Öffentliche Ausschreibung Ilmenau 2021 In-situ Rasterelektronenmikroskop zur Nanodiagnostik (EDX, WDX, GIS, el. Messtechnik) Referenznummer der Bekanntmachung: TU-093/21-201-ZMN 2021-10-29

In-situ Rasterelektronenmikroskop zur Nanodiagnostik (EDX, WDX, GIS, el. Messtechnik) Referenznummer der Bekanntmachung: TU-093/21-201-ZMN

Auftragsbekanntmachung

Lieferauftrag

Rechtsgrundlage:

Richtlinie 2014/24/EU

Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber

I.1)Name und Adressen

Offizielle Bezeichnung:[gelöscht]
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Ilmenau
NUTS-Code: DEG0F Ilm-Kreis
Postleitzahl: 98693
Land: Deutschland
E-Mail: [gelöscht]
Fax: [gelöscht]
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: http://www.tu-ilmenau.de
Adresse des Beschafferprofils: http://www.evergabe-online.de

I.3)Kommunikation

Die Auftragsunterlagen stehen für einen uneingeschränkten und vollständigen direkten Zugang gebührenfrei zur Verfügung unter: https://www.evergabe-online.de/tenderdetails.html?id=420299

Weitere Auskünfte erteilen/erteilt die oben genannten Kontaktstellen

Angebote oder Teilnahmeanträge sind einzureichen elektronisch via: https://www.evergabe-online.de/tenderdetails.html?id=420299

Im Rahmen der elektronischen Kommunikation ist die Verwendung von Instrumenten und Vorrichtungen erforderlich, die nicht allgemein verfügbar sind. Ein uneingeschränkter und vollständiger direkter Zugang zu diesen Instrumenten und Vorrichtungen ist gebührenfrei möglich unter: https://www.evergabe-online.de/

I.4)Art des öffentlichen Auftraggebers

Einrichtung des öffentlichen Rechts

I.5)Haupttätigkeit(en)

Bildung

Abschnitt II: Gegenstand

II.1)Umfang der Beschaffung

II.1.1)Bezeichnung des Auftrags:

In-situ Rasterelektronenmikroskop zur Nanodiagnostik (EDX, WDX, GIS, el. Messtechnik)

Referenznummer der Bekanntmachung: TU-093/21-201-ZMN

II.1.2)CPV-Code Hauptteil

38511100 Rasterelektronenmikroskope

II.1.3)Art des Auftrags

Lieferauftrag

II.1.4)Kurze Beschreibung:

Die Technische Universität Ilmenau beabsichtigt, die technologische Ausstattung im Bereich der Forschung zur Mikro- und Nanotechnologie zu erweitern. Hierzu ist vorgesehen ein flexibel einsetzbares Rasterelektronenmikroskop für in-situ Anwendungen im Bereich der Nanodiagnostik zu beschaffen. Es sollen physikalische Fragestellungen orts- und zeitaufgelöst beantwortet werden. Dabei spielen unter anderem die kombinatorische in-situ rasterelektronenmikroskopische und elektrische sowie chemische Untersuchung und Charakterisierung u.a. von Gassensoren, von memristiver Elektronik sowie von Batteriematerialien eine Rolle. Diese als Schichten bzw. Bulk-Material vorliegenden Werkstoffe bestehen überwiegend aus Metallen, Metalloxiden, -sulfiden bzw. -nitriden. Zudem sind sowohl durch eine Gasinjektion während der Untersuchung im behandelten Probenbereich elektrische und chemische Messungen zum Nachweis der Veränderung der Schicht- und Bauteileigenschaften vorgesehen. Für den Nachweis von quantitativen Änderungen chemischer Art sind ein EDX und ein WDX System notwendig.

II.1.5)Geschätzter Gesamtwert

II.1.6)Angaben zu den Losen

Aufteilung des Auftrags in Lose: nein

II.2)Beschreibung

II.2.2)Weitere(r) CPV-Code(s)

38400000 Instrumente zum Prüfen von physikalischen Eigenschaften

38434560 Chemische Analysegeräte

38341300 Instrumente zum Messen elektrischer Größen

33158100 Elektromagnetische Anlage

II.2.3)Erfüllungsort

NUTS-Code: DEG0F Ilm-Kreis

Hauptort der Ausführung:

TU Ilmenau

II.2.4)Beschreibung der Beschaffung:

II.2.5)Zuschlagskriterien

Der Preis ist nicht das einzige Zuschlagskriterium; alle Kriterien sind nur in den Beschaffungsunterlagen aufgeführt

II.2.6)Geschätzter Wert

Wert ohne MwSt.: [Betrag gelöscht] EUR

II.2.7)Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung oder des dynamischen Beschaffungssystems

Laufzeit in Tagen: 1

Dieser Auftrag kann verlängert werden: nein

II.2.9)Angabe zur Beschränkung der Zahl der Bewerber, die zur Angebotsabgabe bzw. Teilnahme aufgefordert werden

Geplante Anzahl der Bewerber: 5

Objektive Kriterien für die Auswahl der begrenzten Zahl von Bewerbern:

Geplante Mindestzahl 2 und Höchstzahl 5

Objektive Kriterien für die Auswahl der begrenzten Zahl von Bewerbern: Mindestanforderungen, Kriteriengewichtung und Ermittlung des Ergebnisses

Zur Teilnahme berechtigt sind die maximal fünf Bewerber, die alle fünf Mindestanforderungen erfüllen haben und die fünf höchsten gewichteten und summierten Wertungen erhalten haben:

(W1) wirtschaftliche Gesamtsituation des Bieters - Absteigende Bewertung der fünf umsatzstärksten Bewerber (5-1 Pkt.) 10 %,

(W2) Umsatz von Systemen zur Rasterelektronenmikroskopie in Forschungseinrichtungen in den letzten 3 Jahren - Absteigende Bewertung der fünf umsatzstärksten Bewerber (5-1 Pkt.) 25 %,

(W3) Mitarbeiter und deren Qualifikationsstruktur im Bereich R&D - Absteigende Bewertung der fünf R&D-stärksten Bewerber (5-1 Pkt.) 15 %,

(T1) Referenzen von derzeit funktionstüchtigen und vergleichbaren Leistungen und Geräten in Europa bzw. weltweit - Absteigende Bewertung der fünf referenzstärksten Bewerber (5-1 Pkt.) 25 %,

(T2) aktuelle Mitarbeiterzahl und deren Qualifikationsstruktur im Applikationslabor - Absteigende Bewertung der fünf stärksten Bewerber (5-1 Pkt.) 15 %,

(T3) nächstgelegener Servicestandort - Absteigende Bewertung der Entfernung zum Erfüllungsort (5-1 Pkt.) 10 %,

II.2.10)Angaben über Varianten/Alternativangebote

Varianten/Alternativangebote sind zulässig: nein

II.2.11)Angaben zu Optionen

Optionen: nein

II.2.13)Angaben zu Mitteln der Europäischen Union

Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm, das aus Mitteln der EU finanziert wird: ja

Projektnummer oder -referenz:

2021 FGI 0033

II.2.14)Zusätzliche Angaben

Abschnitt III: Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Angaben

III.1)Teilnahmebedingungen

III.1.1)Befähigung zur Berufsausübung einschließlich Auflagen hinsichtlich der Eintragung in einem Berufs- oder Handelsregister

Auflistung und kurze Beschreibung der Bedingungen:

Angaben und Formalitäten, die erforderlich sind, um die Einhaltung der Auflagen zu überprüfen:

(M1) Erklärung, dass sich das Unternehmen weder in Liquidation befindet, noch dass über das Vermögen des Unternehmens das Insolvenz- bzw. Vergleichsverfahren eröffnet oder die Eröffnung beantragt worden ist,

(M2) Auszug aus dem Handelsregister/Gewerbezentralregister (nicht älter als 3 Monate),

(M3) Unbedenklichkeitsbescheinigung des Finanzamtes, der Krankenkassen, der Sozialversicherungsträger, der Berufsgenossenschaften und der Haftpflichtversicherung.

Die Nichterfüllung mindestens eines dieser Mindestanforderungen gilt als Ausschlusskriterium.

III.1.2)Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit

Auflistung und kurze Beschreibung der Eignungskriterien:

Unterlagen, welche

(W1) über die wirtschaftliche Gesamtsituation des Bieters,

(W2) den Umsatz von Systemen zur Rasterelektronenmikroskopie in Forschungseinrichtungen in den letzten 3 Jahren sowie

(W3) die aktuelle Mitarbeiterzahl und deren Qualifikationsstruktur im Bereich R&D für die Rasterelektronenmikroskopie

aussagekräftige Auskunft geben.

III.1.3)Technische und berufliche Leistungsfähigkeit

Auflistung und kurze Beschreibung der Eignungskriterien:

Mindestanforderung (Ausschlusskriterium):

(M4) Der Bewerber muss mindestens eine Referenzinstallation eines Systems zur Rasterelektronenmikroskopie mit einer der Beschaffung entsprechenden bzw. angelehnten Ausstattung in einer Forschungseinrichtung vorweisen können.

(M5) Vorhandensein eines eigenen Applikationslabors zur Rasterelektronenmikroskopie,

Bewertungskriterien:

(T1) Referenzen von derzeit funktionstüchtigen und vergleichbaren Leistungen und Geräten in Europa bzw. weltweit,

(T2) die aktuelle Mitarbeiterzahl und deren Qualifikationsstruktur im Applikationslabor sowie

(T3) nächstgelegener Servicestandort zum Erfüllungsort

Abschnitt IV: Verfahren

IV.1)Beschreibung

IV.1.1)Verfahrensart

Wettbewerblicher Dialog

IV.1.3)Angaben zur Rahmenvereinbarung oder zum dynamischen Beschaffungssystem

IV.1.8)Angaben zum Beschaffungsübereinkommen (GPA)

Der Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen: ja

IV.2)Verwaltungsangaben

IV.2.2)Schlusstermin für den Eingang der Angebote oder Teilnahmeanträge

Tag: 01/12/2021

Ortszeit: 09:30

IV.2.3)Voraussichtlicher Tag der Absendung der Aufforderungen zur Angebotsabgabe bzw. zur Teilnahme an ausgewählte Bewerber

IV.2.4)Sprache(n), in der (denen) Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können:

Deutsch

Abschnitt VI: Weitere Angaben

VI.1)Angaben zur Wiederkehr des Auftrags

Dies ist ein wiederkehrender Auftrag: nein

VI.2)Angaben zu elektronischen Arbeitsabläufen

Aufträge werden elektronisch erteilt

Die elektronische Rechnungsstellung wird akzeptiert

Die Zahlung erfolgt elektronisch

VI.3)Zusätzliche Angaben:

Zum Teilnahmewettbewerb (Erster Teil des Vergabeverfahrens):

Der Teilnahmewettbewerb dient zur Ermittlung der Eignung der Bewerber. Es werden im zweiten Teil des Vergabeverfahrens (Angebotsverfahren) nur Bewerber mit festgestellter Eignung zugelassen. Wird mindestens eine der Mindestanforderungen nicht erfüllt, liegt keine Eignung vor.

Entsprechend Abschnitt IV.1.2. wird aus den geeigneten Bewerbern unter Berücksichtigung der Bewertungsgewichtung eine Auswahl von maximal 5 Bewerbern herbeiführen.

Zum Angebotsverfahren (Zweiter Teil des Vergabeverfahrens):

In einer ersten Phase werden die ausgewählten maximal 5 Bewerber zur Erstellung Lösungskonzeptes und eines ersten verbindlichen Angebots aufgefordert. Diese Angebote sind Grundlage der nächsten Phasen mit Verhandlungsrunden mit maximal 3 Bietern. Im Bedarfsfall können Prozesstests zur Bewertung von Lösungskonzepten vorgesehen werden. In diesen Phasen kann nach Bewertung der vorgelegten Lösungskonzepte und Testergebnisse eine weitere Reduzierung der Teilnehmerzahl erfolgen.

Letztlich werden die im Verfahren verbleibenden Bieter final um ein Angebot gebeten, bevor die Vergabe mit der Auftragserteilung an den Bestbieter abgeschlossen wird.

Die Ausschluss- und Bewertungskriterien werden mit den jeweiligen Aufforderungen zur Angebotserstellung bzw. Prozesstest mitgeteilt.

VI.4)Rechtsbehelfsverfahren/Nachprüfungsverfahren

VI.4.1)Zuständige Stelle für Rechtsbehelfs-/Nachprüfungsverfahren

Offizielle Bezeichnung:[gelöscht]
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Weimar
Postleitzahl: 99423
Land: Deutschland
Telefon: [gelöscht]
Fax: [gelöscht]9

VI.4.3)Einlegung von Rechtsbehelfen

Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen:

entsprechend der Regelung gemäß §160 GWB

VI.4.4)Stelle, die Auskünfte über die Einlegung von Rechtsbehelfen erteilt

Offizielle Bezeichnung:[gelöscht]
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Ilmenau
Postleitzahl: 98693
Land: Deutschland
E-Mail: [gelöscht]
Fax: [gelöscht]
Internet-Adresse: http://www.tu-ilmenau.de

VI.5)Tag der Absendung dieser Bekanntmachung:

26/10/2021

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