayern
Registrierungsnummer: c52f4ae0-a55b-4cbb-a487-1dec3fd7ce32
Postanschrift: Promenade 27
Stadt: Ansbach
Postleitzahl: 91522
Land, Gliederung (NUTS): Ansbach, Kreisfreie Stadt (DE251)
Land: Deutschland
Telefon: +49 981531277
Fax: +49 981531837
Rollen dieser Organisation:
Schlichtungsstelle
8.1.
ORG-0005
Offizielle Bezeichnung: DECTRIS AG
Größe des Wirtschaftsteilnehmers: Mittleres Unternehmen
Registrierungsnummer: 668e2dbd-de1a-4c02-87d0-5bed197e09ee
Postanschrift: Taefernweg 1
Stadt: Baden-Daettwil
Postleitzahl: 5405
Land, Gliederung (NUTS): Aargau (CH033)
Land: Deutschland
Telefon: +41565002100
Fax: +41565002101
Rollen dieser Organisation:
Bieter
Gewinner dieser Lose: LOT-0001
8.1.
ORG-0006
Offizielle Bezeichnung: Datenservice Öffentlicher Einkauf (in Verantwortung des Beschaffungsamts des BMI)
Registrierungsnummer: 0204:994-DOEVD-83
Stadt: Bonn
Postleitzahl: 53119
Land, Gliederung (NUTS): Bonn, Kreisfreie Stadt (DEA22)
Land: Deutschland
Telefon: +49228996100
Rollen dieser Organisation:
TED eSender
11. Informationen zur Bekanntmachung
11.1.
Informationen zur Bekanntmachung
Kennung/Fassung der Bekanntmachung: a3692919-bc97-4787-826d-8d0f61d4d658 - 01
Formulartyp: Ergebnis
Art der Bekanntmachung: Bekanntmachung vergebener Aufträge oder Zuschlagsbekanntmachung – Standardregelung
Unterart der Bekanntmachung: 29
Datum der Übermittlung der Bekanntmachung: 05/09/2024 08:55:44 (UTC+2)
Sprachen, in denen diese Bekanntmachung offiziell verfügbar ist: Deutsch
11.2.
Informationen zur Veröffentlichung
Veröffentlichungsnummer der Bekanntmachung: 535274-2024
ABl. S – Nummer der Ausgabe: 174/2024
Datum der Veröffentlichung: 06/09/2024