FTIR-Spektralellipsometer Referenznummer der Bekanntmachung: 05.21.O.00
Auftragsbekanntmachung
Lieferauftrag
Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Jena
NUTS-Code: DEG03 Jena, Kreisfreie Stadt
Postleitzahl: 07745
Land: Deutschland
E-Mail: [gelöscht]
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: http://www.leibniz-ipht.de
Abschnitt II: Gegenstand
FTIR-Spektralellipsometer
Das Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. Jena schreibt für die zerstörungsfreie Messung und Analyse der optischen Eigenschaften von planaren Multilagen-Dünnschichtsystemen im IR-Spektralbereich ein FTIR-Spektralellipsometer aus. Das anzuschaffende FTIR-Spektralellipsometer soll zur Bestimmung der komplexen Dielektrizitätsfunktion bzw. des komplexen Brechungsindex im Spektralbereich von 2 µm bis 30 µm der Einzelschichten von planaren Multilagen-Dünnschichtsystemen bestehend aus Materialien wie Dielektrika, Halbleiter, Polymere, Biofilme und Metalle eingesetzt werden. Die Modellierungs-Software des Gerätes soll die Entwicklung parametrischer Modelle von neuen, auch anisotropen Materialien, z.B. von IR-Breitbandabsorbern, von IR-Metamaterialien und von IR-Gradientenschichten, ermöglichen, ohne dass die Daten außerhalb des Meßbereichs mit einer Kramers-Kronig-Analyse extrapoliert werden müssen.
- Wertungskriterien: technische Spezifikationen 70 %, Preis 30%
Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. Albert-Einstein-Straße 9 07745 Jena
Das Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. Jena schreibt für die zerstörungsfreie Messung und Analyse der optischen Eigenschaften von planaren Multilagen-Dünnschichtsystemen im IR-Spektralbereich ein FTIR-Spektralellipsometer aus. Das anzuschaffende FTIR-Spektralellipsometer soll zur Bestimmung der komplexen Dielektrizitätsfunktion bzw. des komplexen Brechungsindex im Spektralbereich von 2 µm bis 30 µm der Einzelschichten von planaren Multilagen-Dünnschichtsystemen bestehend aus Materialien wie Dielektrika, Halbleiter, Polymere, Biofilme und Metalle eingesetzt werden. Die Modellierungs-Software des Gerätes soll die Entwicklung parametrischer Modelle von neuen, auch anisotropen Materialien, z.B. von IR-Breitbandabsorbern, von IR-Metamaterialien und von IR-Gradientenschichten, ermöglichen, ohne dass die Daten außerhalb des Meßbereichs mit einer Kramers-Kronig-Analyse extrapoliert werden müssen.
Abschnitt III: Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Angaben
- Besonderen Vertragsbedingungen für Lieferleistungen des Leibniz-IPHT Jena
- Eigenerklärungen gemäß ThürVgG
- Eigenerklärung für nicht präqualifizierte Unternehmen
Abschnitt IV: Verfahren
Abschnitt VI: Weitere Angaben
Bekanntmachungs-ID: CXP4YBRR42V
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Weimar
Postleitzahl: 99423
Land: Deutschland