Gerät für Rasterkraftmikroskopie (AFM atomic force microscopy) Referenznummer der Bekanntmachung: EU-OV/2023-67

Bekanntmachung vergebener Aufträge

Ergebnisse des Vergabeverfahrens

Lieferauftrag

Rechtsgrundlage:
Richtlinie 2014/24/EU

Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber

I.1)Name und Adressen
Offizielle Bezeichnung:[gelöscht]
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Jena
NUTS-Code: DEG03 Jena, Kreisfreie Stadt
Postleitzahl: 07743
Land: Deutschland
E-Mail: [gelöscht]
Telefon: [gelöscht]
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: https://www.uni-jena.de/
I.4)Art des öffentlichen Auftraggebers
Einrichtung des öffentlichen Rechts
I.5)Haupttätigkeit(en)
Andere Tätigkeit: Wissenschaft und Bildung

Abschnitt II: Gegenstand

II.1)Umfang der Beschaffung
II.1.1)Bezeichnung des Auftrags:

Gerät für Rasterkraftmikroskopie (AFM atomic force microscopy)

Referenznummer der Bekanntmachung: EU-OV/2023-67
II.1.2)CPV-Code Hauptteil
38000000 Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
II.1.3)Art des Auftrags
Lieferauftrag
II.1.4)Kurze Beschreibung:

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt ein Gerät für die Rasterkraftmikroskopie (AFM - Atomic Force Microscopy) anzuschaffen. Das System soll durch Rasterkraftmikroskopie (unterstützt durch optische Charakterisierung) geeignet sein, Oberflächen und darauf immobilisierte Strukturen mit nanoskaliger Auflösung zu charakterisieren und dabei die Topographie sowie mechanische Eigenschaften lateral aufgelöst sowohl an Luft wie auch in Flüssigkeiten darzustellen. Das System sollte aus einem AFM-Controller, einem AFM-Messkopf einschließlich motorisierter Probenaufnahme und einem inversen optischen Mikroskop bestehen, und die für den Betrieb notwendige Software und Vibrationsisolation beinhalten.

II.1.6)Angaben zu den Losen
Aufteilung des Auftrags in Lose: nein
II.1.7)Gesamtwert der Beschaffung (ohne MwSt.)
Wert ohne MwSt.: 378 030.00 EUR
II.2)Beschreibung
II.2.3)Erfüllungsort
NUTS-Code: DEG03 Jena, Kreisfreie Stadt
Hauptort der Ausführung:

Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. (Leibniz-IPHT), Albert-Einstein-Straße 9, 07745 Jena.

II.2.4)Beschreibung der Beschaffung:

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt ein Gerät für die Rasterkraftmikroskopie (AFM - Atomic Force Microscopy) anzuschaffen. Das System soll durch Rasterkraftmikroskopie (unterstützt durch optische Charakterisierung) geeignet sein, Oberflächen und darauf immobilisierte Strukturen mit nanoskaliger Auflösung zu charakterisieren und dabei die Topographie sowie mechanische Eigenschaften lateral aufgelöst sowohl an Luft wie auch in Flüssigkeiten darzustellen. Das System sollte aus einem AFM-Controller, einem AFM-Messkopf einschließlich motorisierter Probenaufnahme und einem inversen optischen Mikroskop bestehen, und die für den Betrieb notwendige Software und Vibrationsisolation beinhalten. weiteres siehe Anlage 2.

II.2.5)Zuschlagskriterien
Qualitätskriterium - Name: technische Spezifikationen / Gewichtung: 70
Preis - Gewichtung: 30
II.2.11)Angaben zu Optionen
Optionen: nein
II.2.13)Angaben zu Mitteln der Europäischen Union
Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm, das aus Mitteln der EU finanziert wird: ja
Projektnummer oder -referenz:

Az.1050-R5.5-3144/144-4-17423/2023

II.2.14)Zusätzliche Angaben

Als Budget steht ein maximaler Betrag in Höhe von 450.000,00 Euro brutto zur

Verfügung. Die Vergabestelle behält sich vor Angebote über diesem Wert von der

Wertung auszuschließen. Liegen alle Angebote über diesem Betrag ist die

Vergabestelle berechtigt die Ausschreibung aufzuheben. Die Lieferung inkl.

Installation & Einweisung hat bis spätestens zum 30.09.2023 fix zu erfolgen, da

andernfalls die für den Vertrag vorgesehenen Fördermittel nicht rechtzeitig

abgerufen werden können und verfallen. Schlussrechnung ist bis spätestens

05.10.2023 zu stellen.

Abschnitt IV: Verfahren

IV.1)Beschreibung
IV.1.1)Verfahrensart
Offenes Verfahren
IV.1.3)Angaben zur Rahmenvereinbarung oder zum dynamischen Beschaffungssystem
IV.1.8)Angaben zum Beschaffungsübereinkommen (GPA)
Der Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen: ja
IV.2)Verwaltungsangaben
IV.2.1)Frühere Bekanntmachung zu diesem Verfahren
Bekanntmachungsnummer im ABl.: 2023/S 079-235417
IV.2.8)Angaben zur Beendigung des dynamischen Beschaffungssystems
IV.2.9)Angaben zur Beendigung des Aufrufs zum Wettbewerb in Form einer Vorinformation

Abschnitt V: Auftragsvergabe

Auftrags-Nr.: EU-OV/2023-67
Bezeichnung des Auftrags:

Gerät für Rasterkraftmikroskopie (AFM atomic force microscopy)

Ein Auftrag/Los wurde vergeben: ja
V.2)Auftragsvergabe
V.2.1)Tag des Vertragsabschlusses:
12/06/2023
V.2.2)Angaben zu den Angeboten
Anzahl der eingegangenen Angebote: 1
Anzahl der eingegangenen Angebote von KMU: 1
Anzahl der eingegangenen Angebote von Bietern aus anderen EU-Mitgliedstaaten: 0
Anzahl der eingegangenen Angebote von Bietern aus Nicht-EU-Mitgliedstaaten: 0
Anzahl der elektronisch eingegangenen Angebote: 1
Der Auftrag wurde an einen Zusammenschluss aus Wirtschaftsteilnehmern vergeben: nein
V.2.3)Name und Anschrift des Wirtschaftsteilnehmers, zu dessen Gunsten der Zuschlag erteilt wurde
Offizielle Bezeichnung:[gelöscht]
Ort: Berlin
NUTS-Code: DE300 Berlin
Land: Deutschland
Der Auftragnehmer ist ein KMU: ja
V.2.4)Angaben zum Wert des Auftrags/Loses (ohne MwSt.)
Ursprünglich veranschlagter Gesamtwert des Auftrags/des Loses: 378 000.00 EUR
Gesamtwert des Auftrags/Loses: 378 030.00 EUR
V.2.5)Angaben zur Vergabe von Unteraufträgen

Abschnitt VI: Weitere Angaben

VI.3)Zusätzliche Angaben:

Das Verfahren unterliegt dem ThürVgG. Es gilt das Recht der Bundesrepublik

Deutschland unter Ausschluss internationaler Vereinbarungen.

VI.4)Rechtsbehelfsverfahren/Nachprüfungsverfahren
VI.4.1)Zuständige Stelle für Rechtsbehelfs-/Nachprüfungsverfahren
Offizielle Bezeichnung:[gelöscht]
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Weimar
Postleitzahl: 99423
Land: Deutschland
VI.4.3)Einlegung von Rechtsbehelfen
Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen:

Rügen der Bieter, in welchen diese einen Verstoß gegen die Vorschriften im

Vergabeverfahren vortragen, sind ausnahmslos (schriftlich oder E-Mail) an die

Vergabestelle zu richten. Hilft die Vergabestelle der Rüge nicht ab, wird mit

Eingang des entsprechenden Antwortschreibens der Vergabestelle, eine Frist von

15 Kalendertagen in Gang gesetzt (§ 160 Abs. 3 Nr. 4 GWB), innerhalb derer der

Bieter einen etwaigen Nachprüfungsantrag bei der Vergabekammer einreichen

kann.

VI.5)Tag der Absendung dieser Bekanntmachung:
15/06/2023

Wähle einen Ort aus Thueringen