Hochauflösendes Zweistrahlgerät FIB SEM für die Chipanalyse Referenznummer der Bekanntmachung: ZIB 22.33 - 0738/22/VV : 1
Bekanntmachung vergebener Aufträge
Ergebnisse des Vergabeverfahrens
Lieferauftrag
Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Bonn
NUTS-Code: DEA22 Bonn, Kreisfreie Stadt
Postleitzahl: 53119
Land: Deutschland
E-Mail: [gelöscht]
Telefon: [gelöscht]5
Fax: [gelöscht]545
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: http://www.bescha.bund.de
Abschnitt II: Gegenstand
Hochauflösendes Zweistrahlgerät FIB SEM für die Chipanalyse
Lieferung eines Zweistrahlgeräts zur FIB / SEM für die Chipanalyse
85221 Dachau
Lieferung von 1 Stück Zweistrahlgerät zur FIB / SEM für die Chipanalyse mit Instandhaltungsverpflichtung über 5 Jahre.
Aus technischen Gründen müssen nachfolgende Aufträge oder Auftragsänderungen (Ersatzteile, Zubehör, Softwareupgrades) mit der installierten Basis kompatibel sein.
Abschnitt IV: Verfahren
Abschnitt V: Auftragsvergabe
Hochauflösendes Zweistrahlgerät FIB SEM für die Chipanalyse
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Dreieich
NUTS-Code: DE71C Offenbach, Landkreis
Postleitzahl: 63303
Land: Deutschland
Abschnitt VI: Weitere Angaben
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Bonn
Postleitzahl: 53123
Land: Deutschland
E-Mail: [gelöscht]
Telefon: [gelöscht]
Fax: [gelöscht]
Internet-Adresse: http://www.bundeskartellamt.de
Ein Antrag auf Nachprüfung kann schriftlich an die Vergabekammern des Bundes beim Bundeskartellamt, Villemombler Straße 76, 53123 Bonn, gerichtet werden. Die Unwirksamkeit des Vertrages gemäß § 135 GWB kann innerhalb von 30 Kalendertagen nach Veröffentlichung dieser Bekanntmachung im Amtsblatt der Europäischen Union geltend gemacht werden.