OV_LK_Zweistrahlrastermikroskop (Plasma FIB) Referenznummer der Bekanntmachung: IKZ-2023-0024

Bekanntmachung vergebener Aufträge

Ergebnisse des Vergabeverfahrens

Lieferauftrag

Rechtsgrundlage:
Richtlinie 2014/24/EU

Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber

I.1)Name und Adressen
Offizielle Bezeichnung: Forschungsverbund Berlin e.V.
Postanschrift: Rudower Chaussee 17
Ort: Berlin
NUTS-Code: DE300 Berlin
Postleitzahl: 12489
Land: Deutschland
Kontaktstelle(n): Forschungsverbund Berlin e.V.
E-Mail:
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: http://www.fv-berlin.de
I.4)Art des öffentlichen Auftraggebers
Andere: eingetragener Verein
I.5)Haupttätigkeit(en)
Andere Tätigkeit: Forschung im freien Feld

Abschnitt II: Gegenstand

II.1)Umfang der Beschaffung
II.1.1)Bezeichnung des Auftrags:

OV_LK_Zweistrahlrastermikroskop (Plasma FIB)

Referenznummer der Bekanntmachung: IKZ-2023-0024
II.1.2)CPV-Code Hauptteil
38511100 Rasterelektronenmikroskope
II.1.3)Art des Auftrags
Lieferauftrag
II.1.4)Kurze Beschreibung:

Das Leibniz-Institut für Kristallzüchtung im Forschungsverbund Berlin e.V. baut im Rahmen eines Förderprojektes des Europäischen Fonds für Regionale Entwicklung ein Applikationslabor für die In-situ-(Raster)Transmissionselektronenmikroskopie ((S)TEM) auf, um die Entwicklung von Materialien für die Anwendung in mikroelektronischen, optoelektronischen und Leistungsbauelementen voranzutreiben. ln-situ- und ln-operando-Techniken haben sich international als Schlüssel zur Weiterentwicklung von Materialien und Bauelementen etabliert. Dazu werden in der Probenumgebung des TEM durch äußere Stimuli Bedingungen geschaffen, denen die untersuchte Probe oder das Bauelement unter realen Bedingungen ausgesetzt wird. Auf diese Weise lassen sich die relevanten strukturellen, chemischen und elektronischen Veränderungen auf einer breiten Größenskala bis hin zu einzelnen Atomen in-situ und in-operando visualisieren, verstehen und manipulieren.

Zur reproduzierbaren Herstellung elektronentransparenter Proben für die In-situ-Transmissionselektronenmikroskopie soll ein Zweistrahlrastermikroskop beschafft werden, das neben einer Elektronensäule mit einer Ionensäule zur Nanobearbeitung von Materialien ausgestattet ist. Um den hohen Ansprüchen an die strukturelle Perfektion der Proben, Reproduzierbarkeit und Durchsatz, sowie das breite Spektrum an Materialien (Halbeiter, Dielektrika, Oxide, Nitride, 2D-Materialien, organisch-anorganische Heterostrukturen) und die Vielfalt der Anwendungen (z. B. Probenbearbeitung, 3D "Slice-and-View", Herstellung von elektronischen Testdevices) gerecht zu werden, ist eine Plasma-FIB erforderlich, die neben Xenon, Argon, Sauerstoff, Stickstoff als Primärstrahl in derselben Ionenquelle nutzt. Gegenüber den üblicherweise genutzten Ga-Quellen bieten solche Plasmaquellen den Vorteil, die optimierte Ionenquelle für die jeweilige Anwendung (hoher Abtrag oder geringe Schädigung) und das jeweilige Material wählen zu können und innerhalb eines Dünnungsprozesses den Ionentyp wechseln zu können. Zur Untersuchungen von Oberflächen und Nanostrukturen soll die Elektronenquelle so gestaltet sein, dass eine Orstauflösung kleiner oder gleich 1nm für alle nutzbaren Beschlunigungsspannungen erreicht wird. Das zu beschaffende Gerät soll automatisierte Probenbearbeitung und programmierbare Workflows erlauben, um angepasste Routinen für verschiedenste Anwendungsfälle zu erarbeiten und die Prozesse zu automatisieren. Die Forschungsdaten werden nach den FAIR-Prinzipien (Findable, Accessible, Interoperable, Reusable) strukturiert gesichert, um sie mit KI basierten Tools auszuwerten und zu bearbeiten. Das Gerät soll im Rahmen eines offenen Laborkonzepts eingesetzt werden in dem Forscher*innen es unter Anleitung nutzen.

Der Auftragnehmer muss die Anlage an den Verwendungsort im Physikgebäude der Humboldt-Universität zu Berlin in Adlershof (Raum 0.512), Newtonstraße 15, 12489 Berlin, liefern, dort vollständig installieren und in Betrieb nehmen.

Eine Vorort-Inspektion der Räumlichkeiten durch den Bieter ist vor der Angebotsabgabe erforderlich. Hierbei sollen die Raummaße erfasst und mögliche magnetische Felder, akustische Signale und Bodenschwingungen detektiert werden, die sich negativ auf die Performanz auswirken können. Die Ergebnisse sind dem Angebot beizulegen.

Zum Leistungsumfang gehören ebenfalls:

- Bekanntgabe in dem Angebot der Abmessungen und des jeweiligen Gewichts der einzelnen Mikroskopteile,

- die Bereitstellung eines vollständigen Nutzerhandbuchs in englischer Sprache in elektronischer Form,

- Durchführung einer Schulung (5 Tage á 8h).

II.1.6)Angaben zu den Losen
Aufteilung des Auftrags in Lose: nein
II.1.7)Gesamtwert der Beschaffung (ohne MwSt.)
Wert ohne MwSt.: [Betrag gelöscht] EUR
II.2)Beschreibung
II.2.2)Weitere(r) CPV-Code(s)
38512100 Ionenmikroskope
II.2.3)Erfüllungsort
NUTS-Code: DE300 Berlin
Hauptort der Ausführung:

Leistungsempfänger: Leibniz-Institut für Kristallzüchtung im Forschungsverbund Berlin e.V, Max-Born-Straße 2, 12489 Berlin

Das Gerät muss an folgenden Verwendungsort geliefert werden: Humboldt-Universität zu Berlin, Institut für Physik, Raum 0.512, Newtonstraße 15, 12489 Berlin.

II.2.4)Beschreibung der Beschaffung:

Es sind folgende Leistungen zu erbringen:

- Lieferung des Geräts (1 Stk.) zum Verwendungsort: Humboldt-Universität zu Berlin, Institut für Physik, Raum 0.512, Newtonstraße 15, 12489 Berlin.

- Installation und Inbetriebnahme.

- Bekanntgabe der Abmessungen und des jeweiligen Gewichts der einzelnen Mikroskopteile.

- die Bereitstellung eines vollständigen Nutzerhandbuchs in englischer Sprache in elektronischer Form.

- Durchführung einer Schulung (5 Tage á 8h).

Eine Vorort-Inspektion der Räumlichkeiten durch den Bieter ist vor der Angebotsabgabe erforderlich.

II.2.5)Zuschlagskriterien
Qualitätskriterium - Name: Technischer Wert / Gewichtung: 70,00
Preis - Gewichtung: 30,00
II.2.11)Angaben zu Optionen
Optionen: nein
II.2.13)Angaben zu Mitteln der Europäischen Union
Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm, das aus Mitteln der EU finanziert wird: ja
Projektnummer oder -referenz:

EFRE 1.6/02

II.2.14)Zusätzliche Angaben

Abschnitt IV: Verfahren

IV.1)Beschreibung
IV.1.1)Verfahrensart
Offenes Verfahren
IV.1.3)Angaben zur Rahmenvereinbarung oder zum dynamischen Beschaffungssystem
IV.1.8)Angaben zum Beschaffungsübereinkommen (GPA)
Der Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen: ja
IV.2)Verwaltungsangaben
IV.2.1)Frühere Bekanntmachung zu diesem Verfahren
Bekanntmachungsnummer im ABl.: 2023/S 124-394617
IV.2.8)Angaben zur Beendigung des dynamischen Beschaffungssystems
IV.2.9)Angaben zur Beendigung des Aufrufs zum Wettbewerb in Form einer Vorinformation

Abschnitt V: Auftragsvergabe

Auftrags-Nr.: 1
Bezeichnung des Auftrags:

OV_LK_Zweistrahlrastermikroskop (Plasma FIB)

Ein Auftrag/Los wurde vergeben: ja
V.2)Auftragsvergabe
V.2.1)Tag des Vertragsabschlusses:
07/08/2023
V.2.2)Angaben zu den Angeboten
Anzahl der eingegangenen Angebote: 1
Anzahl der eingegangenen Angebote von KMU: 1
Anzahl der eingegangenen Angebote von Bietern aus anderen EU-Mitgliedstaaten: 0
Anzahl der eingegangenen Angebote von Bietern aus Nicht-EU-Mitgliedstaaten: 0
Anzahl der elektronisch eingegangenen Angebote: 1
Der Auftrag wurde an einen Zusammenschluss aus Wirtschaftsteilnehmern vergeben: nein
V.2.3)Name und Anschrift des Wirtschaftsteilnehmers, zu dessen Gunsten der Zuschlag erteilt wurde
Offizielle Bezeichnung: Thermo Fisher Scientific, FEI Deutschland GmbH
Postanschrift: Im Steingrund 4-6
Ort: Deutschland
NUTS-Code: DE71C Offenbach, Landkreis
Postleitzahl: 63303 Dreieich,
Land: Deutschland
E-Mail:
Telefon: +49 6966984948
Fax: +49 6966549054
Der Auftragnehmer ist ein KMU: ja
V.2.4)Angaben zum Wert des Auftrags/Loses (ohne MwSt.)
Gesamtwert des Auftrags/Loses: [Betrag gelöscht] EUR
V.2.5)Angaben zur Vergabe von Unteraufträgen

Abschnitt VI: Weitere Angaben

VI.3)Zusätzliche Angaben:
VI.4)Rechtsbehelfsverfahren/Nachprüfungsverfahren
VI.4.1)Zuständige Stelle für Rechtsbehelfs-/Nachprüfungsverfahren
Offizielle Bezeichnung: Vergabekammer des Landes Berlin
Postanschrift: Martin- Luther- Strasse 105
Ort: Berlin
Postleitzahl: 10825
Land: Deutschland
E-Mail:
Telefon: +49 3090138316
Fax: +49 3090137613
Internet-Adresse: http://www.berlin.de/
VI.5)Tag der Absendung dieser Bekanntmachung:
07/08/2023