Hochauflösendes Zweistrahlgerät FIB SEM für die Chipanalyse Referenznummer der Bekanntmachung: ZIB 22.33 - 0738/22/VV : 1
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2023-05-19
Nordrhein-Westfalen
Bonn
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2023-05-19
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Bonn
CPV: 38511000-0
Elektronenmikroskope