EU-OV/2023-41 Referenznummer der Bekanntmachung: Rasterelektronenmikroskop
Bekanntmachung vergebener Aufträge
Ergebnisse des Vergabeverfahrens
Lieferauftrag
Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Jena
NUTS-Code: DEG03 Jena, Kreisfreie Stadt
Postleitzahl: 07743
Land: Deutschland
E-Mail: [gelöscht]
Telefon: [gelöscht]
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: https://www.uni-jena.de/
Abschnitt II: Gegenstand
EU-OV/2023-41
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für das Jena Center for Soft Matter (JCSM) und das Institut für Makromolekulare Chemie und Organische Chemie (IOMC) den Kauf eines High Vacuum Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops zur Untersuchung von polymeren Proben, selbstheilenden Materialien, polymeren Nanopartikeln und Materialien aus der Batterieforschung. Das Gerät soll explizit die vorhandenen Infrastruktur erweitern. Im JCSM steht bereits ein FE-Rasterelektronenmikroskop mit „variable pressure-Option“, EDX-Einheit und einem Probenheiztisch von RT bis 300 °C zur Verfügung. Das zu beschaffende Gerät soll diese Infrastruktur, insbesondere im Hinblick für die Untersuchung der unter 1. genannten Probensysteme, sinnvoll erweitern. Eine Dopplung des Zubehörs (VP, EDX und Heizhalter) wird nicht angestrebt.
1. Einsatzgebiete / Hauptaufgabenstellungen
- Untersuchung von weichen Proben Systemen auf Polymerbasis (Soft Matter)
- Hydrogele
- Analyse von Nanopartikeln
- Selbstheilende Materialien
- Untersuchung von Probensystemen aus dem Bereich der Batterieforschung
- Untersuchung von Proben bei tiefen Temperaturen
Friedrich-Schiller-Universität Jena, CEEC Jena II und AWZ CEEC Jena, Lessingstraße 12-14, 07743 Jena
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für das Jena Center for Soft Matter (JCSM) und das Institut für Makromolekulare Chemie und Organische Chemie (IOMC) den Kauf eines High Vacuum Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops zur Untersuchung von polymeren Proben, selbstheilenden Materialien, polymeren Nanopartikeln und Materialien aus der Batterieforschung. Das Gerät soll explizit die vorhandenen Infrastruktur erweitern. Im JCSM steht bereits ein FE-Rasterelektronenmikroskop mit „variable pressure-Option“, EDX-Einheit und einem Probenheiztisch von RT bis 300 °C zur Verfügung. Das zu beschaffende Gerät soll diese Infrastruktur, insbesondere im Hinblick für die Untersuchung der unter 1. genannten Probensysteme, sinnvoll erweitern. Eine Dopplung des Zubehörs (VP, EDX und Heizhalter) wird nicht angestrebt.
1. Einsatzgebiete / Hauptaufgabenstellungen
- Untersuchung von weichen Proben Systemen auf Polymerbasis (Soft Matter)
- Hydrogele
- Analyse von Nanopartikeln
- Selbstheilende Materialien
- Untersuchung von Probensystemen aus dem Bereich der Batterieforschung
- Untersuchung von Proben bei tiefen Temperaturen
Abschnitt IV: Verfahren
Abschnitt V: Auftragsvergabe
EU-OV/2023-41
Ort: Dreieich
NUTS-Code: DE71C Offenbach, Landkreis
Land: Deutschland
Abschnitt VI: Weitere Angaben
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Weimar
Postleitzahl: 99423
Land: Deutschland
Rügen der Bieter, in welchen diese einen Verstoß gegen die Vorschriften im
Vergabeverfahren vortragen, sind ausnahmslos (schriftlich oder per E-Mail) an
die Vergabestelle zu richten. Hilft die Vergabestelle der Rüge nicht ab, wird mit
Eingang des entsprechenden Antwortschreibens der Vergabestelle, eine Frist von
15 Kalendertagen in Gang gesetzt (§ 160 Abs. 3 Nr. 4 GWB), innerhalb derer der
Bieter einen etwaigen Nachprüfungsantrag bei der Vergabekammer einreichen
kann.