Focused Ion Beam System zur Präparation von Querschnitten und TEM Lamellen Referenznummer der Bekanntmachung: INP-21-2021
Auftragsbekanntmachung
Lieferauftrag
Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Greifswald
NUTS-Code: DE80N Vorpommern-Greifswald
Postleitzahl: 17489
Land: Deutschland
Kontaktstelle(n):[gelöscht]
E-Mail: [removed]
Telefon: [removed]
Fax: [removed]
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: https://www.leibniz-inp.de
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Greifswald, Hansestadt, Greifswald
NUTS-Code: DE80N Vorpommern-Greifswald
Postleitzahl: 17489
Land: Deutschland
Kontaktstelle(n):[gelöscht]
E-Mail: [removed]
Telefon: [removed]
Fax: [removed]
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: https://www.leibniz-inp.de
Abschnitt II: Gegenstand
Focused Ion Beam System zur Präparation von Querschnitten und TEM Lamellen
Im Campfire Verbundvorhaben werden innerhalb mehrerer gegenwärtiger und zukünftiger Projekte mehrschichtige elektrochemische Zellen synthetisiert und untersucht. Von besonderer Bedeutung für die Analytik sind gezielte Probenquerschnitte und TEM (Transmissionselektronenmikroskopie) Präparate, da diese die Qualität der Analyse wesentlich verbessern. Synthese und Materialeigenschaften werden damit nach besten Standard evaluiert, wodurch der Wert von wissenschaftlichen und technische Ergebnissen deutlich gesteigert werden kann. Ein FIB (Focused Ion Beam) ist eine Technik zur Materialbearbeitung auf mikroskopischer Ebene. Das Material wird dabei auf einer Seite der Schnittfläche mit einem Ionenstrahl abgetragen, sodass anschließend ein Blick schräg auf die Schnittfläche möglich ist. Der Vorteil der des FIB System ist, dass die Schnittflache mit submikrometer Genauigkeit positioniert werden kann, sodass auch kleinste Strukturen im Querschnitt darstellbar sind. Darüber hinaus kann man sich mi
17489 Greifswald
Hansestadt
Für die Untersuchung von Dünnschichtmembranen mittels Transmissionselektronenmikroskopie wird ein automatisiertes System für Focused Ion Beam (FIB)-Prozesse für High-Thruoghput TEM Lamellen Präparationen benötigt. Es sollen Polituren und Schnitte erzeugt werden, durch die eine aufgesputterte Schicht inklusive Substrat auf mikroskopischer Ebene detailliert untersucht werden können hinsichtlich ihrer Homogenität, Korngrößen und Schichtdicken.
1. Focused-Ion-Beam System:
— Ga-Flüssigmetall Ionenquelle,
— Vergrößerungsbereich: 200-fach bis 300 000-fach,
— Beschleunigungsspannung 1-30 kV,
— Stahlstrommessung und Einstellung,
— motorgesteuerte Wechselblende,
— Garantierte Auflösung im einstelligem nm Bereich.
2. Probenstage:
— Vollmotorisiert,
— Spezialisiert für Bulkproben,
— Freie Bewegung entlang aller Raumkoordinaten (x,y,z) sowie Rotation und kippen der Probe muss möglich sein,
— Probenkammerbeleuchtung.
3. Software Anforderungen:
— Funktionen zur 2D und 3D Bildaufnahme mit Helligkeits- und Kontrasteinstellungen,
— Funktion zur TEM Lamellapreparation,
— Milling Funktion in einstellbarer Geschwindigkeit,
— Analysemöglichkeit zur Korngrößenverteilung.
4. Weitere Spezifikationen:
— Probenschleuse,
— System zur Messung des Probenstroms,
— Pneumatisch ein- und ausfahrbares Gaseinlassystem (GIS),
— Schwingungsgedämpft.
Sonstige Mindestanforderungen:
— Software mit automatischer Funktion zur TEM Lamellen Präparation.
Eine Automatische Präparation auch mehrerer TEM-Lamellen ohne Aufsicht und Präparation von Proben mit unebener Oberfläche erforderlich:
— Ex-situ Liftout System.
Gripper Liftout-System zum einfachen, sicheren und schnellen Transfer von vorgeschnitten TEM-Lamellen auf TEM-Gittern:
— Integration am INP.
Installation und Inbetriebnahme des Systems beim INP mit entsprechender Laborabnahme und anschließendem Training vor Ort sind erforderlich:
— PC mit Windows 10, Monitor und Standarteingabegeräten.
Ausschlusskriterien (Alle Ausschlusskriterien sind zwingend zu erfüllen, ist dies nicht der Fall führt dies zum sofortigem Ausschluss aus dieser Vergabe):
— Die Möglichkeit zur automatisierten TEM Lamellen Präparation ist zwingend zu erfüllen.
— Luftgekühltes System ohne externe Wasserkühlung,
— Abmessungen nicht über 1 500 mm (Länge) x 1 000 mm (Breite) x 1 700 mm (Höhe):
—— Instandhaltung,
—— Einweisung und Installation.
Abschnitt III: Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Angaben
Als Eigenerklärung vorzulegen:
— Eigenerklärung gem. §124 GWB.
Als Eigenerklärung vorzulegen:
— Erklärung KMU gemWGE UVgO.
Abschnitt IV: Verfahren
Ort: Leibniz-Institut für Plasmaforschung und Technolog
Felix-Hausdorff-Str. 2
17489 Greifswald.
Keine öffentliche Angebotseröffnung.
Abschnitt VI: Weitere Angaben
Vergabeunterlagen in elektronischer Form:
Informationen zum Abruf der Vergabeunterlagen: siehe I.3).
Kommunikation:
Anfragen zum Verfahren können elektronisch über die B_I eVergabe (www.bi-medien.de) oder an die unter I.3) genannte Adresse gestellt werden.
Angebotsabgabe:
Angebote können abgegeben werden:
— schriftlich,
— elektronisch in Textform.
Bei elektronischer Angebotsübermittlung in Textform ist der Bieter und die zur Vertretung des Bieters berechtigte natürliche Person zu benennen. Das Angebot ist zusammen mit den Anlagen bis zum Ablauf der Angebotsfrist über die B_I eVergabe (www.bi-medien.de) zu übermitteln.
Zugang zur elektronischen Kommunikation bzw. Angebotsabgabe als registrierter Nutzer der B_I eVergabe über den Menüpunkt – Meine Vergaben – unter dem B_I code D443054039 im Bereich – Mitteilungen – bzw. – Angebot.
Informationen zu den Registrierungsmöglichkeiten sind zu finden unter:
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Schwerin
Postleitzahl: 19053
Land: Deutschland
Telefon: [removed]
Fax: [removed]7
Internet-Adresse: www.regierung-mv.de
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Greifswald
Postleitzahl: 17489
Land: Deutschland
E-Mail: [removed]
Telefon: [removed]
Fax: [removed]
§ 160 GWB Einleitung, Antrag
(1) Die Vergabekammer leitet ein Nachprüfungsverfahren nur auf Antrag ein.
(2) Antragsbefugt ist jedes Unternehmen, das ein Interesse an dem öffentlichen Auftrag oder der Konzession hat und eine Verletzung in seinen Rechten nach § 97 Absatz 6 durch Nichtbeachtung von Vergabevorschriften geltend macht. Dabei ist darzulegen, dass dem Unternehmen durch die behauptete Verletzung der Vergabevorschriften ein Schaden entstanden ist oder zu entstehen droht.
(3) Der Antrag ist unzulässig, soweit der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von 10 Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Absatz 2 bleibt unberührt,Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. Satz 1 gilt nicht bei einem Antrag auf Feststellung der Unwirksamkeit des Vertrags nach § 135 Absatz 1 Nummer 2. § 134 Absatz 1 Satz 2 bleibt unberührt.
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Greifswald
Postleitzahl: 17489
Land: Deutschland
E-Mail: [removed]
Telefon: [removed]
Fax: [removed]
Internet-Adresse: http://www.leibniz-inp.de