Lieferung eines Rasterkraftmikroskops (AFM)

Freiwillige Ex-ante-Transparenzbekanntmachung

Lieferauftrag

Rechtsgrundlage:
Richtlinie 2014/24/EU

Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber/Auftraggeber

I.1)Name und Adressen
Offizielle Bezeichnung:[gelöscht]
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Kaiserslautern
NUTS-Code: DEB32 Kaiserslautern, Kreisfreie Stadt
Postleitzahl: 67663
Land: Deutschland
Kontaktstelle(n):[gelöscht]
E-Mail: [gelöscht]
Telefon: [gelöscht]
Fax: [gelöscht]
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: http://www.ivw.uni-kl.de
I.4)Art des öffentlichen Auftraggebers
Einrichtung des öffentlichen Rechts
I.5)Haupttätigkeit(en)
Bildung

Abschnitt II: Gegenstand

II.1)Umfang der Beschaffung
II.1.1)Bezeichnung des Auftrags:

Lieferung eines Rasterkraftmikroskops (AFM)

II.1.2)CPV-Code Hauptteil
38514200 Rastersondenmikroskope
II.1.3)Art des Auftrags
Lieferauftrag
II.1.4)Kurze Beschreibung:

Gegenstand dieses Vertrages ist die Lieferung eines Rasterkraftmikroskops (AFM) mit mehreren neuartigen Messmodi.

II.1.6)Angaben zu den Losen
Aufteilung des Auftrags in Lose: nein
II.1.7)Gesamtwert der Beschaffung (ohne MwSt.)
Wert ohne MwSt.: [Betrag gelöscht] EUR
II.2)Beschreibung
II.2.3)Erfüllungsort
NUTS-Code: DEB32 Kaiserslautern, Kreisfreie Stadt
Hauptort der Ausführung:

Kaiserlautern

II.2.4)Beschreibung der Beschaffung:

Gegenstand dieses Vertrages ist die Lieferung eines Rasterkraftmikroskops (AFM) mit nanomechanischem Messmodus.

Das Leibniz-Institut für Verbundwerkstoffe GmbH (IVW) ist eine gemeinnützige Forschungseinrichtung

des Landes Rheinland-Pfalz und der Technischen Universität Kaiserslautern (TUK). Es erforscht

Grundlagen für zukünftige Anwendungen von Verbundwerkstoffen. Die Materialwissenschaften stellen eine Schlüsseltechnologie zum Verständnis und damit einhergehend zur Performanceverbesserung von Bauteilen aus Verbundwerkstoffen dar.

In der Materialwissenschaft gehört die Rasterkraftmikroskopie zu den etablierten hochauflösendes Verfahren zur Charakterisierung von Oberflächen. Neben AFM Standardmessmodi (Contact Mode, Tapping Mode

und Lateral Force Mode) soll das Gerät auch verschiedene neuartige AFM Messmodi zum grundlegenden Verständnis von Werkstoffeigenschaften beinhalten.

Dazu zählen:

• Ein Messmodus zur nanoskaligen Untersuchung nanomechanischer Materialeigenschaften, welcher aus

lokal erstellten Kraft-Abstands Kurven E-Module und andere mechanische Materialeigenschaften ermittelt • Ein Messmodus zur nanoskaligen Charakterisierung viskoelastischer Materialkenngrößen • Ein Messmodus zur lokalen nanoskalig aufgelösten IR-Spektroskopie auf Basis des photothermisch-induzierten Resonanzeffekts zur chemischen Charakterisierung von Materialien (AFM-IR) • Ein Messmodus zur nanoskaligen Charakterisierung von thermischen Eigenschaften und Phasenübergängen (hart – weich, fest – flüssig) Mit diesen Messmodi

soll es möglich sein, Eigenschaftsunterschiede von Materialien auf deren Oberfläche zu charakterisieren

und zu korrelieren. Darüber hinaus sollen bspw. Phasengrenzen und Grenzflächenbereiche von polymeren Verbundwerkstoffen untersucht werden können.

Die Anwendung verschiedener Messmodi an ein- und derselben Probenstelle erfordert den Einsatz von einem einzelnen AFM.

II.2.5)Zuschlagskriterien
Preis
II.2.11)Angaben zu Optionen
Optionen: ja
Beschreibung der Optionen:

Der Auftraggeber behält sich die optionale Beauftragung

a) Garantiezeitverlängerung auf 36 Monate nach Inbetriebnahme,

b) einmalige Vollinspektion und Wartung durch den Hersteller oder

c) 1 Vollwartung pro Jahr in den ersten 3 Betriebsjahren (während der dreijährigen Garantiezeit) inklusive aller Teile oder

d) 1 Präventivwartung pro Jahr in den ersten 3 Betriebsjahren (während der dreijährigen Garantiezeit).

II.2.13)Angaben zu Mitteln der Europäischen Union
Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm, das aus Mitteln der EU finanziert wird: ja
Projektnummer oder -referenz:

7240001#2021/0005-15084009883

II.2.14)Zusätzliche Angaben

Abschnitt IV: Verfahren

IV.1)Beschreibung
IV.1.1)Verfahrensart
Verhandlungsverfahren ohne vorherige Bekanntmachung
  • Die Bauleistungen/Lieferungen/Dienstleistungen können aus folgenden Gründen nur von einem bestimmten Wirtschaftsteilnehmer ausgeführt werden:
    • nicht vorhandener Wettbewerb aus technischen Gründen
Erläuterung:

Für Grundlagenuntersuchungen an polymeren Verbundwerkstoffen möchte das IVW ein Rasterkraftmikroskop (AFM) mit verschiedenen, neuartigen Messmodi beschaffen. Hierzu gehören:

- Ein Messmodus zur nanoskaligen Untersuchung nanomechanischer Materialeigenschaften, welcher aus lokal erstellten Kraft-Abstands Kurven E-Module und andere mechanische Materialeigenschaften ermittelt

- Ein Messmodus zur lokalen nanoskalig aufgelösten IR-Spektroskopie auf Basis des photothermisch-induzierten Resonanzeffekts zur chemischen Charakterisierung von Materialien (AFM-IR)

- Ein Messmodus zur nanoskaligen Charakterisierung viskoelastischer Materialkenngrößen

- Ein Messmodus zur nanoskaligen Charakterisierung von thermischen Eigenschaften und Phasenübergängen

Grundsätzlich kann man hierzu mehrere Geräte von einem oder mehreren Herstellern beschaffen oder ein Gerät, das alle gewünschten Messmodi vereint. Das Dimension IconIR ist das einzige marktverfügbare AFM, welches verschiedene, für die Anwendungen des IVW passende Messmodi in einem Gerät vereint. Dass verschiedene Messtechniken in einem Gerät verbaut sind, ist für das IVW erforderlich, da:

1. Möglichkeit der Messung nanomechanischer, viskoelastischer und thermischer Eigen-schaften sowie chemischer Charakteristiken an ein und derselben Probenstelle; dadurch besteht die Möglichkeit der Korrelation zwischen grundlegenden Werkstoffeigenschaften aus verschiedenen Messtechniken

2. Ein Gerät mit einer einheitlichen Steuerungssoftware, dadurch geringerer Bedienungs-/ Einarbeitungsaufwand

3. Kosten-/Zeitersparnis

4. Platzersparnis im Labor (nur begrenzter Raum verfügbar)

Auch die Messmodi an sich bieten essenzielle Vorteile gegenüber ähnlichen Messtechniken von Mitbewerbern. Ein Beispiel hierfür ist der „Peak Force QNM“ Messmodus, Brukers Messmethode zur Bestimmung nanomechanischer Materialeigenschaften. In diesem Messmodus wird der Cantilever sinusförmig in z-Richtung von einem Piezoelement zu einer nicht-resonanten Schwingung angeregt, wobei eine kontinuierliche Feedback-Regelung die z-Position derart anpasst, dass die Spitze mit einer konstanten Normalkraft in die Probe indentiert. Neben der Kraftkontrolle ist die Aufnahmegeschwindigkeit ein weiterer Vorteil des Dimension IconIR, welche im Vergleich zu den auf Force Volume basierten Techniken der konkurrierenden AFM Anbieter (z.B. der PinPoint Mode im NX10 der Firma Park Systems) deutlich höher ist. Dieser Messmodus ist von Bruker in Europa patentiert. Seit Bestehen des Patents wird Peak Force QNM in der Literatur zur Bestimmung nano¬mechanischer Eigenschaften in einem Großteil der Publikationen verwendet.

Darüber hinaus ist Bruker der einzige Anbieter, der die nanoskalig aufgelöste AFM-IR-Spektroskopie auf Grundlage des photothermisch-induzierten Resonanzeffekts anbietet. Im Gegensatz zu anderen AFM-IR Techniken (Nahfeldtechniken) können bei dieser Messmethode die gemessenen IR-Spektren am ehesten mit denen aus der klassischen FTIR Spektroskopie korreliert werden.

Die nanoskalig aufgelöste Bestimmung viskoelastischer Materialkennwerte (Speichermodul, Verlustmodul und Verlustfaktor) gibt es bei keinem anderen Anbieter. Und auch die Bestimmung thermischer Eigenschaften in der Art, dass eine Spitze in Kontakt mit der Probe ist, diese lokal aufheizt bis es zum Erweichen der Probe kommt, gibt es zurzeit nur bei Bruker. Andere Techniken zur Charakterisierung thermischer Eigenschaften, wie beispielsweise Scanning Thermal Microscopy im NX10 der Firma Park Systems, sind weniger sensitiv und daher nicht zu präferieren.

Die weitere Begründung findet sich aufgrund der Zeichenbegrendzung in dieser Ziffer in Ziffer VI.3, worauf daher verwiesen wird.

IV.1.3)Angaben zur Rahmenvereinbarung
IV.1.8)Angaben zum Beschaffungsübereinkommen (GPA)
Der Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen: nein
IV.2)Verwaltungsangaben

Abschnitt V: Auftragsvergabe/Konzessionsvergabe

Bezeichnung des Auftrags:

Lieferung eines Rasterkraftmikroskops (AFM)

V.2)Auftragsvergabe/Konzessionsvergabe
V.2.1)Tag der Zuschlagsentscheidung:
17/02/2022
V.2.2)Angaben zu den Angeboten
Der Auftrag wurde an einen Zusammenschluss aus Wirtschaftsteilnehmern vergeben: nein
V.2.3)Name und Anschrift des Auftragnehmers/Konzessionärs
Offizielle Bezeichnung:[gelöscht]
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: WISSEMBOURG Cedex, France
NUTS-Code: FRF11 Bas-Rhin
Postleitzahl: 67166
Land: Frankreich
Internet-Adresse: https://www.bruker.com/de/services/support/office.europe.france-wissembourg.html
Der Auftragnehmer/Konzessionär wird ein KMU sein: ja
V.2.4)Angaben zum Wert des Auftrags/Loses/der Konzession (ohne MwSt.)
Gesamtwert des Auftrags/des Loses/der Konzession: [Betrag gelöscht] EUR
V.2.5)Angaben zur Vergabe von Unteraufträgen

Abschnitt VI: Weitere Angaben

VI.3)Zusätzliche Angaben:

Fortsetzung der Begründung von Ziffer IV.1.1:

Außerdem hat das Dimension IconIR einen sehr großen Probenraum. Dadurch ist es möglich, Proben mit 150 mm Durchmesser und bis zu 70 mm Dickendimension zu untersuchen, wodurch man in Bezug auf die Probengröße eine große Flexibilität besitzt. Dadurch können auch beispielsweise Transferfilme auf Gleitlagerringen direkt untersucht werden, d.h. ohne Zerstörung des Ringes durch mechanische Probenentnahme. Es ist ein Alleinstellungsmerkmal des Systems, dass größere Proben ohne großen Präparationsaufwand mit obigen Methoden an einer Stelle charakterisiert werden können. AFM Geräte mit einem solchen großen Probenraum gibt es zwar auf dem Markt, allerdings ist es mit diesen nicht möglich, Untersuchungen mit allen zuvor beschriebenen Messmethoden durchzuführen.

Diese Alleinstellungsmerkmale, deren das IVW bedarf, sind Grundlage für die Entscheidung, das Dimension IconIR der Firma Bruker zu beschaffen. Nur dieses Geräte erfüllt den Beschaffungsbedarf des Auftraggebers. Aufgrund der dargelegten Aspekte der Ansicht, dass der Auftrag zulässigerweise ohne vorherige Veröffentlichung einer Bekanntmachung im EU-Amtsblatt vergeben werden darf. Dies gründet auf den zuvor ausgeführten Darlegungen zu den Ausnahmetatbeständen des § 14 Abs. 4 Nr. 2 VgV.

Zusätzliche Angaben:

Der Gesamtwert der Beschaffung (§ 39 Abs. 6 Nr. 3 VgV) sowie der Tag des Vertragsschlusses können zum Zeitpunkt dieser Bekanntmachung nicht verbindlich veröffentlicht werden. Aus technischen Gründen werden die entsprechend angegebenen Platzhalter verwendet (s. Ziffern II.1.7, II.2.5, V.2.1, V.2.4). Da das System einen Nullwert nicht akzeptiert, wurde 1 eingetragen. Hinsichtlich des Datums in Ziffer V.2.1 kann kein in der Zukunft liegendes Datum eingetragen werden. Der Vertrag wird dennoch frühestens zehn Kalendertage nach dem Tag der Absendung dieser Bekanntmachung (vgl. Ziffer VI.5), § 135 Abs. 3 Nr. 3 GWB, abgeschlossen. Ansonsten wird auf die Rechtsbehelfsbelehrung in Ziffer VI.4.3 verwiesen.

VI.4)Rechtsbehelfsverfahren/Nachprüfungsverfahren
VI.4.1)Zuständige Stelle für Rechtsbehelfs-/Nachprüfungsverfahren
Offizielle Bezeichnung:[gelöscht]
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Mainz
Postleitzahl: 55116
Land: Deutschland
E-Mail: [gelöscht]
Telefon: [gelöscht]
Fax: [gelöscht]
Internet-Adresse: https://mwvlw.rlp.de/de/ministerium/zugeordnete-institutionen/vergabekammer/
VI.4.3)Einlegung von Rechtsbehelfen
Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen:

Nach § 160 GWB Fassung 2016 gelten nachfolgende Vorgaben und Fristen für Rechtsbehelfe:

(1) Die Vergabekammer leitet ein Nachprüfungsverfahren nur auf Antrag ein.

(2) Antragsbefugt ist jedes Unternehmen, das ein Interesse an dem öffentlichen Auftrag oder der

Konzession hat und eine Verletzung in seinen Rechten nach § 97 Absatz 6 GWB durch Nichtbeachtung von Vergabevorschriften geltend macht. Dabei ist darzulegen, dass dem Unternehmen durch die behauptete Verletzung der Vergabevorschriften ein Schaden entstanden ist oder zu entstehen droht.

(3) Der Antrag ist unzulässig, soweit 1. der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von 10 Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Absatz 2 GWB bleibt unberührt,

2. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,

3. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,

4. mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind.

Satz 1 gilt nicht bei einem Antrag auf Feststellung der Unwirksamkeit des Vertrags nach § 135 Absatz 1 Nummer 2. § 134 Absatz 1 Satz 2 bleibt unberührt.

Hinsichtlich der Fristen wird insbesondere auf die für Ex-Ante-Bekanntmachungen relevante Zehn-Tages-Frist gemäß § 135 Abs. 3 GWB verwiesen. Eine Rüge gegenüber dem Auftraggeber ist nicht ausreichend.

VI.4.4)Stelle, die Auskünfte über die Einlegung von Rechtsbehelfen erteilt
Offizielle Bezeichnung:[gelöscht]
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Mainz
Postleitzahl: 55116
Land: Deutschland
E-Mail: [gelöscht]
Telefon: [gelöscht]
Fax: [gelöscht]
Internet-Adresse: https://mwvlw.rlp.de/de/ministerium/zugeordnete-institutionen/vergabekammer/
VI.5)Tag der Absendung dieser Bekanntmachung:
19/02/2022

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