FIB-SEM-Nanocharakterisierungsplattform Referenznummer der Bekanntmachung: 2.1.1-L1240/23
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2023-09-19
Nordrhein-Westfalen
Lippstadt
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Lippstadt
2023-09-19
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Lippstadt
CPV: 38511100-1
Rasterelektronenmikroskope