Modulares Nanoskopie-System Referenznummer der Bekanntmachung: 03.21.O.00
Bekanntmachung vergebener Aufträge
Ergebnisse des Vergabeverfahrens
Lieferauftrag
Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Jena
NUTS-Code: DEG03 Jena, Kreisfreie Stadt
Postleitzahl: 07745
Land: Deutschland
E-Mail: [gelöscht]
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: https://www.leibniz-ipht.de
Abschnitt II: Gegenstand
Modulares Nanoskopie-System
Das Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. Jena schreibt ein modulares Nahfeld-Nanoskopie-System zur korrelierten nanoskaligen orts- und spektral-aufgelösten Aufnahme von Raman- und MIR-Spektren von komplexen biologischen Proben sowie niedermolekularen Substanzen aus. Es wird dabei Wert auf eine Kombination höchster optischer und „Rastersonden“-Empfindlichkeiten gelegt. Das Gerät muss dabei eine ortsaufgelöste Korrelation von spektralen (MIR und Raman), sowie typischen Rastersondenkontrast-Information (KPFM, Kraft-Distanz-Spektroskopie etc.) gewährleisten. Zur Optimierung der nanoskaligen MIR Spektroskopie an die anfallenden Messprobleme, muss das System sowohl die nanoskalige mechanische Detektion der IR-Spektren (z. B. photo-akustische Verfahren und photoinduzierte Methoden), als auch spektral aufgelöste nahfeld-optische Detektion (z.B. Nahfeld-SNOM, TERS, FTIR) ermöglichen.
Das Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. Jena schreibt ein modulares Nahfeld-Nanoskopie-System zur korrelierten nanoskaligen orts- und spektral-aufgelösten Aufnahme von Raman- und MIR-Spektren von komplexen biologischen Proben sowie niedermolekularen Substanzen aus. Es wird dabei Wert auf eine Kombination höchster optischer und „Rastersonden“-Empfindlichkeiten gelegt. Das Gerät muss dabei eine ortsaufgelöste Korrelation von spektralen (MIR und Raman), sowie typischen Rastersondenkontrast-Information (KPFM, Kraft-Distanz-Spektroskopie etc.) gewährleisten. Zur Optimierung der nanoskaligen MIR Spektroskopie an die anfallenden Messprobleme, muss das System sowohl die nanoskalige mechanische Detektion der IR-Spektren (z. B. photo-akustische Verfahren und photoinduzierte Methoden), als auch spektral aufgelöste nahfeld-optische Detektion (z.B. Nahfeld-SNOM, TERS, FTIR) ermöglichen.
2. Optionale Komponenten (bitte separat auspreisen)
− Werkzeugsatz,
− Kalibrierproben und –lampen,
− AFM Testspitzen
Abschnitt IV: Verfahren
Abschnitt V: Auftragsvergabe
Modulares Nanoskopie-System
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Haar
NUTS-Code: DE21H München, Landkreis
Postleitzahl: 85540
Land: Deutschland
Abschnitt VI: Weitere Angaben
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Weimar
Postleitzahl: 99423
Land: Deutschland