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1. Beschaffer
1.1.
Beschaffer
Offizielle Bezeichnung: Forschungszentrum Jülich GmbH
Rechtsform des Erwerbers: Von einer zentralen Regierungsbehörde kontrolliertes öffentliches Unternehmen
Tätigkeit des öffentlichen Auftraggebers: Bildung
2. Verfahren
2.1.
Verfahren
Titel: W60-42402159 TESCAN AMBER 2 GMU UHR FIB-SEM und Zubehör für das IFN-1.
Beschreibung: TESCAN AMBER 2 GMU UHR FIB-SEM und Zubehör für das IFN-1.
Kennung des Verfahrens: eeb80b90-2bf3-4d84-8d73-aa153eeba766
Interne Kennung: W60-42402159
Verfahrensart: Verhandlungsverfahren ohne Aufruf zum Wettbewerb
2.1.1.
Zweck
Art des Auftrags: Lieferleistungen
Haupteinstufung (cpv): 38000000 Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
2.1.2.
Erfüllungsort
Postanschrift: Leo-Brandt-Straße
Stadt: Jülich
Postleitzahl: 52428
Land, Gliederung (NUTS): Düren (DEA26)
Land: Deutschland
2.1.3.
Wert
Geschätzter Wert ohne MwSt.: 216 000,00 EUR
2.1.4.
Allgemeine Informationen
Zusätzliche Informationen: Gemäß § 39, Abs. 6, Nr. 3 VgV zählt der tatsächliche Preis zu den Informationen, die den geschäftlichen Interessen des Unternehmens schaden könnten. Daher wird in dieser Bekanntmachung lediglich der Schwellenwert angegeben.
Rechtsgrundlage:
Richtlinie 2014/24/EU
vgv -
5. Los
5.1.
Los: LOT-0000
Titel: W60-42402159 TESCAN AMBER 2 GMH UHR FIB-SEM und Zubehör für das IFN-1.
Beschreibung: TESCAN AMBER 2 GMH UHR FIB-SEM und Zubehör für das IFN-1.
Interne Kennung: W60-42402159
5.1.1.
Zweck
Art des Auftrags: Lieferleistungen
Haupteinstufung (cpv): 38511100 Rasterelektronenmikroskope
5.1.2.
Erfüllungsort
Postanschrift: Leo-Brandt-Straße
Stadt: Jülich
Postleitzahl: 52428
Land, Gliederung (NUTS): Düren (DEA26)
Land: Deutschland
5.1.5.
Wert
Geschätzter Wert ohne MwSt.: 216 000,00 EUR
5.1.6.
Allgemeine Informationen
Auftragsvergabeprojekt nicht aus EU-Mitteln finanziert
Die Beschaffung fällt unter das Übereinkommen über das öffentliche Beschaffungswesen: ja
Zusätzliche Informationen: Gemäß § 39, Abs. 6, Nr. 3 VgV zählt der tatsächliche Preis zu den Informationen, die den geschäftlichen Interessen des Unternehmens schaden könnten. Daher wird in dieser Bekanntmachung lediglich der Schwellenwert angegeben.
5.1.7.
Strategische Auftragsvergabe
Ziel der strategischen Auftragsvergabe: Keine strategische Beschaffung
5.1.10.
Zuschlagskriterien
Kriterium:
Art: Qualität
Beschreibung: Beschreibung siehe oben.
Beschreibung der anzuwendenden Methode, wenn die Gewichtung nicht durch Kriterien ausgedrückt werden kann: Siehe technische Spezifikation.
5.1.15.
Techniken
Rahmenvereinbarung:
Keine Rahmenvereinbarung
Informationen über das dynamische Beschaffungssystem:
Kein dynamisches Beschaffungssystem
5.1.16.
Weitere Informationen, Schlichtung und Nachprüfung
Überprüfungsstelle: Vergabekammer des Bundes
Informationen über die Überprüfungsfristen: Gemäß VgV.
Organisation, die zusätzliche Informationen über das Vergabeverfahren bereitstellt: Forschungszentrum Jülich GmbH
Organisation, die einen Offline-Zugang zu den Vergabeunterlagen bereitstellt: Forschungszentrum Jülich GmbH
Organisation, die weitere Informationen für die Nachprüfungsverfahren bereitstellt: Forschungszentrum Jülich GmbH
Organisation, aus deren Mitteln der Auftrag bezahlt wird: Forschungszentrum Jülich GmbH
Organisation, die die Zahlung ausführt: Forschungszentrum Jülich GmbH
Organisation, die den Auftrag unterzeichnet: Forschungszentrum Jülich GmbH
6. Ergebnisse
Wert aller in dieser Bekanntmachung vergebenen Verträge: 216 000,00 EUR
Direktvergabe:
Begründung der Direktvergabe: Der Auftrag kann nur von einem bestimmten Wirtschaftsteilnehmer ausgeführt werden, da aus technischen Gründen kein Wettbewerb vorhanden ist
Sonstige Begründung: BESCHAFFUNGSBEGRÜNDUNG: Technische Anforderungen: Rasterelektronenmikroskope (REM, engl. SEM) erlauben die Beobachtung der Oberflächen und Nah-Oberflächentopographie, wobei ein fokussierter Elektronenstrahl mit den Atomen wechselwirkt und die daraus resultierenden Informationen über Detektoren für Sekundär- und Rückstreuelektronen erfasst werden. Heutige Elektronenmikroskope können Strukturen und Mikrostrukturen unter 5 nm auflösen und finden breite Anwendung in der Materialforschung. Das REM ist zusätzlich mit einem kollimierten Ionenstrahl gekoppelt (FIB-SEM), der ein präzises Fräsen und Polieren der Oberfläche ermöglicht, um tiefenaufgelöst Informationen zu gewinnen. Der Ionenstrahl ermöglicht zudem das Schneiden und Ausdünnen von Proben, bis diese elektrotransparent sind. Elektronendurchlässige Proben, die mit einem FIB-SEM hergestellt wurden, können mit TEM zur quantitativen Untersuchung von Strahlungsdefekten analysiert werden. Diese Lamellen werden im FIB-SEM durch eine systematische Reihe von Fräs- und Polierschritten hergestellt. Wie in der Projektbeschreibung erläutert, ist die Herstellung der Lamellen für das Projektziel von großer Bedeutung, und die Automatisierung der Lamellenproduktion als essentiell angesehen. Daher ist die Kombination aus hochauflösender Mikroskopie und der Automatisierung der Fräs- und Polierschritte zur Lamellenherstellung die erste technische Anforderung an das vorgeschlagene FIB-SEM-Gerät. Darüber hinaus soll das Mikroskop in einem kontrollierten Bereich installiert und betrieben werden. Die Handhabung radioaktiver Proben muss dem ALARA-Prinzip (as low as reasonably achievable) folgen, was den Einsatz von Automatisierungen für das Be- und Entladen der Proben notwendig macht. Eine wesentliche technische Anforderung an das neue FIB-SEM-Gerät ist daher die Kombination eines Roboter-gestützten Probenwechselsystems mit einer Ladeschleuse, um ein sicheres Be- und Entladen der Proben in das Mikroskop ohne direkten Kontakt zu ermöglichen. Zudem erfordert die Installation des neuen FIB-SEM-Geräts in einem kontrollierten Bereich die Wartung und Instandhaltung des Mikroskops innerhalb dieses Bereichs durch geschulte Strahlenschutztechniker. Neue Fortschritte haben es ermöglicht, ein Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer (TOF-SIMS) in die Kammer des Mikroskops zu integrieren. Dies ermöglicht die Analyse der Elementzusammensetzung der Probe sowie die Erkennung von Veränderungen in der Materialzusammensetzung und sollte ebenfalls in das neue FIB-SEM-System integriert werden. Zusätzlich zu den oben genannten Projektanforderungen sind im Folgenden die wichtigsten technischen Anforderungen für das vorgeschlagene FIB-SEM-Gerät aufgeführt: 1. Doppelstrahlsystem - Ga+ ion FIB mit SEM column 2. Spannungbereich - 500 V - 30 kV 3. Ionenstrombereich - 1 pA - 100 nA 4. Hochvakuumkammer - 10-7 mbar 5. Einfahrbares lnjektionssystem für Gase - Platin 6. In lens, Sekundärelektronen (SE) und Rückstreuelektronen (BSE) Detektor 7. Einfahrbarer STEM Detektor 8. EBSD und EDS Detektor - 100 mm2 9. Probenmanipulator - XYZ Bewegung mit Drehung 10. TOF-SIMS Detektor Haupteigenschaften: 1. Bildqualität: Die Hauptaufgabe des Elektronenmikroskops ist es, qualitativ hochauflösende Bilder der Probenoberfläche und der nahen Bereiche zu liefern. Die Stabilität der Bilder bei starker Vergrößerung ist außerdem wichtig für die Kartierung und Positionierung von Defekten in der Probe. 2. Magnetische Proben und Pulverproben: Proben aus martensitischem Stahl sind magnetisch und beeinflussen die elektrischen Felder des Elektronenmikroskops. Eine störungsfreie Abbildung ist für eine hohe Auflösung und klare Bilder erforderlich. 3. Automatische TEM Lamellenvorbereitung: Strahlungsdefekte werden mit dem TEM identifiziert und charakterisiert. Die Automatisierung der Technik hilft dabei, die Anzahl der Eingriffe zu minimieren und die Qualität der Ergebnisse zu verbessern. 4. Umgang mit aktivierten Proben- Roboter Arm und Ladeverschlusssystem: Das Elektronenmikroskop ist für den Betrieb mit radioaktiven Proben vorgesehen. Das Verfahren beinhaltet das ferngesteuerte Be- und Entladen der Proben mit einem Roboterarm und einem Ladeverschlusssystem. Das Ladesystem ist für das Projekt essentiell. 5. Anpassung an die Strahlungsbedingungen & Wartung: Der Betrieb des Mikroskops erfolgt in einer radioaktiven Umgebung, und die Wartung und Instandhaltung des Mikroskops findet in einem kontrollierten Bereich statt. Dies erfordert Sicherheitsvorkehrungen für Strahlenexponierte, sowie qualifiziertes Personal (S-Person) und Wartungsverfahren für die Strahlenschutzumgebung. 6. TOF - SIMS Analyse: Dies ist ein zusätzliches Analysegerät, das am Mikroskop installiert und in den Arbeitsablauf für chemische und elementare Analysen integriert wird. Das System der Firma TESCAN erfüllt als einziges der betrachteten Systeme alle oben genannten technischen Anforderungen. Daher kommt für die Beschaffung nur diese Firma in Frage.
6.1.
Ergebnis, Los-– Kennung: LOT-0000
Status der Preisträgerauswahl: Es wurde mindestens ein Gewinner ermittelt.
6.1.2.
Informationen über die Gewinner
Wettbewerbsgewinner:
Offizielle Bezeichnung: TESCAN GmbH
Angebot:
Kennung des Angebots: 250080
Kennung des Loses oder der Gruppe von Losen: LOT-0000
Wert der Ausschreibung: 216 000,00 EUR
Das Angebot wurde in die Rangfolge eingeordnet: ja
Rang in der Liste der Gewinner: 1
Bei dem Angebot handelt es sich um eine Variante: nein
Vergabe von Unteraufträgen: Nein
Informationen zum Auftrag:
Kennung des Auftrags: W60-42402159
Titel: W60-42402159 TESCAN AMBER 2 GMH UHR FIB-SEM und Zubehör für das IFN-1.
Organisation, die den Auftrag unterzeichnet: Forschungszentrum Jülich GmbH
6.1.4.
Statistische Informationen
Eingegangene Angebote oder Teilnahmeanträge:
Art der eingegangenen Einreichungen: Angebote
Anzahl der eingegangenen Angebote oder Teilnahmeanträge: 1
Art der eingegangenen Einreichungen: Angebote von Kleinst-, kleinen oder mittleren Unternehmen
Anzahl der eingegangenen Angebote oder Teilnahmeanträge: 1
Art der eingegangenen Einreichungen: Angebote von Bietern, die in anderen Ländern des Europäischen Wirtschaftsraums registriert sind als dem Land des Beschaffers
Anzahl der eingegangenen Angebote oder Teilnahmeanträge: 0
Art der eingegangenen Einreichungen: Angebote von Bieter aus Ländern außerhalb des Europäischen Wirtschaftsraums
Anzahl der eingegangenen Angebote oder Teilnahmeanträge: 0
Art der eingegangenen Einreichungen: Angebote auf elektronischem Wege eingereicht
Anzahl der eingegangenen Angebote oder Teilnahmeanträge: 1
8. Organisationen
8.1.
ORG-0000
Offizielle Bezeichnung: Forschungszentrum Jülich GmbH
Registrierungsnummer: 992-03005FZJ-26
Postanschrift: Wilhelm-Johnen -Str.
Stadt: Jülich
Postleitzahl: 52428
Land, Gliederung (NUTS): Düren (DEA26)
Land: Deutschland
Telefon: +492461612358
Fax: +492461618041
Rollen dieser Organisation:
Beschaffer
Organisation, die zusätzliche Informationen über das Vergabeverfahren bereitstellt
Organisation, die einen Offline-Zugang zu den Vergabeunterlagen bereitstellt
Organisation, die weitere Informationen für die Nachprüfungsverfahren bereitstellt
Organisation, die den Auftrag unterzeichnet
Organisation, aus deren Mitteln der Auftrag bezahlt wird
Organisation, die die Zahlung ausführt
8.1.
ORG-0001
Offizielle Bezeichnung: Vergabekammer des Bundes
Registrierungsnummer: t:0228/9499-0
Postanschrift: Villemombler Str 176
Stadt: Bonn
Postleitzahl: 53123
Land, Gliederung (NUTS): Bonn, Kreisfreie Stadt (DEA22)
Land: Deutschland
Telefon: +4922894990
Fax: +492289499163
Rollen dieser Organisation:
Überprüfungsstelle
8.1.
ORG-0002
Offizielle Bezeichnung: TESCAN GmbH
Größe des Wirtschaftsteilnehmers: Mittleres Unternehmen
Registrierungsnummer: HRB5419
Postanschrift: Zum Lonnenhohl 46
Stadt: Dortmund
Postleitzahl: 44319
Land, Gliederung (NUTS): Dortmund, Kreisfreie Stadt (DEA52)
Land: Deutschland
Telefon: +49-231-92736011
Rollen dieser Organisation:
Bieter
Gewinner dieser Lose: LOT-0000
8.1.
ORG-0003
Offizielle Bezeichnung: Datenservice Öffentlicher Einkauf (in Verantwortung des Beschaffungsamts des BMI)
Registrierungsnummer: 0204:994-DOEVD-83
Stadt: Bonn
Postleitzahl: 53119
Land, Gliederung (NUTS): Bonn, Kreisfreie Stadt (DEA22)
Land: Deutschland
Telefon: +49228996100
Rollen dieser Organisation:
TED eSender
Informationen zur Bekanntmachung
Kennung/Fassung der Bekanntmachung: 7c04d5f5-ab67-456b-a343-d932fa2d07fd - 02
Formulartyp: Ergebnis
Art der Bekanntmachung: Bekanntmachung vergebener Aufträge oder Zuschlagsbekanntmachung – Standardregelung
Unterart der Bekanntmachung: 29
Datum der Übermittlung der Bekanntmachung: 21/05/2026 13:57:14 (UTC+02:00) Osteuropäische Zeit, Mitteleuropäische Sommerzeit
Sprachen, in denen diese Bekanntmachung offiziell verfügbar ist: Deutsch
Veröffentlichungsnummer der Bekanntmachung: 352749-2026
ABl. S – Nummer der Ausgabe: 98/2026
Datum der Veröffentlichung: 22/05/2026