Gekoppeltes Sekundärionenmassenspektrometer (SIMS) mit Rasterkraftmikroskop (AFM) Referenznummer der Bekanntmachung: UGI-2021-158-OV-D62
Auftragsbekanntmachung
Lieferauftrag
Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Gießen
NUTS-Code: DE721 Gießen, Landkreis
Postleitzahl: 35390
Land: Deutschland
Kontaktstelle(n):[gelöscht]
E-Mail: [gelöscht]
Telefon: [gelöscht]
Fax: [gelöscht]
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: https://www.uni-giessen.de
Abschnitt II: Gegenstand
Gekoppeltes Sekundärionenmassenspektrometer (SIMS) mit Rasterkraftmikroskop (AFM)
Für das Physikalisch-Chemische Institut soll ein Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometer (ToF-SIMS) mit integriertem Rasterkraftmikroskop (AFM) angeschafft werden, um damit Batteriematerialien Topographie korrigiert in 3D massenspektrometrisch zu untersuchen.
Physikalisch-Chemisches Institut Heinrich-Buff-Ring 17 35392 Gießen
Es wird ein System beschafft, das an der Justus-Liebig-Universität Gießen eingesetzt werden soll.
Abschnitt III: Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Angaben
Bitte fügen Sie dem Angebot bei:
- Kurzdarstellung des Unternehmens
- Bescheinigung in Steuersachen des zuständigen Finanzamtes,
- Handelsregisterauszug (Kopie)
Die hierfür erforderlichen Informationen werden in der Eigenerklärung zur Zuverlässigkeit abgefragt.
Bitte fügen Sie dem Angebot bei:
- Referenzen über mindestens drei vergleichbare Projekte in ähnlicher Größenordnung mit Kontaktdaten zu den zuständigen Ansprechpartnern
Abschnitt IV: Verfahren
keine
Abschnitt VI: Weitere Angaben
Die vorgelegten Angebote werden nach folgenden Kriterien bewertet (Kriterium - Gewichtung):
Preis - 30%
Technische Anforderungen - 30%
Bedienbarkeit - 30%
Reparatur und Service - 10%
Bekanntmachungs-ID: CXS0YDKYYEV
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Darmstadt
Postleitzahl: 64283
Land: Deutschland
Telefon: [gelöscht]
Fax: [gelöscht]