Zusatzausstattung JFM-F200 (Intermediate chamber und kalte Feldemitter-Elektronenquellen (CFEG)) Referenznummer der Bekanntmachung: VgV-2023-6
Bekanntmachung vergebener Aufträge
Ergebnisse des Vergabeverfahrens
Lieferauftrag
Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Göttingen
NUTS-Code: DE91C Göttingen
Postleitzahl: 37077
Land: Deutschland
Kontaktstelle(n):[gelöscht]
E-Mail: [gelöscht]
Telefon: [gelöscht]
Fax: [gelöscht]
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: http://www.mpinat.mpg.de
Abschnitt II: Gegenstand
Zusatzausstattung JFM-F200 (Intermediate chamber und kalte Feldemitter-Elektronenquellen (CFEG))
- Modified Cold Field Emission Gun, Kalte Feldemissionsquelle mit Modifikation "2-window" für
UTEM-Experimente
- Second Intermediate Chamber, Zusätzliches Säulenelement zwischen Kondensorlinse und CFEG Gun inkl.
Evacuation System (SIP) und Bake Heater
- Modified Cold Field Emission Gun, Kalte Feldemissionsquelle mit Modifikation "2-window" für
UTEM-Experimente
- Second Intermediate Chamber, Zusätzliches Säulenelement zwischen Kondensorlinse und CFEG Gun inkl.
Evacuation System (SIP) und Bake Heater
Abschnitt IV: Verfahren
- Keine oder keine geeigneten Angebote/Teilnahmeanträge im Anschluss an ein nichtoffenes Verfahren
- Die Bauleistungen/Lieferungen/Dienstleistungen können aus folgenden Gründen nur von einem bestimmten Wirtschaftsteilnehmer ausgeführt werden:
- nicht vorhandener Wettbewerb aus technischen Gründen
Beschaffung: JEOL Intermediate chamber
Für Experimente und Weiterentwicklung des vorhandenen Elektronenmikroskops (JEOL Model JEM-F200 Neubeschaffung Vergabe Nr. 54/20) wird eine zusätzliche Zwischenkammer (Intermediate chamber) benötigt. Diese neue Zwischensegment dient als differenzielle Pumpstufe und verbessert das Vakuum an der vorhandenen Elektronenquelle, wodurch die Betriebszeit im Laser-getriggerten Modus verlängert wird
Anforderungen an die Zwischenkammer:
- 1 Zwischensegment für ein JEOL JEM-F200 zwischen Gun und Kondensor Linse
- Inklusive Pumpsystem und Ausheizeinheit
Die Ausführung dieses Auftrages ist lediglich durch den Hersteller der Mikroskope (JEOL GmbH) möglich.
Beschaffung: JEOL Kalte Feldemitter-Elektronenquellen (CFEG)
Für Experimente und Weiterentwicklung des vorhandenen Elektronenmikroskops (JEOL Model JEM-F200 Neubeschaffung Vergabe Nr. 54/20) wird eine modifizierte Elektronenquellen mit kalten Feldemitter benötigt (JEOL CFEG). Die neue Elektronenquelle erreicht besser Energie- und Raumauflösungen.
Anforderungen an die Elektronenquellen/Lieferung:
- kalte Feldemitter (CFEG) 200 keV-Elektronengun für ein JEOL JEM-F200
- 2 gegenüberliegende Vakuumfenster für die Laseranregung und Beobachtung des kalten Feldemitters
- Bei Ankunft: grundlegender Test der Funktionalität (Starten der Elektronenemission, reproduzieren der Emissionsparameter auf dem Gun-Datenblatt aus der Fabrik und Anpassung der HT Tank Einstellung)
Die Ausführung dieses Auftrages ist lediglich durch den Hersteller der Mikroskope (JEOL GmbH) möglich.
Abschnitt V: Auftragsvergabe
Modified Cold Field Emission Gun & Second Intermediate Chamber
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Freising
NUTS-Code: DE21B Freising
Postleitzahl: 85356
Land: Deutschland
Telefon: [gelöscht]
Abschnitt VI: Weitere Angaben
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: München
Postleitzahl: 80538
Land: Deutschland
E-Mail: [gelöscht]
Telefon: [gelöscht]
Fax: [gelöscht]
Internet-Adresse: http://www.regierung.oberbayern.de
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: München
Postleitzahl: 80538
Land: Deutschland
E-Mail: [gelöscht]
Telefon: [gelöscht]
Fax: [gelöscht]
Internet-Adresse: http://www.regierung.oberbayern.de