AFM-System Referenznummer der Bekanntmachung: TU-073/21-201-ZMN
Bekanntmachung vergebener Aufträge
Ergebnisse des Vergabeverfahrens
Lieferauftrag
Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Ilmenau
NUTS-Code: DEG0F Ilm-Kreis
Postleitzahl: 98693
Land: Deutschland
E-Mail: [gelöscht]
Fax: [gelöscht]
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: http://www.tu-ilmenau.de
Adresse des Beschafferprofils: http://www.evergabe-online.de
Abschnitt II: Gegenstand
AFM-System
Dieses AFM soll ein vorhandenes AFM (Dimension V - Veeco/Bruker) ersetzen. Neben der in situ und in system Charakterisierung im UHV, stellt die ex situ AFM-Untersuchung eine wichtige Methode dar, die bei fast allen an der TU Ilmenau (meist mit Hilfe der metallorganischen Gas-phasenepitaxie - MOCVD) hergestellten Proben am Ende der Untersuchungen angewendet wird. Ein wichtiges Kriterium für die Proben ist die Oberflächenmorphologie - die präparierten Proben sollen normalerweise möglichst glatt sein.
Das beantragte Gerät soll zwei Erweiterungen beinhalten: einen nanoelektrischen und einen nanoelektrochemischen Modus. Im nanoelektrischen Modus ist es möglich, ortsaufgelöst Strom-Spannungskennlinien aufzunehmen. Des Weiteren sind Kelvin-Sonden-Messungen möglich, mit denen die Austrittsarbeit vermessen werden kann, die beispielsweise für die katalytischen Eigenschaften oder auch Korrosion an der Oberfläche von entscheidender Bedeutung ist. Der nanoelektrochemische Modus umfasst eine elektrochemische Zelle, so dass elektrochemische Messungen mit der AFM-Spitze im Elektroly-ten durchgeführt werden können.
TU Ilmenau
Dieses AFM soll ein vorhandenes AFM (Dimension V - Veeco/Bruker) ersetzen. Neben der in situ und in system Charakterisierung im UHV, stellt die ex situ AFM-Untersuchung eine wichtige Methode dar, die bei fast allen an der TU Ilmenau (meist mit Hilfe der metallorganischen Gas-phasenepitaxie - MOCVD) hergestellten Proben am Ende der Untersuchungen angewendet wird. Ein wichtiges Kriterium für die Proben ist die Oberflächenmorphologie - die präparierten Proben sollen normalerweise möglichst glatt sein. Man quantifiziert dies mittels AFM meist als RMS-Wert der Rauheit. Des Weiteren wird es mit AFM möglich, mikroskopische 3D-Strukturen direkt abzu-bilden und zu vermessen. Ein weiteres Kriterium bei den zu untersuchenden Proben ist die Stu-fenstruktur, da bei allen Proben Stufen auftreten, die abhängig von Präparation und Kristallorientierung verschieden ausprägt sind. Bei größeren Terrassen ist es möglich, mit Hilfe von AFM die Stufen direkt abzubilden, oder ggf. das Zusammenlaufen von Stufen (sog. Step-bunching) zu quantifizieren. Die Stufenstruktur ist für die Bildung von Defekten bei den III-V-Halbleitern von entscheidender Bedeutung. Im Allgemeinen wird für diese Topographischen Messungen ein stan-dardmäßiger AFM-Modus (Tapping Modus) verwendet. Unterschiede zwischen den Herstellern gibt es bezüglich der Auflösung und der möglichen Probengrößen. Das beantragte Gerät soll zwei Erweiterungen beinhalten: einen nanoelektrischen und einen nanoelektrochemischen Modus. Im nanoelektrischen Modus ist es möglich, ortsaufgelöst Strom-Spannungskennlinien aufzunehmen. Des Weiteren sind Kelvin-Sonden-Messungen möglich, mit denen die Austrittsarbeit vermessen werden kann, die beispielsweise für die katalytischen Eigenschaften oder auch Korrosion an der Oberfläche von entscheidender Bedeutung ist. Der nanoelektrochemische Modus umfasst eine elektrochemische Zelle, so dass elektrochemische Messungen mit der AFM-Spitze im Elektroly-ten durchgeführt werden können.
Abschnitt IV: Verfahren
Abschnitt V: Auftragsvergabe
AFM-System
Ort: Wissembourg
NUTS-Code: FR France
Land: Frankreich
Abschnitt VI: Weitere Angaben
Die Vergabeunterlagen stehen ausschließlich elektronisch unter der im Abschnitt I. 3
dieser Bekanntmachung/ Kommunikation angegebenen Internet-Adresse kostenfrei
zur Verfügung. Ein Anwendersupport für Bieter steht unter der Rufnummer: 0351
/4203-1422 zur Verfügung.
Hinweis zum Ausfüllen der EEE: Dienst zum Ausfüllen und Wiederverwenden der
EEE unter dem Link: https://uea.publicprocurement.be/filter?lang=de
Im nächsten Schritt „Ich bin ein Wirtschaftsteilnehmer“ anklicken und dann die
Option " eine Antwort
erstellen" anklicken
Bitte weiterhin darauf achten, das im Teil IV Eignungskriterien „JA“ angeben werden
muss um alle notwendigen Angaben eintragen zu können.
„Möchten Sie die Auswahlkriterien A-D verwenden? „JA“ anklicken.
Dann kann die EEE ausgefüllt und im gleichen Format (xml)
sowie als PDF-Datei exportiert/ gespeichert werden.
Zusätzlich zu den in Abschnitt III dieser Bekanntmachung notwendigen Angaben
sind die Teile I-III der EEE auszufüllen.
Gemäß §12a ThürVgG die nach diesem Gesetz verpflichtend vorzulegenden
rklärungen und Nachweise sind nur von demjenigen Bieter, dem nach Abschluss
der Wertung der Angebote der Zuschlag erteilt werden soll (Bestbieter), vorzulegen.
Der Bestbieter hat die vorzulegenden Erklärungen und Nachweise nach
Aufforderung innerhalb einer nach Tagen bestimmten Frist vorzulegen.
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Weimar
Postleitzahl: 99423
Land: Deutschland
Telefon: [gelöscht]
Fax: [gelöscht]9
entsprechend der Regelungen gemäß § 160 GWB
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Ilmenau
Postleitzahl: 98693
Land: Deutschland
E-Mail: [gelöscht]
Fax: [gelöscht]
Internet-Adresse: http://www.tu-ilmenau.de