Dual-Beam-System Helios 5 PFIB CXe Referenznummer der Bekanntmachung: keine

Bekanntmachung vergebener Aufträge

Ergebnisse des Vergabeverfahrens

Lieferauftrag

Rechtsgrundlage:
Richtlinie 2014/24/EU

Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber

I.1)Name und Adressen
Offizielle Bezeichnung:[gelöscht]
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Jülich
NUTS-Code: DE Deutschland
Postleitzahl: 52425
Land: Deutschland
E-Mail: [gelöscht]
Telefon: [gelöscht]
Fax: [gelöscht]
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: www.fz-Juelich.de
I.2)Informationen zur gemeinsamen Beschaffung
Der Auftrag wird von einer zentralen Beschaffungsstelle vergeben
I.4)Art des öffentlichen Auftraggebers
Einrichtung des öffentlichen Rechts
I.5)Haupttätigkeit(en)
Andere Tätigkeit: Forschung

Abschnitt II: Gegenstand

II.1)Umfang der Beschaffung
II.1.1)Bezeichnung des Auftrags:

Dual-Beam-System Helios 5 PFIB CXe

Referenznummer der Bekanntmachung: keine
II.1.2)CPV-Code Hauptteil
38511100 Rasterelektronenmikroskope
II.1.3)Art des Auftrags
Lieferauftrag
II.1.4)Kurze Beschreibung:

Dual-Beam-System Helios 5 PFIB CXe

II.1.6)Angaben zu den Losen
Aufteilung des Auftrags in Lose: nein
II.1.7)Gesamtwert der Beschaffung (ohne MwSt.)
Wert ohne MwSt.: 1.00 EUR
II.2)Beschreibung
II.2.3)Erfüllungsort
NUTS-Code: CH Schweiz / Suisse / Svizzera
Hauptort der Ausführung:

Forschungszentrum Jülich

II.2.4)Beschreibung der Beschaffung:

Dual-Beam-System Helios 5 PFIB CXe

II.2.5)Zuschlagskriterien
Qualitätskriterium - Name: Die für die zukünftigen Arbeiten des IEK-2 im Rahmen der Energieforschung wird ein Dual-Beam Mikroskops mit Xe-Plasma-Focused-Ion-Beam (FIB) benötigt. Folgende Eigenschaften sind unbedingte Voraussetzung. Anlagen, die auch nur eines der Kriterien nicht erfüllen, sind zur Umsetzung des Forschungsprogramms nicht geeignet. - Höchstauflösende Elektronenoptik, besonders bei niedrigen Beschleunigungsspannungen von 1 kV (0.6 nm @ 15 kV, 0.7 @ 1 kV) - Sanfte wie gleichwohl schnell schneidende Xe-Ionenoptik (maximaler Strahlstrom > 2 Mikroampere, maximale Beschleunigungsspannung 30 kV, minimale Beschleunigungsspannung 0.5 kV) - Ein voll in die Maschinensoftware integrierter Mikromanipulator, der nicht nur in x, y und z-Richtung bewegbar ist, sondern dessen Spitze rotieren kann. - Ein Mehrquellen Gasinjektionssystem mit nur einem Injektor, das mindestens 2 Precursorgase vor der Injektion mischbar macht. - Anschlussfähigkeit an die bestehende Elektronenmikroskopie-Landschaft im ERC (gemeinsame N / Gewichtung: 100
Preis - Gewichtung: 0
II.2.11)Angaben zu Optionen
Optionen: nein
II.2.13)Angaben zu Mitteln der Europäischen Union
Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm, das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein
II.2.14)Zusätzliche Angaben

Abschnitt IV: Verfahren

IV.1)Beschreibung
IV.1.1)Verfahrensart
Auftragsvergabe ohne vorherige Bekanntmachung eines Aufrufs zum Wettbewerb im Amtsblatt der Europäischen Union (für die unten aufgeführten Fälle)
  • Die betreffenden Erzeugnisse werden gemäß den in der Richtlinie genannten Bedingungen ausschließlich für Forschungs-, Versuchs-, Untersuchungs- oder Entwicklungszwecke hergestellt
Erläuterung:

Folgende Eigenschaften sind unbedingte Voraussetzung. Anlagen, die auch nur eines der Kriterien nicht erfüllen, sind zur Umsetzung des Forschungsprogramms nicht geeignet.

- Höchstauflösende Elektronenoptik, besonders bei niedrigen Beschleunigungsspannungen von 1 kV (0.6 nm @ 15 kV, 0.7 @ 1 kV)

- Sanfte wie gleichwohl schnell schneidende Xe-Ionenoptik (maximaler Strahlstrom > 2 Mikroampere, maximale Beschleunigungsspannung 30 kV, minimale Beschleunigungsspannung 0.5 kV)

- Ein voll in die Maschinensoftware integrierter Mikromanipulator, der nicht nur in x, y und z-Richtung bewegbar ist, sondern dessen Spitze rotieren kann.

- Ein Mehrquellen Gasinjektionssystem mit nur einem Injektor, das mindestens 2 Precursorgase vor der Injektion mischbar macht.

- Anschlussfähigkeit an die bestehende Elektronenmikroskopie-Landschaft im ERC (gemeinsame Nutzung von Infrastruktur sowie Vorrichtungen für die Herstellung qualitativ hochwertiger TEM-Lamellen für in-situ Experimente bzw. MEMS-Chip-Anwendungen sowie atomar auflösender TEM-Messungen luftempfindlicher Proben).

- Erweiterbarkeit um den sogenannten Mikroreaktor der Fa. Thermo Fisher Science

- Volle Automatisierbarkeit der Herstellung von TEM-Lamellen und 3D-FIB-TomographieTomographie

Dual-Beam-Mikroskope werden von den Firmen Hitachi, Carl-Zeiss-Microscopy, Jeol, Tescan und Thermo Fisher Scientific angeboten. Die Firmen Hitachi, Carl-Zeiss und Jeol bieten solche Geräte nur mit Ga-Ionenoptik an. Nur Tescan und Thermo Fischer Scientific bieten die entsprechenden Geräte mit Xe-Plasma-Ionenoptik an. Das Gerät Helios 5 PFIB der Fa. Thermo Fischer Scientific erfüllt die essentiellen, dargelegten Anforderungen, während dem Gerät AMBER X UHR PFIP der Fa. Tescan wichtige Aspekte fehlen. Die erforderliche Abbildungsleistung der Elektronenoptik erreicht die Fa. Thermo Fischer durch den Einsatz eines einzigartigen Monochromators in der Elektronenquelle. Das Gerät der Fa. Tescan liegt hier deutlich niedriger (1.3 nm @ 1 kV, 0.9 nm @ 15 kV). Nur die Ionenoptik der Fa. Thermo Fisher erfüllt die Bedingung sanft bei 0.5 kV Beschleunigungsspannung arbeiten zu können. Die minimale Beschleunigungsspannung des Tescan-Geräts liegt hier mit 3 kV deutlich höher. Nur das Gasinjektionssystem der Fa. Thermo Fisher erlaubt es, die Precursorgase vor der Injektion zu mischen, um die Härte der abzuscheidenden Schutzschichten an die Probenmaterialien anzupassen. Der Mikromanipulator der Fa. Thermo Fisher ist vollständig in die Maschinensoftware integriert, beweglich in den 3 Raumrichtungen und drehbar. Der in die Maschinensoftware integrierte Manipulator des Tescan-Geräts ist nur in den 3 Raumrichtungen bewegbar. Für Manipulatoren mit drehbarer Spitze setzt Tescan auf Fremdhersteller, die dann aber nicht in die Maschinensoftware eingebunden sind. Die geforderte Kompatibilität mit der Infrastruktur des Ernst Ruska Zentrums ist nur mit dem Helios 5 von Thermo Fisher zu realisieren. Der für zukünftige Projekte benötigte Mikroreaktor ist in seiner Form und Funktion einzigartig. Er ermöglicht die Beobachtung und Analyse von Reaktionen unter Einsatzbedingungen. Temperatur (bis 1200°C) und Atmosphäre können per Software gesteuert werden. Das Reaktorvolumen ist dabei so klein gehalten, dass kritische Kontaminationen des Mikroskops ausbleiben. Die Nachrüstung setzt ein entsprechendes Gerät der Fa. Thermo Fischer voraus. Das von der Fa. Thermo Fischer angebotene Gerät zeichnet sich zusätzlich durch eine vollautomatische Justage von REM- und FIB-Säule aus. Aus den genannten Gründen ist für uns das Dual-Beam Gerät Helios 5 PFIB CXe der Fa. Thermo Fischer Scientific alternativlos.

IV.1.3)Angaben zur Rahmenvereinbarung oder zum dynamischen Beschaffungssystem
IV.1.8)Angaben zum Beschaffungsübereinkommen (GPA)
Der Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen: nein
IV.2)Verwaltungsangaben
IV.2.8)Angaben zur Beendigung des dynamischen Beschaffungssystems
IV.2.9)Angaben zur Beendigung des Aufrufs zum Wettbewerb in Form einer Vorinformation

Abschnitt V: Auftragsvergabe

Auftrags-Nr.: W10-42315178
Bezeichnung des Auftrags:

Dual-Beam-System Helios 5 PFIB CXe

Ein Auftrag/Los wurde vergeben: ja
V.2)Auftragsvergabe
V.2.1)Tag des Vertragsabschlusses:
02/11/2022
V.2.2)Angaben zu den Angeboten
Anzahl der eingegangenen Angebote: 1
Der Auftrag wurde an einen Zusammenschluss aus Wirtschaftsteilnehmern vergeben: nein
V.2.3)Name und Anschrift des Wirtschaftsteilnehmers, zu dessen Gunsten der Zuschlag erteilt wurde
Offizielle Bezeichnung:[gelöscht]
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Dreieich
NUTS-Code: DE Deutschland
Postleitzahl: 63303
Land: Deutschland
Der Auftragnehmer ist ein KMU: nein
V.2.4)Angaben zum Wert des Auftrags/Loses (ohne MwSt.)
Ursprünglich veranschlagter Gesamtwert des Auftrags/des Loses: 1.00 EUR
Gesamtwert des Auftrags/Loses: 1.00 EUR
V.2.5)Angaben zur Vergabe von Unteraufträgen

Abschnitt VI: Weitere Angaben

VI.3)Zusätzliche Angaben:
VI.4)Rechtsbehelfsverfahren/Nachprüfungsverfahren
VI.4.1)Zuständige Stelle für Rechtsbehelfs-/Nachprüfungsverfahren
Offizielle Bezeichnung:[gelöscht]
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Bonn
Postleitzahl: 53123
Land: Deutschland
VI.5)Tag der Absendung dieser Bekanntmachung:
08/11/2022

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