Plasma Focused Ion Beam (PFIB) mit Rasterelektronenmikroskop (SEM) Referenznummer der Bekanntmachung: UMR-2022-0002
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2022-04-01
Hessen
Marburg
Hessen
Marburg
2022-04-01
Hessen
Marburg
CPV: 38512100-8
Ionenmikroskope
CPV: 38511100-1
Rasterelektronenmikroskope
CPV: 38512000-7
Ionen- und Molekularmikroskope