Kombinierter Röntgen-Photoelektronen-Spektrometer und Raman-Spektrometer
Bekanntmachung vergebener Aufträge
Ergebnisse des Vergabeverfahrens
Lieferauftrag
Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: München
NUTS-Code: DE212 München, Kreisfreie Stadt
Postleitzahl: 80539
Land: Deutschland
Kontaktstelle(n):[gelöscht]
E-Mail: [gelöscht]
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: www.physik.uni-muenchen.de
Abschnitt II: Gegenstand
Kombinierter Röntgen-Photoelektronen-Spektrometer und Raman-Spektrometer
Es wird ein Spektrometer benötigt, dass Herausragende Leistungen in der Standard- und fortgeschrittenen Oberflächenanalyse bietet und Informationen über die chemische Bindung von Pulverproben, nanostrukturierten und dünnen Filmmaterialien einschließlich Halbleitern, Metalllegierungen, Keramiken, Gläsern, Polymeren und anderen Isolatoren liefern kann.
Es wird ein Spektrometer benötigt, dass Herausragende Leistungen in der Standard- und fortgeschrittenen Oberflächenanalyse bietet und Informationen über die chemische Bindung von Pulverproben, nanostrukturierten und dünnen Filmmaterialien einschließlich Halbleitern, Metalllegierungen, Keramiken, Gläsern, Polymeren und anderen Isolatoren liefern kann.
Um chemische und optische Informationen über denselben Bereich der Probe zu erhalten (zur Untersuchung des chemischen Zustands und der phononisch-optischen Reaktion der Grenzflächen von Hybridmaterialien), benöti-gen wir ein Raman-XPS-System oder ein gleichwertiges System.
Das System sollte auch ein vergrößertes optisches Bild der Probe in Echtzeit liefern, das entlang derselben Achse wie der Elektronenanalysator betrachtet wird, um die Grenzflächenbereiche der Proben mit beiden Techniken oder gleichwertigen Verfahren genau zu lokalisieren.
Für die Ladungsneutralität von isolierenden Proben benötigen wir ein Ladungsausgleichssystem, das zuverlässige XPS-Daten von Proben wie Bornitrid (BN) oder Grenzflächen mit Isolator/Halbleiter-, Isolator/Metall- und Isola-tor/Molekül-Zusammensetzungen ermöglicht. Dazu benötigen wir ein duales Ladungskompensationssystem, das auf einer Kombination aus niederenergetischen Ionen und niederenergetischen Elektronen basiert, die aus einer einzigen Quelle erzeugt werden, oder ein gleichwertiges System.
Wir müssen in der Lage sein, eine zuverlässige Abbildung der Probe mit einer Auflösung von 10 μm oder besser und mit ausgezeichneten Ladungsneutralitätseigenschaften durchzuführen. Daher sollte der Monochromator eine Elektronenunterdrückungsvorrichtung enthalten, um die Anzahl der unerwünschten hochenergetischen Elektronen, die die Probenanalyseposition erreichen, zu reduzieren, oder etwas Gleichwertiges.
Ein Raman-Spektrometer ist in das UHV-System des Geräts integriert, so dass die Analysebereiche für XPS und Raman-Spektroskopie räumlich zusammenfallen. Die Messungen werden in schneller zeitlicher Abfolge durchge-führt. Das integrierte System entspricht der Lasersicherheitsklasse 1. Die gleichzeitige Erfassung von XPS- und Raman-Daten an derselben Stelle einer Probe erfolgt, ohne dass die Probe bewegt werden muss. Die Experimente können sowohl von der Raman- als auch von der XPS-Software gesteuert werden, und die gemeinsame Verarbei-tung von Raman- und XPS-Daten ist möglich. Das Raman-Spektrometer ermöglicht eine Selbstkalibrierung und bietet die Möglichkeit, die Laserwellenlängen [optional erhältlich] schnell zu wechseln, indem ein modulares Sys-tem für die Laserstromversorgung, das Gitter und den Sperrfilter verwendet wird.
Patent: htps://worldwide.espacenet.com/patent/search?q=pn%3DEP3423813B1
- Der Monochromator enthält eine Elektronenunterdrückungsvorrichtung, um die Anzahl der unerwünschten hochenergetischen Elektronen zu reduzieren, die die Probenanalyseposition erreichen.
Patent: htps://worldwide.espacenet.com/patent/search?q=pn%3DUS7875857B2
- Das System bietet einen doppelten Ladungsausgleich, der auf einer Kombination von Ionen niedriger Energie und Elektronen niedriger Energie basiert, die von einer einzigen Quelle erzeugt werden.
Patent: htps://worldwide.espacenet.com/patent/search?q=pn%3DUS7067821B2
- Das System ist mit einem hochentwickelten Kamerasystem ausgestattet, bei dem das patentierte Spiegelreflexsys-tem dem Benutzer ein vergrößertes optisches Bild der Probe in Echtzeit liefert, das in der gleichen Achse wie der Elektronenanalysator betrachtet wird.
Patent: htps://worldwide.espacenet.com/patent/search?q=pn%3DUS7714285B2
Abschnitt IV: Verfahren
- Die Bauleistungen/Lieferungen/Dienstleistungen können aus folgenden Gründen nur von einem bestimmten Wirtschaftsteilnehmer ausgeführt werden:
- aufgrund des Schutzes von ausschließlichen Rechten einschließlich Rechten des geistigen Eigentums
Das Oberflächenanalysesystem Thermo Scientific™ Nexsa™ G2 verfügt unter anderem über die folgenden Allein-stellungsmerkmale, die durch erteilte Patente geschützt sind, die nicht an Dritte lizenziert wurden:
- Ein Raman-Spektrometer ist in das UHV-System des Geräts integriert, so dass die Analysebereiche für XPS und Raman-Spektroskopie räumlich zusammenfallen. Die Messungen werden in schneller zeitlicher Abfolge durchge-führt. Das integrierte System entspricht der Lasersicherheitsklasse 1. Die gleichzeitige Erfassung von XPS- und Raman-Daten an derselben Stelle einer Probe erfolgt, ohne dass die Probe bewegt werden muss. Die Experimente können sowohl von der Raman- als auch von der XPS-Software gesteuert werden, und die gemeinsame Verarbei-tung von Raman- und XPS-Daten ist möglich. Das Raman-Spektrometer ermöglicht eine Selbstkalibrierung und bietet die Möglichkeit, die Laserwellenlängen [optional erhältlich] schnell zu wechseln, indem ein modulares Sys-tem für die Laserstromversorgung, das Gitter und den Sperrfilter verwendet wird.
Patent: htps://worldwide.espacenet.com/patent/search?q=pn%3DEP3423813B1
- Der Monochromator enthält eine Elektronenunterdrückungsvorrichtung, um die Anzahl der unerwünschten hochenergetischen Elektronen zu reduzieren, die die Probenanalyseposition erreichen.
Patent: htps://worldwide.espacenet.com/patent/search?q=pn%3DUS7875857B2
- Das System bietet einen doppelten Ladungsausgleich, der auf einer Kombination von Ionen niedriger Energie und Elektronen niedriger Energie basiert, die von einer einzigen Quelle erzeugt werden.
Patent: htps://worldwide.espacenet.com/patent/search?q=pn%3DUS7067821B2
- Das System ist mit einem hochentwickelten Kamerasystem ausgestattet, bei dem das patentierte Spiegelreflexsys-tem dem Benutzer ein vergrößertes optisches Bild der Probe in Echtzeit liefert, das in der gleichen Achse wie der Elektronenanalysator betrachtet wird.
Patent: htps://worldwide.espacenet.com/patent/search?q=pn%3DUS7714285B2
Abschnitt V: Auftragsvergabe
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Dreieich
NUTS-Code: DE71C Offenbach, Landkreis
Land: Deutschland
Abschnitt VI: Weitere Angaben
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: München
Postleitzahl: 80538
Land: Deutschland