Rasterkraftmikroskop Referenznummer der Bekanntmachung: GG/4/2023/520058457
Bekanntmachung vergebener Aufträge
Ergebnisse des Vergabeverfahrens
Lieferauftrag
Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
Postanschrift: Universitätsstr. 150
Ort: Bochum
NUTS-Code: DEA51 Bochum, Kreisfreie Stadt
Postleitzahl: 44801
Land: Deutschland
E-Mail:
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: www.rub.de
Abschnitt II: Gegenstand
Rasterkraftmikroskop
Rasterkraftmikroskop
Ruhr-Universität Bochum Universitätsstr. 150 44801 Bochum
Rasterkraftmikroskop
Abschnitt IV: Verfahren
- Die Bauleistungen/Lieferungen/Dienstleistungen können aus folgenden Gründen nur von einem bestimmten Wirtschaftsteilnehmer ausgeführt werden:
- nicht vorhandener Wettbewerb aus technischen Gründen
Beantragt wird ein Rasterkraftmikroskop, mit dem zerstörungsfrei und automatisiert die Oberfläche von Festkörperproben, im Wesentlichen Halbleiterkristalle, Quantenpunkte und 2D- Materialien, bezüglich verschiedener Parameter untersucht werden können.
Es handelt sich um ein Instrument, welches Oberflächenstrukturen lateral im Nanometermaßstab und Höhenunterschiede vertikal im Sub-Nanometermaßstab im Ortsraum über Rasterkraftmikroskopie ("atomic force microscopy" AFM) erfasst. Dabei wird eine sehr scharfe Spitze nahe der Oberfläche gebracht und die Kraft gemessen, die zwischen Oberfläche und Spitze wirkt. Die Kraftmessung findet über die Verbiegung eines Cantilevers, an welchem die Messspitze befestigt ist, statt. Ein definierter Bereich wird abgerastert, indem die Spitze zeilenweise bewegt und u.a. pixelweise die Höheninformation gespeichert wird. Das Gerät muss dabei unbedingt berührungs- und dadurch zerstörungsfrei arbeiten, was nur gelingen kann, wenn der Abstand als Rückkopplungsschleife mit der attraktiven Kraft zwischen Spitze und Oberfläche schnell genug nachgestellt wird. Automatisierte Messungen von ganzen Wafern werden ermöglicht, indem das Gerät die Spitzenannäherung sowie das Anfahren und Messen von vordefinierten Bereichen selbstständig durchführt. Die zu messenden Bereiche sind mit präzisen Ortskoordinaten bezüglich spezieller Referenzpunkte auf einer Probe versehen, erneut erreichbar und deshalb mit anderen Experimenten präzise vergleichbar.
Neben topographischen Informationen können funktionale Bilder aufgenommen werden, die
z.B. einen Materialkontrast liefern oder mechanische und elektrische Eigenschaften der Strukturen sichtbar machen. Rasterkraftmikroskopie von Oberflächen ist eine der wichtigsten Untersuchungsmethoden von Epitaktikern. Präzise Informationen im Nanometermaßstab, wie Höhe und laterale Ausdehnung von 3D-Strukturen wie Quantenpunkten o- der 2D-Schichten wie der Benetzungsschicht können mit einem AFM ermittelt werden.
Abschnitt V: Auftragsvergabe
Rasterkraftmikroskop
Ort: Mannheim
NUTS-Code: DE126 Mannheim, Stadtkreis
Land: Deutschland
Abschnitt VI: Weitere Angaben
Bekanntmachungs-ID: CXPNYH7DZLG
Postanschrift: Universitätsstr. 150
Ort: Bochum
Postleitzahl: 44801
Land: Deutschland
E-Mail:
Internet-Adresse: www.rub.de
Postanschrift: Universitätsstr. 150
Ort: Bochum
Postleitzahl: 44801
Land: Deutschland
E-Mail:
Internet-Adresse: www.rub.de