1. Beschaffer
1.1.
Beschaffer
Offizielle Bezeichnung: Helmholtz-Zentrum hereon GmbH
Rechtsform des Erwerbers: Organisation, die einen durch einen öffentlichen Auftraggeber subventionierten Auftrag vergibt
Tätigkeit des öffentlichen Auftraggebers: Bildung
2. Verfahren
2.1.
Verfahren
Titel: Elektronenmikroskop
Beschreibung: Es soll ein neues Elektronenmikroskop beschafft werden, gemäß nachfolgenden Anforderungen: Schottky-Feld-Emissions-Rasterelektronenmikroskop Vergrößerungsbereich 30x - 1.Mx Niedrigste Spannung 100V Maximale Spannung >=30kV Minimaler Strom 10pA Maximaler Strom 20nA Kontinuierlich frei justierbarer Probenstrom bei konstanter Beschleunigungsspannung (kV) System ist geeignet bei der geforderten maximalen Beschleunigungsspannung (AP4) EBSD-Messungen ohne messbare Beugungsverzerrungen (bspw. Bandverzerrungen) durchzuführen. Auflösung gemessen nach ISO 24597:2011: Unter Verwendung der Ableitungsmethode: gemessen an den 25/75 Perzentilen. Der AP 9 gilt für die nachfolgenden AP 10 und AP 11 sowie für deren jeweilige Anforderungsunterpunkte. Auflösung @ 15kV (kein "Stage Biasing") Dieser Test muss unter Berücksichtigung der EBSD-Abbildungbedingungen durchgeführt werden. So sollten z. B. keine magnetischen/elektrostatischen Linsenmodi verwendet werden, die die EBSD-Analytik stören. Die Auflösung sollte bei ein Spektroskopiearbeitsabstand des Mikroskops gemessen werden (typischerweise 8-10 mm). Auflösung @ 1kV 1,5nm Evhart Thornly Sekundärelektronendetektor (SE-Detektor) Ein Szintillator basierter In-Kammerarückstreudetektor oder ein Solid State ringförmiger Multisegmentrückstreudetektor (konzentrische Segmente) muss im Angebot enthalten sein. Sollte ein zweiter BSE-Detektor vom jeweils anderen Typ verfügbar sein, erstellen Sie bitte ein spezifisches Angebot unter optionalen Zubehör. Der BSE-Detektor sollte in einem breiten Beschleunigungsspannungsbereich (<1kV) bis zu 30kV betrieben werden können. Weiterhin muss der BSD-Detektor elektrisch motorisiert (nicht manuell) ein- und ausfahrbar sein. Hinweis: wählen Sie bitte für das Hauptangebot den jeweils höherwertigen BSE-Detektor für eine optimale Bildgebung der Ihnen zugesendeten Test- und Vergleichsproben aus. Solid State ringförmiger Multisegmentrückstreudetektor (konzentrische Segmente) 1. InLens Detektor Die Kombination von 1 oder mehreren In-Lens-Detektoren muss sowohl SE- als auch BS-Elektronen erkennen und eine getrennte SE- oder BSE-Abbildung ermöglichen (z. B. durch Filterung). Die Energiefilterung muss in der Säule erfolgen und dabei die Entfernung von SE-Elektronen und die Abbildung des reinen Rückstreusignals (oder in umgekehrter Funktion) ermöglichen. 2. InLens Detektor Hinweis: Zusätzliche Inlens-Detektoren MÜSSEN eine gleichzeitige Erfassung von Signalen mit den anderen Inlens-Detektoren ermöglichen, um zusätzliche Wertungpunkte zu erhalten. 3. InLens Detektor Hinweis: Zusätzliche Inlens-Detektoren MÜSSEN eine gleichzeitige Erfassung von Signale mit den anderen Inlens-Detektoren ermöglichen, um zusätzliche Wertungpunkte zu erhalten. Übersichtskamera welche in die Probenkammer gerichtet ist und eine generelle Übersicht über die Probenkammer hat. Die Übersichtskamera muss so positioniert sein, dass die EBSD-Kamera und der EDX- Detektor beim Ein- und Ausfahren gut zu sehen sind, ODER es muss eine zweite Kammerkamera für diesen Zweck vorhanden sein. Zweite Übersichtskammera Eine Kammera welche den Zweck erfüllt, eine Übersichtsaufnahme aus einer geeigneten Position zu tätigen welche es ermöglicht, an eine gewünschte Probenstelle (bzw. Position auf einem Probenhalter) zu navigieren. Die Navigationskammera kann auch unter Vakuum (geschlossene Arbeitskammer) verwendet werden. Auflösung bei Einzelbildaufnahme 20Mpix Technologie für eine Bildgebung mit einer höheren Spannung in der Säule, die beim Austritt in die Kammer auf eine niedrigere Bildgebungsspannung reduziert wird. Technologie zur gleichzeitigen Erkennung von mehreren Kanälen (Eingangssignalen für Bildgebung) 4 Kanäle Ausgabe von RAW-Bildern (ohne Bildbearbeitung) Stufenvorspannung für Strahlverzögerung Großes Sichtfeld (FOV) bei Spektroskopiearbeitsabstand (8-10 mm) 4mm Scanfeld-Rotation Dynamischer Fokus mit automatischer Fokussierung des dynamischen Fokus Automatische Justierung des Fokus (Autofokusfunktion) Automatische Justierung des Stigmators (Autostigmatorfunktion) Automatische Justierung/Ausrichtung der Blenden Driftkorrigierte Bildgebung Kompatibel mindestens zu folgenden analytischen Geräten der FA Oxford. Oxford Symmetry S2 (SN: 051J004543; Pt.Nr.: 51-1187-005; DoM: Nov 2020) und UltimMax 100 (SN: 051T000046; Pt.Nr.: 51-1137-098; DoM: Nov 2020) Vorhandene Analytik muss übernommen werden und in das zu beschaffene Neugerät integriert werden können. Der Funktionsumfang der Analytik muss vollumfänglich gewährleistet sein. Optischer und/oder akustischer Alarm sollten Teile (Halter oder Probe o.Ä.) in der Kammer Teile der Analytik berühren (Touchalarm). Simulationsbasiertes System zur Vermeidung von Kollisionen Anzahl der Adapter für externe Geräte 11 Adapterplätze Mindestanzahl der kompatiblen Adapterplätze für Rückstreudetektoren 2 Adapterplätze Mindestanzahl der kompatiblen Adapterplätze für EDS-Detektoren 2 Adapterplätze Kammerbreite bzw. -tiefe 250mm Probengewicht bei aktivierten X/Y/Z/R/T Achsen 500g Maximale Probengröße (Durchmesser, voller X/Y-Bereich) 100mm Maximale Probenhöhe 50mm Plasmareiniger im Standardlieferumfang Arbeitsbühne mit motorisierten X/Y/Z/R/T Achsen Stumpf- und Klemmhalter im Standardlieferumfang, wobei der Klemmhalter Proben von mindestens 50mmx50mm aufnehmen können muss. Je ein Halter X-Y-Bewegungsbereich (bei aktivierter Z/R/T Achse) 100mm Z-Bereich (bei aktivierter R/T Achse) 50mm Neigungsbereich (bspw. in Richtung der EBSD-Kammera) +70°/-5° Rotation um Z-Achse (volle 360°) mindestens 360° Faradayscher Becher für Sondenstromerfassung Ein Computersystem, moderner (DoM 2022+) Prozessor, mindestens i5 oder gleichwertige Komponente anderer Hersteller, oder besser, mindestens 32 GB Arbeitsspeicher, Windows 10 Betriebssystem oder höher Aufgrund der begrenzten Zeichenanzahl bitten wir Sie die vollständige Leistungsbeschreibung den Vergabeunterlagen zu entnehmen.
Kennung des Verfahrens: d692b401-3217-40ba-852b-014acc9e6445
Interne Kennung: 2024/04-50982
Verfahrensart: Offenes Verfahren
Das Verfahren wird beschleunigt: nein
2.1.1.
Zweck
Art des Auftrags: Lieferungen
Haupteinstufung (cpv): 38511000 Elektronenmikroskope
2.1.2.
Erfüllungsort
Postanschrift Helmholtz-Zentrum hereon GmbH Max-Planck-Straße 1
Stadt Geesthacht
Postleitzahl 21502
Land, Gliederung (NUTS): Herzogtum Lauenburg (DEF06)
Land: Deutschland
Ort im betreffenden Land
2.1.4.
Allgemeine Informationen
Zusätzliche Informationen: Bekanntmachungs-ID: CXU1YYDY1XAHBR2Z Zum Nachweis der Auflösung gemäß den obengenannten Anforderungen muss mit dem Angebot ein Bild bzw. Dokumentation einer Probemessung abgegeben werden. Proben können dazu beim Hereon bis zum 06.08.2024 kostenlos angefordert werden. Preis: 30% Wertungskriterium technische Qualität, Gewichtung 70 %
Rechtsgrundlage:
Richtlinie 2014/24/EU
vgv -
2.1.6.
Ausschlussgründe
Der Zahlungsunfähigkeit vergleichbare Lage gemäß nationaler Rechtsvorschriften: Zwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Konkurs: Zwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Korruption: Zwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Vergleichsverfahren: Zwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Beteiligung an einer kriminellen Vereinigung: Zwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Vereinbarungen mit anderen Wirtschaftsteilnehmern zur Verzerrung des Wettbewerbs: Zwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Verstoß gegen umweltrechtliche Verpflichtungen: Zwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Geldwäsche oder Terrorismusfinanzierung: Zwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Betrugsbekämpfung: Zwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Kinderarbeit und andere Formen des Menschenhandels: Zwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Zahlungsunfähigkeit: Zwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Verstoß gegen arbeitsrechtliche Verpflichtungen: Zwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Verwaltung der Vermögenswerte durch einen Insolvenzverwalter: Zwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Falsche Angaben, verweigerte Informationen, die nicht in der Lage sind, die erforderlichen Unterlagen vorzulegen, und haben vertrauliche Informationen über dieses Verfahren erhalten.: Zwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Interessenkonflikt aufgrund seiner Teilnahme an dem Vergabeverfahren: Zwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Direkte oder indirekte Beteiligung an der Vorbereitung des Vergabeverfahrens: Zwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Schwere Verfehlung im Rahmen der beruflichen Tätigkeit: Zwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Vorzeitige Beendigung, Schadensersatz oder andere vergleichbare Sanktionen: Zwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Verstoß gegen sozialrechtliche Verpflichtungen: Zwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Zahlung der Sozialversicherungsbeiträge: Zwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Einstellung der gewerblichen Tätigkeit: Zwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Entrichtung von Steuern: Zwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Terroristische Straftaten oder Straftaten im Zusammenhang mit terroristischen Aktivitäten: Zwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
5. Los
5.1.
Los: LOT-0001
Titel: Elektronenmikroskop
Beschreibung: Es soll ein neues Elektronenmikroskop beschafft werden, gemäß nachfolgenden Anforderungen: Schottky-Feld-Emissions-Rasterelektronenmikroskop Vergrößerungsbereich 30x - 1.Mx Niedrigste Spannung 100V Maximale Spannung >=30kV Minimaler Strom 10pA Maximaler Strom 20nA Kontinuierlich frei justierbarer Probenstrom bei konstanter Beschleunigungsspannung (kV) System ist geeignet bei der geforderten maximalen Beschleunigungsspannung (AP4) EBSD-Messungen ohne messbare Beugungsverzerrungen (bspw. Bandverzerrungen) durchzuführen. Auflösung gemessen nach ISO 24597:2011: Unter Verwendung der Ableitungsmethode: gemessen an den 25/75 Perzentilen. Der AP 9 gilt für die nachfolgenden AP 10 und AP 11 sowie für deren jeweilige Anforderungsunterpunkte. Auflösung @ 15kV (kein "Stage Biasing") Dieser Test muss unter Berücksichtigung der EBSD-Abbildungbedingungen durchgeführt werden. So sollten z. B. keine magnetischen/elektrostatischen Linsenmodi verwendet werden, die die EBSD-Analytik stören. Die Auflösung sollte bei ein Spektroskopiearbeitsabstand des Mikroskops gemessen werden (typischerweise 8-10 mm). Auflösung @ 1kV 1,5nm Evhart Thornly Sekundärelektronendetektor (SE-Detektor) Ein Szintillator basierter In-Kammerarückstreudetektor oder ein Solid State ringförmiger Multisegmentrückstreudetektor (konzentrische Segmente) muss im Angebot enthalten sein. Sollte ein zweiter BSE-Detektor vom jeweils anderen Typ verfügbar sein, erstellen Sie bitte ein spezifisches Angebot unter optionalen Zubehör. Der BSE-Detektor sollte in einem breiten Beschleunigungsspannungsbereich (<1kV) bis zu 30kV betrieben werden können. Weiterhin muss der BSD-Detektor elektrisch motorisiert (nicht manuell) ein- und ausfahrbar sein. Hinweis: wählen Sie bitte für das Hauptangebot den jeweils höherwertigen BSE-Detektor für eine optimale Bildgebung der Ihnen zugesendeten Test- und Vergleichsproben aus. Solid State ringförmiger Multisegmentrückstreudetektor (konzentrische Segmente) 1. InLens Detektor Die Kombination von 1 oder mehreren In-Lens-Detektoren muss sowohl SE- als auch BS-Elektronen erkennen und eine getrennte SE- oder BSE-Abbildung ermöglichen (z. B. durch Filterung). Die Energiefilterung muss in der Säule erfolgen und dabei die Entfernung von SE-Elektronen und die Abbildung des reinen Rückstreusignals (oder in umgekehrter Funktion) ermöglichen. 2. InLens Detektor Hinweis: Zusätzliche Inlens-Detektoren MÜSSEN eine gleichzeitige Erfassung von Signalen mit den anderen Inlens-Detektoren ermöglichen, um zusätzliche Wertungpunkte zu erhalten. 3. InLens Detektor Hinweis: Zusätzliche Inlens-Detektoren MÜSSEN eine gleichzeitige Erfassung von Signale mit den anderen Inlens-Detektoren ermöglichen, um zusätzliche Wertungpunkte zu erhalten. Übersichtskamera welche in die Probenkammer gerichtet ist und eine generelle Übersicht über die Probenkammer hat. Die Übersichtskamera muss so positioniert sein, dass die EBSD-Kamera und der EDX- Detektor beim Ein- und Ausfahren gut zu sehen sind, ODER es muss eine zweite Kammerkamera für diesen Zweck vorhanden sein. Zweite Übersichtskammera Eine Kammera welche den Zweck erfüllt, eine Übersichtsaufnahme aus einer geeigneten Position zu tätigen welche es ermöglicht, an eine gewünschte Probenstelle (bzw. Position auf einem Probenhalter) zu navigieren. Die Navigationskammera kann auch unter Vakuum (geschlossene Arbeitskammer) verwendet werden. Auflösung bei Einzelbildaufnahme 20Mpix Technologie für eine Bildgebung mit einer höheren Spannung in der Säule, die beim Austritt in die Kammer auf eine niedrigere Bildgebungsspannung reduziert wird. Technologie zur gleichzeitigen Erkennung von mehreren Kanälen (Eingangssignalen für Bildgebung) 4 Kanäle Ausgabe von RAW-Bildern (ohne Bildbearbeitung) Stufenvorspannung für Strahlverzögerung Großes Sichtfeld (FOV) bei Spektroskopiearbeitsabstand (8-10 mm) 4mm Scanfeld-Rotation Dynamischer Fokus mit automatischer Fokussierung des dynamischen Fokus Automatische Justierung des Fokus (Autofokusfunktion) Automatische Justierung des Stigmators (Autostigmatorfunktion) Automatische Justierung/Ausrichtung der Blenden Driftkorrigierte Bildgebung Kompatibel mindestens zu folgenden analytischen Geräten der FA Oxford. Oxford Symmetry S2 (SN: 051J004543; Pt.Nr.: 51-1187-005; DoM: Nov 2020) und UltimMax 100 (SN: 051T000046; Pt.Nr.: 51-1137-098; DoM: Nov 2020) Vorhandene Analytik muss übernommen werden und in das zu beschaffene Neugerät integriert werden können. Der Funktionsumfang der Analytik muss vollumfänglich gewährleistet sein. Optischer und/oder akustischer Alarm sollten Teile (Halter oder Probe o.Ä.) in der Kammer Teile der Analytik berühren (Touchalarm). Simulationsbasiertes System zur Vermeidung von Kollisionen Anzahl der Adapter für externe Geräte 11 Adapterplätze Mindestanzahl der kompatiblen Adapterplätze für Rückstreudetektoren 2 Adapterplätze Mindestanzahl der kompatiblen Adapterplätze für EDS-Detektoren 2 Adapterplätze Kammerbreite bzw. -tiefe 250mm Probengewicht bei aktivierten X/Y/Z/R/T Achsen 500g Maximale Probengröße (Durchmesser, voller X/Y-Bereich) 100mm Maximale Probenhöhe 50mm Plasmareiniger im Standardlieferumfang Arbeitsbühne mit motorisierten X/Y/Z/R/T Achsen Stumpf- und Klemmhalter im Standardlieferumfang, wobei der Klemmhalter Proben von mindestens 50mmx50mm aufnehmen können muss. Je ein Halter X-Y-Bewegungsbereich (bei aktivierter Z/R/T Achse) 100mm Z-Bereich (bei aktivierter R/T Achse) 50mm Neigungsbereich (bspw. in Richtung der EBSD-Kammera) +70°/-5° Rotation um Z-Achse (volle 360°) mindestens 360° Faradayscher Becher für Sondenstromerfassung Ein Computersystem, moderner (DoM 2022+) Prozessor, mindestens i5 oder gleichwertige Komponente anderer Hersteller, oder besser, mindestens 32 GB Arbeitsspeicher, Windows 10 Betriebssystem oder höher Aufgrund der begrenzten Zeichenanzahl bitten wir Sie die vollständige Leistungsbeschreibung den Vergabeunterlagen zu entnehmen.
Interne Kennung: 2024/04-50982
5.1.1.
Zweck
Art des Auftrags: Lieferungen
Haupteinstufung (cpv): 38511000 Elektronenmikroskope
5.1.2.
Erfüllungsort
Postanschrift: Helmholtz-Zentrum hereon GmbH Max-Planck-Straße 1
Stadt: Geesthacht
Postleitzahl: 21502
Land, Gliederung (NUTS): Herzogtum Lauenburg (DEF06)
Land: Deutschland
Ort im betreffenden Land
5.1.4.
Verlängerung
Maximale Verlängerungen: 0
5.1.6.
Allgemeine Informationen
Die Namen und beruflichen Qualifikationen des zur Auftragsausführung eingesetzten Personals sind anzugeben: Noch nicht bekannt
Auftragsvergabeprojekt nicht aus EU-Mitteln finanziert
Die Beschaffung fällt unter das Übereinkommen über das öffentliche Beschaffungswesen: ja
5.1.7.
Strategische Auftragsvergabe
Ziel der strategischen Auftragsvergabe: Keine strategische Beschaffung
5.1.9.
Eignungskriterien
Kriterium:
Art: Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit
Bezeichnung: Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit
Beschreibung: Eigenerklärung zum Bestehen einer Berufs-/Betriebshaftpflichtversicherung mit Angabe der Deckungssumme je Versicherungsfall für Personen-, Sach- und Vermögensschäden. Ein Nachweis kann auf gesondertes Verlangen angefordert werden. Alternativ ist eine Eigenerklärung notwendig, dass im Auftragsfall eine entsprechende Betriebshaftpflichtversicherung abgeschlossen wird und ein Nachweis dazu spätestens bis Vertragsbeginn erfolgt. Eigenerklärung zum Umsatz des Bewerbers in den letzten drei abgeschlossenen Geschäftsjahren: Gesamtumsatz des Bewerbers sowie Umsatz des Bewerbers für mit den ausgeschriebenen Leistungen vergleichbaren Leistungen Kann ein Bewerber aus einem stichhaltigen Grund einen geforderten Nachweis nicht beibringen, so kann er seine Leistungsfähigkeit durch Vorlage anderer, vom Hereon für geeignet erachteter Belege nachweisen. Die Anforderung weiterer Eigenerklärungen und Bescheinigungen behält sich der Auftraggeber für am Ende des Teilnahmewettbewerbs ausgewählte Bieter und etwaige Nachunternehmer mit der Angebotsabgabe auf gesondertes Verlangen vor. Das Hereon behält sich vor, eine Wirtschaftsauskunft über den Bewerber einzuholen.
Kriterium:
Art: Eignung zur Berufsausübung
Bezeichnung: Eignung zur Berufsausübung
Beschreibung: Eigenerklärung über das Bestehen einer Eintragung im Handelsregister mit Angabe des registerführenden Amtsgerichts und der Handelsregisternummer oder einer vergleichbaren Eintragung (EU) bzw. dass keine Verpflichtung zu einer Eintragung in ein Handelsregister besteht Eigenerklärung zum Nichtvorliegen von Ausschlussgründen (§§ 123, 124 GWB)
Kriterium:
Art: Technische und berufliche Leistungsfähigkeit
Bezeichnung: Technische und berufliche Leistungsfähigkeit
Beschreibung: Auflistung und kurze Beschreibung der Eignungskriterien: Eigenerklärung über das jährliche Mittel der Beschäftigten für den maßgeblichen Bereich bzw. Geschäftsbereich Angaben über die Ausführung von vergleichbaren Leistungen/Referenzprojekten in den letzten maximal 3 abgeschlossenen Kalenderjahren (Eigenerklärungen; Stichtag 31.12. eines Jahres). Maßgeblich für die Vergleichbarkeit sind Referenzen, die dem Auftragsgegenstand entsprechen. Im Fall von Bewerbergemeinschaften können entsprechende Angaben für die Bewerbergemeinschaft insgesamt abgegeben werden. Die Referenzen sind gemäß Formblatt VVB 124_LD - Eigenerklaerung zur Eignung Liefer-_Dienstleistungen mit den dort genannten Angaben einzureichen. Bitte reichen Sie möglichst nicht mehr als 3 Referenzen ein und sortieren Sie diese nach ihrer Einschlägigkeit und Vergleichbarkeit mit dem Ausschreibungsgegenstand. Das Hereon kann in Einzelfällen die Vorlage von Referenzbescheinigungen der Referenzauftraggeber verlangen.
5.1.11.
Auftragsunterlagen
Sprachen, in denen die Auftragsunterlagen offiziell verfügbar sind: Deutsch
Frist für die Anforderung zusätzlicher Informationen: 05/08/2024 23:59:00 (UTC+2)
Ad-hoc-Kommunikationskanal:
5.1.12.
Bedingungen für die Auftragsvergabe
Bedingungen für die Einreichung:
Elektronische Einreichung: Erforderlich
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch
Elektronischer Katalog: Nicht zulässig
Varianten: Nicht zulässig
Die Bieter können mehrere Angebote einreichen: Nicht zulässig
Frist für den Eingang der Angebote: 13/08/2024 12:00:00 (UTC+2)
Frist, bis zu der das Angebot gültig sein muss: 59 Tage
Informationen, die nach Ablauf der Einreichungsfrist ergänzt werden können:
Nach Ermessen des Käufers können alle fehlenden Bieterunterlagen nach Fristablauf nachgereicht werden.
Zusätzliche Informationen: Zum Nachweis der Auflösung gemäß den obengenannten Anforderungen muss mit dem Angebot ein Bild bzw. Dokumentation einer Probemessung abgegeben werden. Proben können dazu beim Hereon bis zum 06.08.2024 kostenlos angefordert werden.
Informationen über die öffentliche Angebotsöffnung:
Eröffnungsdatum: 13/08/2024 12:00:00 (UTC+2)
Auftragsbedingungen:
Die Auftragsausführung muss im Rahmen von Programmen für geschützte Beschäftigungsverhältnisse erfolgen: Nein
Bedingungen für die Ausführung des Auftrags: Eigenerklärung DE Sanktionen 5k EU 2022_576_20220414.pdf"
Elektronische Rechnungsstellung: Erforderlich
Aufträge werden elektronisch erteilt: nein
Zahlungen werden elektronisch geleistet: nein
5.1.15.
Techniken
Rahmenvereinbarung: Keine Rahmenvereinbarung
Informationen über das dynamische Beschaffungssystem: Kein dynamisches Beschaffungssystem
5.1.16.
Weitere Informationen, Schlichtung und Nachprüfung
Überprüfungsstelle: Vergabekammer des Bundes beim Bundeskartellamt
Organisation, die zusätzliche Informationen über das Vergabeverfahren bereitstellt: Helmholtz-Zentrum hereon GmbH
Organisation, die Teilnahmeanträge entgegennimmt: Helmholtz-Zentrum hereon GmbH
TED eSender: Datenservice Öffentlicher Einkauf (in Verantwortung des Beschaffungsamts des BMI)
8. Organisationen
8.1.
ORG-0001
Offizielle Bezeichnung: Helmholtz-Zentrum hereon GmbH
Registrierungsnummer: 992-80187-74
Postanschrift: Max-Planck-Straße 1
Stadt: Geesthacht
Postleitzahl: 21502
Land, Gliederung (NUTS): Herzogtum Lauenburg (DEF06)
Land: Deutschland
Kontaktperson: Vergabestelle
Telefon: +49 4152870
Fax: +49 415287-1750
Rollen dieser Organisation:
Beschaffer
8.1.
ORG-0002
Offizielle Bezeichnung: Helmholtz-Zentrum hereon GmbH
Registrierungsnummer: 992-80187-74
Postanschrift: Max-Planck-Straße 1
Stadt: Geesthacht
Postleitzahl: 21502
Land, Gliederung (NUTS): Herzogtum Lauenburg (DEF06)
Land: Deutschland
Kontaktperson: Vergabestelle
Telefon: +49 4152870
Fax: +49 415287-1750
Rollen dieser Organisation:
Organisation, die zusätzliche Informationen über das Vergabeverfahren bereitstellt
8.1.
ORG-0003
Offizielle Bezeichnung: Vergabekammer des Bundes beim Bundeskartellamt
Registrierungsnummer: +49 2289499-0
Postanschrift: Villemomblerstraße76
Stadt: Bonn
Postleitzahl: 53113
Land, Gliederung (NUTS): Bonn, Kreisfreie Stadt (DEA22)
Land: Deutschland
Telefon: +49 2289499-0
Fax: +49 2289499-163
Rollen dieser Organisation:
Überprüfungsstelle
8.1.
ORG-0004
Offizielle Bezeichnung: Helmholtz-Zentrum hereon GmbH
Registrierungsnummer: 992-80187-74
Postanschrift: Max-Planck-Straße 1
Stadt: Geesthacht
Postleitzahl: 21502
Land, Gliederung (NUTS): Herzogtum Lauenburg (DEF06)
Land: Deutschland
Kontaktperson: Vergabestelle
Telefon: +49 4152870
Fax: +49 415287-1750
Rollen dieser Organisation:
Organisation, die Teilnahmeanträge entgegennimmt
8.1.
ORG-0005
Offizielle Bezeichnung: Datenservice Öffentlicher Einkauf (in Verantwortung des Beschaffungsamts des BMI)
Registrierungsnummer: 0204:994-DOEVD-83
Stadt: Bonn
Postleitzahl: 53119
Land, Gliederung (NUTS): Bonn, Kreisfreie Stadt (DEA22)
Land: Deutschland
Telefon: +49228996100
Rollen dieser Organisation:
TED eSender
11. Informationen zur Bekanntmachung
11.1.
Informationen zur Bekanntmachung
Kennung/Fassung der Bekanntmachung: 5ee841ca-1ce6-4898-b050-30282cdfe845 - 01
Formulartyp: Wettbewerb
Art der Bekanntmachung: Auftrags- oder Konzessionsbekanntmachung – Standardregelung
Unterart der Bekanntmachung: 16
Datum der Übermittlung der Bekanntmachung: 12/07/2024 13:34:52 (UTC+2)
Sprachen, in denen diese Bekanntmachung offiziell verfügbar ist: Deutsch
11.2.
Informationen zur Veröffentlichung
Veröffentlichungsnummer der Bekanntmachung: 423106-2024
ABl. S – Nummer der Ausgabe: 136/2024
Datum der Veröffentlichung: 15/07/2024