Rasterkraftmikroskop & Fluoreszenzmikroskop-Kombination zur nanoska-ligen Untersuchung und Manipulation von Bioproben unter BSL2/3 Bedin-gungen Referenznummer der Bekanntmachung: EU-OV/2023-86
Bekanntmachung vergebener Aufträge
Ergebnisse des Vergabeverfahrens
Lieferauftrag
Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Jena
NUTS-Code: DEG03 Jena, Kreisfreie Stadt
Postleitzahl: 07743
Land: Deutschland
E-Mail: [gelöscht]
Telefon: [gelöscht]
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: https://www.uni-jena.de/
Abschnitt II: Gegenstand
Rasterkraftmikroskop & Fluoreszenzmikroskop-Kombination zur nanoska-ligen Untersuchung und Manipulation von Bioproben unter BSL2/3 Bedin-gungen
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt ein Rasterkraftmikroskop & Fluoreszenzmikroskop-Kombination zur nanoskaligen Untersuchung und Manipulation von Bioproben unter BSL2/3 Bedingungen anzuschaffen.
Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. (Leibniz-IPHT), Albert-Einstein-Straße 9, 07745 Jena.
Dieses Gerät wird für synchrone Rasterkraft / Fluoreszenzmikroskopie unter Biosicherheitslevel 2 (BSL 2/3) Bedingungen ausgeschrieben. Das System soll durch die Kombination von Rasterkraftmikroskopie (AFM - Atomic Force Microscopy), hier insbesondere durch die Möglichkeit der direkten nanoskaligen Manipulation (Probenentnahme, Wirkstoffinjektion etc.), in der Lage sein, Oberflächen- und Grenzflächenphänomene von aktiven Bioproben unter realistischen Bedingungen (Luft, Wasserdampf und in Flüssigkeiten) mit nanoskaliger Auflösung zu untersuchen. Das System muss aus einem closed-loop (kapazitiv/induktiv) tip- und sample-scan AFM inklusive entsprechendem Controller und einem invers-aufgebauten optischen Mikroskop (ausgestattet mit einem weiteren, ebenfalls mit dem AFM synchronisierten und softwareseitig angesteuertem Ras-termikroskopie-Tisch) bestehen. Weiterhin muss das System die entsprechenden Pumpen zur Pro-benmanipulation enthalten (analog beispielsweise zu FluidFM Technology, Cytosurge AG, Schweiz) die das Ansaugen von Probenmaterial und/oder die Injektion von Substanzen über spezielle AFM Cantilever mit Nanometer genauer Lokalsierung ermöglicht.
Das System muss softwareseitig und mechanisch komplett in das invers aufgebaute optische Mikro-skop integriert sein und eine zukünftige Raman bzw. TERS (tip-enhanced Raman scattering) Erweite-rung ermöglichen. Wobei für Letzteres beispielsweise eine einfache Skriptlösung ausreicht, um vor-handene Spektrometer/CCD Systeme synchron mit dem AFM-System zu triggern (eine Erfassung, Darstellung und Auswertung der Spektren ist nicht notwendig).
Zwingend erforderlich ist ein Matching der AFM Aufnahmen und der Rasterkraftmessungen (bei-spielsweise über eine Kalibrierung via Kreuzkorrelation 2. bzw 3. Ordnung), um zuverlässig und reproduzierbar in den mit dem inversen Mikroskop erfassten optischen Fluoreszenz-, Hellfeld- oder Phasenkontrast-Bildern mit dem AFM weiter zu detektieren und insbesondere mit dem FluidFM System nanometer-genau Proben aufzunehmen, bzw. zu manipulieren.
Weiterhin muss das System regelmäßige Reinigungs- und Dekontaminationsszyklen, die in BSL 2 und 3 Sicherheitsbereichen anfallen, ohne Schaden überstehen. Hierfür wird ein Nachweis benötigt. Weiteres siehe Anlage 2.
Az.1050-R5.5-3144/144-4-17423/2023
Als Budget steht ein maximaler Betrag in Höhe von 550.000,00 Euro brutto zur
Verfügung. Die Vergabestelle behält sich vor Angebote über diesem Wert von der
Wertung auszuschließen. Liegen alle Angebote über diesem Betrag ist die
Vergabestelle berechtigt die Ausschreibung aufzuheben. Die Lieferung inkl.
Installation & Einweisung hat bis spätestens zum 30.09.2023 fix zu erfolgen, da
andernfalls die für den Vertrag vorgesehenen Fördermittel nicht rechtzeitig
abgerufen werden können und verfallen. Schlussrechnung ist bis spätestens
05.10.2023 zu stellen.
Abschnitt IV: Verfahren
Abschnitt V: Auftragsvergabe
Rasterkraftmikroskop & Fluoreszenzmikroskop-Kombination zur nanoska-ligen Untersuchung und Manipulation von Bioproben unter BSL2/3 Bedingungen
Ort: Berlin
NUTS-Code: DE300 Berlin
Land: Deutschland
Abschnitt VI: Weitere Angaben
Das Verfahren unterliegt dem ThürVgG. Es gilt das Recht der Bundesrepublik
Deutschland unter Ausschluss internationaler Vereinbarungen.
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Weimar
Postleitzahl: 99423
Land: Deutschland
Rügen der Bieter, in welchen diese einen Verstoß gegen die Vorschriften im
Vergabeverfahren vortragen, sind ausnahmslos (schriftlich oder E-Mail) an die
Vergabestelle zu richten. Hilft die Vergabestelle der Rüge nicht ab, wird mit
Eingang des entsprechenden Antwortschreibens der Vergabestelle, eine Frist von
15 Kalendertagen in Gang gesetzt (§ 160 Abs. 3 Nr. 4 GWB), innerhalb derer der
Bieter einen etwaigen Nachprüfungsantrag bei der Vergabekammer einreichen
kann.