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1. Beschaffer
1.1.
Beschaffer
Offizielle Bezeichnung: Universität Hamburg
Rechtsform des Erwerbers: Von einer regionalen Gebietskörperschaft kontrollierte Einrichtung des öffentlichen Rechts
Tätigkeit des öffentlichen Auftraggebers: Bildung
2. Verfahren
2.1.
Verfahren
Titel: Nanofokussierende Advanced-Kirkpatrick-Baez-Optik (AKBs)
Beschreibung: Gegenstand des Vorhabens ist die Beschaffung und Integration einer nanofokussierenden Advanced-Kirkpatrick-Baez-Optik (AKBs) zur Erweiterung der Fokus-Modalitäten des bestehenden MID-Imaging-Instruments am European XFEL (Hamburg). Ultrakurzzeit-Experimente im Attosekunden- bis Femtosekundenbereich sind ein sich dynamisch entwickelndes Forschungsfeld mit hoher internationaler Wettbewerbsintensität, in dem nur wenige Großforschungsinfrastrukturen weltweit experimentell führend sind. Weltweit investieren führende Großforschungseinrichtungen gezielt in entsprechende Infrastruktur, um die zeitaufgelöste Bildgebung und Spektroskopie auf Nanometer- und Attosekunden-Skalen zu realisieren. Die Leistungsfähigkeit der eingesetzten Fokussieroptiken stellt dabei einen der zentralen limitierenden Faktoren dar. Ziel ist die Erzeugung eines hochstabilen Nanofokus, der Experimente mit der Cut-off-Energy des Lα-Gold-Linienbereichs ermöglicht. Um eine fristgerechte Integration der Fokussieroptik in die bestehende MID-Vakuumkammer des European XFEL ohne konstruktive Umbauten zu ermöglichen, ist die Gesamtlänge der nanofokussierenden Optik auf 900 mm festzulegen. Die erforderliche optische Apertur von 700 μm ist durch die Strahlgröße des European XFEL bestimmt und stellt die minimale Voraussetzung zur verlustfreien Strahlakzeptanz dar. Die AKBs stellen die erforderliche Kombination aus Nanofokus, Stabilität und Wellenfrontqualität bereit, die für Experimente im Attosekunden- bis Femtosekundenbereich zwingend erforderlich ist. Die AKBs werden in Vakuum betrieben, um die Fokusqualität sowie Wellenfrontstabilität zu maximieren und kontaminationsfreie Spiegeloberflächen sicherzustellen, was für die extreme Präzision bei FEL-Pulses entscheidend ist und die Langlebigkeit der Optiken gewährleistet.
Kennung des Verfahrens: a27d357c-545d-4049-b033-129a76e9a85e
Interne Kennung: UHH_2026009_VVfoTnW
Verfahrensart: Verhandlungsverfahren ohne Aufruf zum Wettbewerb
2.1.1.
Zweck
Art des Auftrags: Lieferleistungen
Haupteinstufung (cpv): 38600000 Optische Instrumente
2.1.2.
Erfüllungsort
Postanschrift: Notkestraße 85
Stadt: Hamburg
Postleitzahl: 22607
Land, Gliederung (NUTS): Hamburg (DE600)
Land: Deutschland
2.1.4.
Allgemeine Informationen
Rechtsgrundlage:
Richtlinie 2014/24/EU
vgv - § 14 Abs. 4 Nr. 2b VgV
5. Los
5.1.
Los: LOT-0001
Titel: Nanofokussierende Advanced-Kirkpatrick-Baez-Optik
Beschreibung: Gegenstand des Vorhabens ist die Beschaffung und Integration einer nanofokussierenden Advanced-Kirkpatrick-Baez-Optik (AKBs) zur Erweiterung der Fokus-Modalitäten des bestehenden MID-Imaging-Instruments am European XFEL (Hamburg). Ultrakurzzeit-Experimente im Attosekunden- bis Femtosekundenbereich sind ein sich dynamisch entwickelndes Forschungsfeld mit hoher internationaler Wettbewerbsintensität, in dem nur wenige Großforschungsinfrastrukturen weltweit experimentell führend sind. Weltweit investieren führende Großforschungseinrichtungen gezielt in entsprechende Infrastruktur, um die zeitaufgelöste Bildgebung und Spektroskopie auf Nanometer- und Attosekunden-Skalen zu realisieren. Die Leistungsfähigkeit der eingesetzten Fokussieroptiken stellt dabei einen der zentralen limitierenden Faktoren dar. Ziel ist die Erzeugung eines hochstabilen Nanofokus, der Experimente mit der Cut-off-Energy des Lα-Gold-Linienbereichs ermöglicht. Um eine fristgerechte Integration der Fokussieroptik in die bestehende MID-Vakuumkammer des European XFEL ohne konstruktive Umbauten zu ermöglichen, ist die Gesamtlänge der nanofokussierenden Optik auf 900 mm festzulegen. Die erforderliche optische Apertur von 700 μm ist durch die Strahlgröße des European XFEL bestimmt und stellt die minimale Voraussetzung zur verlustfreien Strahlakzeptanz dar. Die AKBs stellen die erforderliche Kombination aus Nanofokus, Stabilität und Wellenfrontqualität bereit, die für Experimente im Attosekunden- bis Femtosekundenbereich zwingend erforderlich ist. Die AKBs werden in Vakuum betrieben, um die Fokusqualität sowie Wellenfrontstabilität zu maximieren und kontaminationsfreie Spiegeloberflächen sicherzustellen, was für die extreme Präzision bei FEL-Pulses entscheidend ist und die Langlebigkeit der Optiken gewährleistet.
Interne Kennung: UHH_2026009_VVfoTnW
5.1.1.
Zweck
Art des Auftrags: Lieferleistungen
Haupteinstufung (cpv): 38511100 Rasterelektronenmikroskope
Optionen:
Beschreibung der Optionen: Keine Verlängerungsoption. Mit dem Angebot bzw. Beauftragung sind alle Leistungen abgedeckt.
5.1.2.
Erfüllungsort
Stadt: Hamburg
Postleitzahl: 22607
Land, Gliederung (NUTS): Hamburg (DE600)
Land: Deutschland
5.1.3.
Geschätzte Dauer
Datum des Beginns: 25/08/2025
5.1.6.
Allgemeine Informationen
Auftragsvergabeprojekt nicht aus EU-Mitteln finanziert
Die Beschaffung fällt unter das Übereinkommen über das öffentliche Beschaffungswesen: ja
5.1.7.
Strategische Auftragsvergabe
Ziel der strategischen Auftragsvergabe: Keine strategische Beschaffung
5.1.10.
Zuschlagskriterien
Kriterium:
Art: Qualität
Beschreibung: Unter Berücksichtigung der technischen Anforderungen ist ausschließlich das zu erwerbende Gerät für die geplante Erweiterung für die Universität Hamburg geeignet.
5.1.15.
Techniken
Rahmenvereinbarung:
Keine Rahmenvereinbarung
Informationen über das dynamische Beschaffungssystem:
Kein dynamisches Beschaffungssystem
5.1.16.
Weitere Informationen, Schlichtung und Nachprüfung
Überprüfungsstelle: Finanzbehörde Hamburg
Informationen über die Überprüfungsfristen: Es wird auf § 160 Abs. 3 GWB hingewiesen. Ein Antrag ist demnach unzulässig, soweit 1. der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von zehn Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Absatz 2 GWB bleibt unberührt, 2. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, 3. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, 4. mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind.
Organisation, die Informationen über den allgemeinen, am Ort der Ausführung des Auftrags geltenden steuerrechtlichen Rahmen bereitstellt: Universität Hamburg
Organisation, die zusätzliche Informationen über das Vergabeverfahren bereitstellt: Universität Hamburg
Organisation, die einen Offline-Zugang zu den Vergabeunterlagen bereitstellt: Universität Hamburg
Organisation, die weitere Informationen für die Nachprüfungsverfahren bereitstellt: Universität Hamburg
Organisation, aus deren Mitteln der Auftrag bezahlt wird: Universität Hamburg
Organisation, die die Zahlung ausführt: Universität Hamburg
Organisation, die den Auftrag unterzeichnet: Universität Hamburg
6. Ergebnisse
Wert aller in dieser Bekanntmachung vergebenen Verträge: 322 000,00 EUR
Direktvergabe:
Begründung der Direktvergabe: Der Auftrag kann nur von einem bestimmten Wirtschaftsteilnehmer ausgeführt werden, da aus technischen Gründen kein Wettbewerb vorhanden ist
Sonstige Begründung: Gegenstand des Vorhabens ist die Beschaffung und Integration einer nanofokussierenden Advanced-Kirkpatrick-Baez-Optik (AKBs) zur Erweiterung der Fokus-Modalitäten des bestehenden MID-Imaging-Instruments am European XFEL (Hamburg). Ultrakurzzeit-Experimente im Attosekunden- bis Femtosekundenbereich sind ein sich dynamisch entwickelndes Forschungsfeld mit hoher internationaler Wettbewerbsintensität, in dem nur wenige Großforschungsinfrastrukturen weltweit experimentell führend sind. Weltweit investieren führende Großforschungseinrichtungen gezielt in entsprechende Infrastruktur, um die zeitaufgelöste Bildgebung und Spektroskopie auf Nanometer- und Attosekunden-Skalen zu realisieren. Die Leistungsfähigkeit der eingesetzten Fokussieroptiken stellt dabei einen der zentralen limitierenden Faktoren dar. Ziel ist die Erzeugung eines hochstabilen Nanofokus, der Experimente mit der Cut-off Energy des Lα-Gold-Linienbereichs ermöglicht. Um eine fristgerechte Integration der Fokussieroptik in die bestehende MID-Vakuumkammer des European XFEL ohne konstruktive Umbauten zu ermöglichen, ist die Gesamtlänge der nanofokussierenden Optik auf 900 mm festzulegen. Die erforderliche optische Apertur von 700 μm ist durch die Strahlgröße des European XFEL bestimmt und stellt die minimale Voraussetzung zur verlustfreien Strahlakzeptanz dar. Die AKBs stellen die erforderliche Kombination aus Nanofokus, Stabilität und Wellenfrontqualität bereit, die für Experimente im Attosekunden- bis Femtosekundenbereich zwingend erforderlich ist. Die AKBs werden im Vakuum betrieben, um die Fokusqualität sowie Wellenfrontstabilität zu maximieren und kontaminationsfreie Spiegeloberflächen sicherzustellen, was für die extreme Präzision bei FEL-Pulses entscheidend ist und die Langlebigkeit der Optiken gewährleistet. Für die Beschaffung sind folgende technische Mindestanforderungen an das Gerät gestellt, um das geplante Forschungsvorhaben durchführen zu können: - Gesamtlänge = 900 mm, entsprechend der MID-Vakuumkammer, - Optische Apertur = 700 μm, vorgegeben durch die Strahlparameter am European XFEL, - Cut-off-Energy = 12 keV, erforderlich für die geplante Forschungsfrage - Vakuumtauglichkeit, um Streuung zu vermeiden und Oberflächenkontamination zu minimieren, - Minimaler Formfehler über die gesamte optische Apertur, um die experimentell erforderliche Fokusgröße zu erreichen, - Stabilität unter FEL-Pulsbedingungen, - Reproduzierbare Einstellung und Ausrichtung im Nanometerbereich, kompatibel mit vorhandener Beamline-Mechanik und Diagnostik. Die JTEC Corporation aus Japan verfügt über patentierte Fertigungs- und Korrekturverfahren für ultrapräzise KB-Spiegel, die für XFEL-Anwendungen relevant sind. Zu den Verfahren gehören: - deterministische Sub-Nanometer-Korrektur elliptischer Spiegelprofile, - hochstabile Einkristallspiegeloptik mit hochwertiger Beschichtung für hohe FEL-Pulspower sowie - die Einhaltung der Gesamtlänge von 900 mm. Diese Verfahren sind patentgeschützt oder firmeneigenes Know-how. Ein zentrales Patent in diesem Bereich ist das europäische Patent EP 2521136 B1, veröffentlicht unter dem Titel „Mirror device for controlling the shape of a reflective surface, and method for producing a mirror for controlling the shape of a reflective surface“. Dieses Patent wurde gemeinsam von der Osaka University und der JTEC Corporation angemeldet und 2017 erteilt. Die patentierte Vorrichtung adressiert die Form- und Wellenfrontkontrolle, die für Nanofokus-Optiken bei FELs erforderlich ist. Die Umsetzung dieser technischen Funktion erfordert spezielle Fertigungsverfahren, die Bestandteil des Angebots von JTEC sind. Gem. der sich ergebenden technischen Anforderungen i. V. m. den patentgeschützten technischen Umsetzungen erfolgt die Beschaffung daher beim Lieferanten JTEC Corporation aus Japan; eine alternative Beschaffungsmöglichkeit bei anderen Wettbewerbern konnte nicht ermittelt werden.
8. Organisationen
8.1.
ORG-0001
Offizielle Bezeichnung: Universität Hamburg
Registrierungsnummer: DE245584140
Abteilung: Referat Einkauf und Dienstreisen - Strategischer Einkauf
Postanschrift: Mittelweg 177
Stadt: Hamburg
Postleitzahl: 20148
Land, Gliederung (NUTS): Hamburg (DE600)
Land: Deutschland
Kontaktperson: Strategischer Einkauf
Telefon: 040428386143
Rollen dieser Organisation:
Beschaffer
Zentrale Beschaffungsstelle, die öffentliche Aufträge oder Rahmenvereinbarungen im Zusammenhang mit für andere Beschaffer bestimmten Bauleistungen, Lieferungen oder Dienstleistungen vergibt/abschließt
Organisation, die zusätzliche Informationen über das Vergabeverfahren bereitstellt
Organisation, die einen Offline-Zugang zu den Vergabeunterlagen bereitstellt
Organisation, die weitere Informationen für die Nachprüfungsverfahren bereitstellt
Organisation, die Informationen über den allgemeinen, am Ort der Ausführung des Auftrags geltenden steuerrechtlichen Rahmen bereitstellt
Organisation, die den Auftrag unterzeichnet
Organisation, aus deren Mitteln der Auftrag bezahlt wird
Organisation, die die Zahlung ausführt
8.1.
ORG-0003
Offizielle Bezeichnung: Finanzbehörde Hamburg
Registrierungsnummer: fc2a82a7-8962-48a4-bf78-45738e80fa10
Abteilung: Vergabekammer - Rechts- und Abgabenabteilung
Stadt: Hamburg
Postleitzahl: 20306
Land, Gliederung (NUTS): Hamburg (DE600)
Land: Deutschland
Telefon: +49 40428231690
Rollen dieser Organisation:
Überprüfungsstelle
8.1.
ORG-0004
Offizielle Bezeichnung: JTEC CORPORATION
Größe des Wirtschaftsteilnehmers: Mittleres Unternehmen
Registrierungsnummer: 33012010401
Abteilung: Sales Office
Stadt: Osaka
Postleitzahl: 567-0086
Land: Japan
Telefon: +81726432292
Fax: +81726432391
Rollen dieser Organisation:
Bieter
Wirtschaftlicher Eigentümer:
Offizielle Bezeichnung: JTEC CORPORATION
Postanschrift: 2-5-38 Saito-Yamabuki
Stadt: Osaka
Postleitzahl: 567-0086
Land: Japan
Telefon: +81726432292
Fax: +81726432391
8.1.
ORG-0005
Offizielle Bezeichnung: Datenservice Öffentlicher Einkauf (in Verantwortung des Beschaffungsamts des BMI)
Registrierungsnummer: 0204:994-DOEVD-83
Stadt: Bonn
Postleitzahl: 53119
Land, Gliederung (NUTS): Bonn, Kreisfreie Stadt (DEA22)
Land: Deutschland
Telefon: +49228996100
Rollen dieser Organisation:
TED eSender
Informationen zur Bekanntmachung
Kennung/Fassung der Bekanntmachung: 434ff2fb-a3b3-40ee-a89f-38f78fc6677e - 01
Formulartyp: Vorankündigung – Direktvergabe
Art der Bekanntmachung: Freiwillige Ex-ante-Transparenzbekanntmachung
Unterart der Bekanntmachung: 25
Datum der Übermittlung der Bekanntmachung: 29/01/2026 13:40:18 (UTC+01:00) Mitteleuropäische Zeit, Westeuropäische Sommerzeit
Sprachen, in denen diese Bekanntmachung offiziell verfügbar ist: Deutsch
Veröffentlichungsnummer der Bekanntmachung: 69967-2026
ABl. S – Nummer der Ausgabe: 21/2026
Datum der Veröffentlichung: 30/01/2026