AFM-IR-Mikroskop Referenznummer der Bekanntmachung: INP-32-2021
Bekanntmachung vergebener Aufträge
Ergebnisse des Vergabeverfahrens
Lieferauftrag
Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Greifswald
NUTS-Code: DE80N Vorpommern-Greifswald
Postleitzahl: 17489
Land: Deutschland
Kontaktstelle(n):[gelöscht]
E-Mail: [gelöscht]
Telefon: [gelöscht]
Fax: [gelöscht]
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: www.leibniz-inp.de
Abschnitt II: Gegenstand
AFM-IR-Mikroskop
Das Gerät soll zu korrelativen Analysen der Oberflächen-Topographie und der Infrarot-Spektroskopie von Polymerproben im nanoskaligen Bereich dienen. Mit diesem Zweck soll vor allem möglich sein, Nano- und Mikropartikel von diversen Kunstoffen (wie z. B. PS, PE usw.) im komplexen biologischen Umfeld (wie z. B. in-vitro-Zellkulturen oder Gewebeschnitte) zu charakterisieren.
1. Eine durchstimmbare MID-IR-Laser-Konfiguration (QCLs) ermöglicht eine schnelle Erfassung der IR Spektren im Spektralbereich von mindestens 1800 cm-1 bis mindestens 800 cm-1. Das spektrale Leistungsprofil und die QCL-Geschwindigkeit sollen angegeben werden (je breiter das spektrale Intervall und je schneller die QCLs, desto besser).
2. Die spektrale Auflösung beträgt mindestens 4 cm-1 (je kleiner der Wert, desto besser). Im Gerät werden hochwertige QCLs mit hoher Richtungsstabilität, stabiler Leistung und mit hoher spektraler Genauigkeit integriert.
3. Der optische Aufbau des Gerätes ermöglicht einen Polarisator zu integrieren, um den Polarisationszustand des einfallenden Strahles zu steuern.
4. Das Integrierte AFM-Modul soll Topographieanalyse mit lateraler Auflösung von mindestens 10 nm ermöglichen (je kleiner der Wert, desto besser).
5. Die maximale AFM-Scan-Fläche in einer Abbildung ist mindestens 50×50 μm2 (je größer der Bereich ist, desto besser).
6. Das Gerät soll über Messmoden verfügen: nanothermisches Mapping, oberflächensensitive Mode, Tapping-Mode, Kontakt-Mode, Messung von Kraftkurven, Phasenkontrast-Darstellung, Option für Kraft-Modulation.
7. Im Gerät ist ein Lichtmikroskop für Übersichtsaufnahmen mit entsprechendem Maßstab integriert, wobei die Positionszuordnung der AFM-Aufnahmen innerhalb der Lichtmikroskopie-Aufnahmen eindeutig sein muss.
8. Am Lichtmikroskop ist eine hochauflösende Kamera mit Sensorgröße von mindestens 5Mpixels angebaut. Ein gutes Navigationssystem sorgt für einen genauen Übergang von klein- bis groß gezoomten Aufnahmen – vom optischen Mikroskop bis AFM.
9. Das Gerät ermöglicht eine Konfiguration mit einem Epifluoreszenzmikroskop anstelle des einfachen Lichtmikroskops für Übersichtsaufnahmen.
10. Der Steuerrechner zum Gerät entspricht dem neuesten Stand (Windows 10 Enterprise) und integriert keine gerätspezifische Hardware.
11. Zu der Steuersoftware gehören mindestens 3 Lizenzen (1 Messlizenz, 2 Floating-Lizenzen) und die Updates werden mindestens 3 Jahre kostenfrei garantiert, wenn das Gerät unverändert und funktionstüchtig bleibt.
12. Die Software verfügt neben weiteren über diese Optionen:
— 2D-Matrix-Rechnung: mehrere Mapping-Ergebnisse können bearbeitet werden, so dass z.B. Linien-Verhältnisse aus den gemessenen Messbereichen berechnet werden können,
— 3D-Matrix-Rechnung: hyperspektrale 3D-Datensätze können bearbeitet werden, so dass z. B. gewählte 2D-Matrices (für bestimmtes x oder y, oder v) extrahiert und mit einander verglichen werden können,
— Kombinierte Daten-Bearbeitung aus den spektroskopischen und topografischen Messungen soll möglich werden, z. B. gemischte Darstellung des chemischen Mapping in der 3D-Topografie,
— Weitere Funktionen der Datenbearbeitung innerhalb der Steuersoftware sollen möglich werden (z. B. Baseline-Korrektur, Normierung, Glättung, Statistik etc.).
13. Die Software integriert eine MIR-spektrale Datenbank herkömmlicher Polymermaterialien, die einen instantanen offline Spektren-Vergleich ermöglicht.
14. Doppelmonitor oder zwei Monitore mit Ultra-HD (4K-Monitor).
Optionen: ja
Beschreibung der Optionen:
— Es besteht die Möglichkeit, den Spektralbereich auf 2 700 – 3 600 cm-1 zu erweitern,
— Es besteht die Möglichkeit, einen Polarisator zu integrieren (s. Punkt 3 in der technischen Spezifikation). Ein Polarisator selbst soll optional angeboten werden,
— Es besteht die Möglichkeit, die Probentemperatur auf dem Probentisch zu messen und zu regeln,
— Ein geeigneter optischer Tisch wird optional angeboten,
— Präsentation des Gerätes weist auch auf die Grenzen des Gerätes hin (z. B. Messartefakte, Temperaturschwankungseffekte, Signal/Rauschen-Verhältnis, Lebensdauer und Stabilität der austauschbaren Komponenten, etc.),
— Ein Jahr Garantie verlängert 24 Monate gesetzliche Gewährleistung und eine genaue Beschreibung des Inhaltes der Garantie wird spezifiziert (z. B. Garantie für QCLs, AFM-Modul). Angaben zum Umfang der regelmäßigen Wartungsarbeiten sind gewünscht.
Abschnitt IV: Verfahren
Abschnitt V: Auftragsvergabe
AFM-IR-Mikroskop
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Haar (Munich)
NUTS-Code: DE Deutschland
Postleitzahl: 85540
Land: Deutschland
E-Mail: [gelöscht]
Telefon: [gelöscht]
Fax: [gelöscht]0
Internet-Adresse: https://www.attocube.com
Abschnitt VI: Weitere Angaben
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Schwerin
Postleitzahl: 19053
Land: Deutschland
Telefon: [gelöscht]
Fax: [gelöscht]7
Internet-Adresse: www.regierung-mv.de
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Schwerin
Postleitzahl: 19053
Land: Deutschland
Telefon: [gelöscht]
Fax: [gelöscht]7
Internet-Adresse: www.regierung-mv.de
§ 160 GWB Einleitung, Antrag (1) Die Vergabekammer leitet ein Nachprüfungsverfahren nur auf Antrag ein. (2) Antragsbefugt ist jedes Unternehmen, das ein Interesse an dem öffentlichen Auftrag oder der Konzession hat und eine Verletzung in seinen Rechten nach § 97 Absatz 6 durch Nichtbeachtung von Vergabevorschriften geltend macht. Dabei ist darzulegen, dass dem Unternehmen durch die behauptete Verletzung der Vergabevorschriften ein Schaden entstanden ist oder zu entstehen droht. (3) Der Antrag ist unzulässig, soweit der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von zehn Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Absatz 2 bleibt unberührt, Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. Satz 1 gilt nicht bei einem Antrag auf Feststellung der Unwirksamkeit des Vertrags nach § 135 Absatz 1 Nummer 2. § 134 Absatz 1 Satz 2 bleibt unberührt.
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Greifswald
Postleitzahl: 17489
Land: Deutschland
E-Mail: [gelöscht]
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