Lieferung eines Raman-Mikroskops Referenznummer der Bekanntmachung: F41_000349
Auftragsbekanntmachung
Lieferauftrag
Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Cottbus
NUTS-Code: DE402 Cottbus, Kreisfreie Stadt
Postleitzahl: 03046
Land: Deutschland
Kontaktstelle(n):[gelöscht]
E-Mail: [removed]
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: https://www.b-tu.de
Abschnitt II: Gegenstand
Lieferung eines Raman-Mikroskops
Es soll ein Raman-Mikroskop lt. Leistungsbeschreibung geliefert werden.
Das im Folgenden beschriebene Raman-Mikroskop soll die Möglichkeit bieten, je nach untersuchtem Material unter Einsatz der in der Leistungsbeschreibung näher spezifizierten Anregungswellenlängen der eingesetzten Laser die Raman-Moden detektieren zu können. Diese Eigenschaft ist insbesondere bei ultradünnen Schichten (z. B. 2D-Materialien) von besonderem Wert, da in diesen Fällen die Intensität des Raman-Signals naturgemäß gering ist. Zusätzlich muss sowohl eine Kartierung über große Bereiche zur Prozesskontrolle und zur Untersuchung der großflächigen Probenmorphologie, aber auch eine Kartierung beim Einsatz von in situ-Zellen möglich sein. Zur Vermeidung von mechanischen Instabilitäten muss eine Scanvorrichtung für Raman-Mapping der starr montierten Proben in den in situ-Zellen vorhanden sein, die es erlaubt, zu mappen, ohne den Mikroskoptisch, bzw. die in-situ-Zelle zu bewegen.
Die Kopplung des Raman-Mikroskops an ein Rasterkraftmikroskop (AFM) zur Erhöhung der lateralen Auflösung und gleichzeitiger kolokaler Raman-Messung muss zu einem späteren Zeitpunkt gegeben sein. Das AFM und das Raman-Mikroskop müssen bei nicht kolokalen Messungen/TERS auch von 2 Anwendern parallel genutzt werden können.
Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Leistungsbeschreibung unter dem Menupunkt Vergabeunterlagen.
BTU Cottbus-Senftenberg
Universitätsplatz 1
01968 Senftenberg
Es soll ein Raman-Mikroskop lt. Leistungsbeschreibung geliefert werden.
Das im Folgenden beschriebene Raman-Mikroskop soll die Möglichkeit bieten, je nach untersuchtem Material unter Einsatz der in der Leistungsbeschreibung näher spezifizierten Anregungswellenlängen der eingesetzten Laser die Raman-Moden detektieren zu können. Diese Eigenschaft ist insbesondere bei ultradünnen Schichten (z. B. 2D-Materialien) von besonderem Wert, da in diesen Fällen die Intensität des Raman-Signals naturgemäß gering ist. Zusätzlich muss sowohl eine Kartierung über große Bereiche zur Prozesskontrolle und zur Untersuchung der großflächigen Probenmorphologie, aber auch eine Kartierung beim Einsatz von in situ-Zellen möglich sein. Zur Vermeidung von mechanischen Instabilitäten muss eine Scanvorrichtung für Raman-Mapping der starr montierten Proben in den in situ-Zellen vorhanden sein, die es erlaubt, zu mappen, ohne den Mikroskoptisch, bzw. die in-situ-Zelle zu bewegen.
Die Kopplung des Raman-Mikroskops an ein Rasterkraftmikroskop (AFM) zur Erhöhung der lateralen Auflösung und gleichzeitiger kolokaler Raman-Messung muss zu einem späteren Zeitpunkt gegeben sein. Das AFM und das Raman-Mikroskop müssen bei nicht kolokalen Messungen/TERS auch von 2 Anwendern parallel genutzt werden können.
Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Leistungsbeschreibung unter dem Menupunkt Vergabeunterlagen.
Abschnitt III: Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Angaben
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— 3-5 vergleichbare Referenzanlagen in den letzten 3 Jahren durch Vorlage einer Eigenerklärung oder sonstiger Nachweis,
— Kartierung der Stapelung von 2D-Materialien durch Vorlage/Nachweis über wiss. Artikel in referierten Fachzeitschriften,
— Mindestens 10-jährige Marktpräsenz bzgl. Raman-Mikroskopen und international agierende F&E durch Vorlage einer Eigenerklärung.
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Abschnitt IV: Verfahren
Die Öffnung der Angebote erfolgt im Vier-Augen-Prinzip über den Vergabemarktplatz. Eine bieterseitige Teilnahme ist lt. VgV nicht zulässig.
Abschnitt VI: Weitere Angaben
Bekanntmachungs-ID: CXP9YY0R58X
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Potsdam
Postleitzahl: 14473
Land: Deutschland
Telefon: [removed]
Fax: [removed]
Die Vergabekammer leitet ein Nachprüfungsverfahren nur auf Antrag ein. Antragsbefugt ist jedes Unternehmen, das ein Interesse am Auftrag hat und eine Verletzung in seinen Rechten nach § 97 Abs. 6 GWB durch Nichtbeachtung von Vergabevorschriften geltend macht. Dabei ist darzulegen, dass dem Unternehmen durch die behauptete Verletzung der Vergabevorschriften ein Schaden entstanden ist oder zu entstehen droht. Der Antrag ist unzulässig, soweit:
1) der Antragsteller den gerügten Verstoß gegen Vergabevorschriften im Vergabeverfahren erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht unverzüglich gerügt hat,
2) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Angebotsabgabe oder zur Bewerbung gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,
3) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Angebotsabgabe oder zur Bewerbung gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,
4) mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. Der Antrag ist schriftlich bei der Vergabekammer einzureichen und unverzüglich zu begründen.