Cryo–Plasma FIB/SEM/SIMS für Probenherstellung für TEM/SEM mit in-situ Monitoring des Präparationsprozesses Referenznummer der Bekanntmachung: keine
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2022-12-05
Nordrhein-Westfalen
Jülich
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Jülich
2022-12-05
Nordrhein-Westfalen
Jülich
CPV: 38511100-1
Rasterelektronenmikroskope