Manual Cryogenic Probing Solution for DC Test Referenznummer der Bekanntmachung: keine
Bekanntmachung vergebener Aufträge
Ergebnisse des Vergabeverfahrens
Lieferauftrag
Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
Postanschrift: Leo-Brandt-Strasse
Ort: Jülich
NUTS-Code: DE DEUTSCHLAND
Postleitzahl: 52425
Land: Deutschland
E-Mail: [removed]
Telefon: [removed]
Fax: [removed]
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: www.fz-Juelich.de
Abschnitt II: Gegenstand
Manual Cryogenic Probing Solution for DC Test
Manual Cryogenic Probing Solution for DC Test.
Forschungszentrum Jülich
Manual Cryogenic Probing Solution for DC Test.
Abschnitt IV: Verfahren
- Die betreffenden Erzeugnisse werden gemäß den in der Richtlinie genannten Bedingungen ausschließlich für Forschungs-, Versuchs-, Untersuchungs- oder Entwicklungszwecke hergestellt
- Dringende Gründe im Zusammenhang mit für den öffentlichen Auftraggeber unvorhersehbaren Ereignissen, die den strengen Bedingungen der Richtlinie genügen
Im PGI-9 werden Bauelemente auf der Basis von vielen neuen Materialien, meist in Form dünner Schichten, wie zweidimensionale (2D) Materialien, topologische Isolatoren, Oxidmaterialien sowie Halbleiter- und Hetero-Strukturen, für die Anwendung in Quantencomputern erforscht. Für die elektrische Charakterisierung dieser Bauelemente wird eine spezielle kryogene Messstation benötigt, um den elektronischen Transport und die elektronischen Eigenschaften der Bauelemente in einem weiten Temperaturbereich (10K-500 K) zu untersuchen. Ergebnisse von Tieftemperaturmessungen von Strom-Spannung (I-V), Kapazität-Spannung (C-V) liefern wichtige Daten für die Charakterisierung und das Verständnis von neuen Materialien und Bauelementen.
Operationsmodi: Die Messstation muss einen Temperaturbereich von 10 K bis 500 K abdecken, um die Proben unter verschiedenen Operationsbedingungen zu testen.
— Zudem ist ein flexibler Probenhalter notwendig, der Proben aus verschiedenen Materialien, Größen (10 – 100 mm) und Formen (dreieckig oder viereckig) aufnehmen kann.
— Die Kontaktspitzen müssen auch bei T = 10 K neu positionierbar sein. Damit schnell und ohne Unterbrechung des Messzyklus, bei konstanter Temperatur und Druck die zu vermessende Probe gewechselt werden kann. Dies ist sehr wichtig, um Bauelemente mit optimierter Struktur auf dem Chip zu finden. Die Statistiken der Bauelementmessungen verrät viel über unseren Prozess und die Eigenschaften des Bauelements. Obwohl es am FZJ und an den RWTH-Instituten einige Tieftemperaturstationen für sehr tiefe Temperaturen (<4K) für komplementäre Messungen gibt, sind diese in der Regel auf Proben mit gebondeten Drähte auf einem Bauelement begrenzt und können nur ein Bauelement zur gleichen Zeit vermessen. Derzeit erfüllt nur der Hersteller FormFactor die Anforderungskriterien für die zu beschaffende kryogenische Messstation.
Abschnitt V: Auftragsvergabe
Manual Cryogenic Probing Solution for DC Test
Ort: Thiendorf
NUTS-Code: DE DEUTSCHLAND
Postleitzahl: 01561
Land: Deutschland
Abschnitt VI: Weitere Angaben
Postanschrift: Villemombler Straße 76
Ort: Bonn
Postleitzahl: 53123
Land: Deutschland