Gerät für Rasterkraftmikroskopie (AFM atomic force microscopy) Referenznummer der Bekanntmachung: EU-OV/2023-67
Bekanntmachung vergebener Aufträge
Ergebnisse des Vergabeverfahrens
Lieferauftrag
Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Jena
NUTS-Code: DEG03 Jena, Kreisfreie Stadt
Postleitzahl: 07743
Land: Deutschland
E-Mail: [gelöscht]
Telefon: [gelöscht]
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: https://www.uni-jena.de/
Abschnitt II: Gegenstand
Gerät für Rasterkraftmikroskopie (AFM atomic force microscopy)
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt ein Gerät für die Rasterkraftmikroskopie (AFM - Atomic Force Microscopy) anzuschaffen. Das System soll durch Rasterkraftmikroskopie (unterstützt durch optische Charakterisierung) geeignet sein, Oberflächen und darauf immobilisierte Strukturen mit nanoskaliger Auflösung zu charakterisieren und dabei die Topographie sowie mechanische Eigenschaften lateral aufgelöst sowohl an Luft wie auch in Flüssigkeiten darzustellen. Das System sollte aus einem AFM-Controller, einem AFM-Messkopf einschließlich motorisierter Probenaufnahme und einem inversen optischen Mikroskop bestehen, und die für den Betrieb notwendige Software und Vibrationsisolation beinhalten.
Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. (Leibniz-IPHT), Albert-Einstein-Straße 9, 07745 Jena.
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt ein Gerät für die Rasterkraftmikroskopie (AFM - Atomic Force Microscopy) anzuschaffen. Das System soll durch Rasterkraftmikroskopie (unterstützt durch optische Charakterisierung) geeignet sein, Oberflächen und darauf immobilisierte Strukturen mit nanoskaliger Auflösung zu charakterisieren und dabei die Topographie sowie mechanische Eigenschaften lateral aufgelöst sowohl an Luft wie auch in Flüssigkeiten darzustellen. Das System sollte aus einem AFM-Controller, einem AFM-Messkopf einschließlich motorisierter Probenaufnahme und einem inversen optischen Mikroskop bestehen, und die für den Betrieb notwendige Software und Vibrationsisolation beinhalten. weiteres siehe Anlage 2.
Az.1050-R5.5-3144/144-4-17423/2023
Als Budget steht ein maximaler Betrag in Höhe von 450.000,00 Euro brutto zur
Verfügung. Die Vergabestelle behält sich vor Angebote über diesem Wert von der
Wertung auszuschließen. Liegen alle Angebote über diesem Betrag ist die
Vergabestelle berechtigt die Ausschreibung aufzuheben. Die Lieferung inkl.
Installation & Einweisung hat bis spätestens zum 30.09.2023 fix zu erfolgen, da
andernfalls die für den Vertrag vorgesehenen Fördermittel nicht rechtzeitig
abgerufen werden können und verfallen. Schlussrechnung ist bis spätestens
05.10.2023 zu stellen.
Abschnitt IV: Verfahren
Abschnitt V: Auftragsvergabe
Gerät für Rasterkraftmikroskopie (AFM atomic force microscopy)
Ort: Berlin
NUTS-Code: DE300 Berlin
Land: Deutschland
Abschnitt VI: Weitere Angaben
Das Verfahren unterliegt dem ThürVgG. Es gilt das Recht der Bundesrepublik
Deutschland unter Ausschluss internationaler Vereinbarungen.
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Weimar
Postleitzahl: 99423
Land: Deutschland
Rügen der Bieter, in welchen diese einen Verstoß gegen die Vorschriften im
Vergabeverfahren vortragen, sind ausnahmslos (schriftlich oder E-Mail) an die
Vergabestelle zu richten. Hilft die Vergabestelle der Rüge nicht ab, wird mit
Eingang des entsprechenden Antwortschreibens der Vergabestelle, eine Frist von
15 Kalendertagen in Gang gesetzt (§ 160 Abs. 3 Nr. 4 GWB), innerhalb derer der
Bieter einen etwaigen Nachprüfungsantrag bei der Vergabekammer einreichen
kann.