OV_LK_Zweistrahlrastermikroskop (Plasma FIB) Referenznummer der Bekanntmachung: IKZ-2023-0024

Auftragsbekanntmachung

Lieferauftrag

Rechtsgrundlage:
Richtlinie 2014/24/EU

Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber

I.1)Name und Adressen
Offizielle Bezeichnung:[gelöscht]
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Berlin
NUTS-Code: DE300 Berlin
Postleitzahl: 12489
Land: Deutschland
Kontaktstelle(n):[gelöscht]
E-Mail: [gelöscht]
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: http://www.fv-berlin.de
I.3)Kommunikation
Die Auftragsunterlagen stehen für einen uneingeschränkten und vollständigen direkten Zugang gebührenfrei zur Verfügung unter: https://vergabekooperation.berlin/NetServer/TenderingProcedureDetails?function=_Details&TenderOID=54321-Tender-188dcac0781-54330fb452f6f749
Weitere Auskünfte erteilen/erteilt folgende Kontaktstelle:
Offizielle Bezeichnung:[gelöscht]
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Berlin
NUTS-Code: DE300 Berlin
Postleitzahl: 12489
Land: Deutschland
E-Mail: [gelöscht]
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: http://www.leibniz-fvb.de
Angebote oder Teilnahmeanträge sind einzureichen elektronisch via: https://vergabekooperation.berlin/NetServer/
Angebote oder Teilnahmeanträge sind einzureichen an die oben genannten Kontaktstellen
I.4)Art des öffentlichen Auftraggebers
Andere: eingetragener Verein
I.5)Haupttätigkeit(en)
Andere Tätigkeit: Forschung im freien Feld

Abschnitt II: Gegenstand

II.1)Umfang der Beschaffung
II.1.1)Bezeichnung des Auftrags:

OV_LK_Zweistrahlrastermikroskop (Plasma FIB)

Referenznummer der Bekanntmachung: IKZ-2023-0024
II.1.2)CPV-Code Hauptteil
38511100 Rasterelektronenmikroskope
II.1.3)Art des Auftrags
Lieferauftrag
II.1.4)Kurze Beschreibung:

Das Leibniz-Institut für Kristallzüchtung im Forschungsverbund Berlin e.V. baut im Rahmen eines Förderprojektes des Europäischen Fonds für Regionale Entwicklung ein Applikationslabor für die In-situ-(Raster)Transmissionselektronenmikroskopie ((S)TEM) auf, um die Entwicklung von Materialien für die Anwendung in mikroelektronischen, optoelektronischen und Leistungsbauelementen voranzutreiben. ln-situ- und ln-operando-Techniken haben sich international als Schlüssel zur Weiterentwicklung von Materialien und Bauelementen etabliert. Dazu werden in der Probenumgebung des TEM durch äußere Stimuli Bedingungen geschaffen, denen die untersuchte Probe oder das Bauelement unter realen Bedingungen ausgesetzt wird. Auf diese Weise lassen sich die relevanten strukturellen, chemischen und elektronischen Veränderungen auf einer breiten Größenskala bis hin zu einzelnen Atomen in-situ und in-operando visualisieren, verstehen und manipulieren.

Zur reproduzierbaren Herstellung elektronentransparenter Proben für die In-situ-Transmissionselektronenmikroskopie soll ein Zweistrahlrastermikroskop beschafft werden, das neben einer Elektronensäule mit einer Ionensäule zur Nanobearbeitung von Materialien ausgestattet ist. Um den hohen Ansprüchen an die strukturelle Perfektion der Proben, Reproduzierbarkeit und Durchsatz, sowie das breite Spektrum an Materialien (Halbeiter, Dielektrika, Oxide, Nitride, 2D-Materialien, organisch-anorganische Heterostrukturen) und die Vielfalt der Anwendungen (z. B. Probenbearbeitung, 3D "Slice-and-View", Herstellung von elektronischen Testdevices) gerecht zu werden, ist eine Plasma-FIB erforderlich, die neben Xenon, Argon, Sauerstoff, Stickstoff als Primärstrahl in derselben Ionenquelle nutzt. Gegenüber den üblicherweise genutzten Ga-Quellen bieten solche Plasmaquellen den Vorteil, die optimierte Ionenquelle für die jeweilige Anwendung (hoher Abtrag oder geringe Schädigung) und das jeweilige Material wählen zu können und innerhalb eines Dünnungsprozesses den Ionentyp wechseln zu können. Zur Untersuchungen von Oberflächen und Nanostrukturen soll die Elektronenquelle so gestaltet sein, dass eine Orstauflösung kleiner oder gleich 1nm für alle nutzbaren Beschlunigungsspannungen erreicht wird. Das zu beschaffende Gerät soll automatisierte Probenbearbeitung und programmierbare Workflows erlauben, um angepasste Routinen für verschiedenste Anwendungsfälle zu erarbeiten und die Prozesse zu automatisieren. Die Forschungsdaten werden nach den FAIR-Prinzipien (Findable, Accessible, Interoperable, Reusable) strukturiert gesichert, um sie mit KI basierten Tools auszuwerten und zu bearbeiten. Das Gerät soll im Rahmen eines offenen Laborkonzepts eingesetzt werden in dem Forscher*innen es unter Anleitung nutzen.

Der Auftragnehmer muss die Anlage an den Verwendungsort im Physikgebäude der Humboldt-Universität zu Berlin in Adlershof (Raum 0.512), Newtonstraße 15, 12489 Berlin, liefern, dort vollständig installieren und in Betrieb nehmen.

Eine Vorort-Inspektion der Räumlichkeiten durch den Bieter ist vor der Angebotsabgabe erforderlich. Hierbei sollen die Raummaße erfasst und mögliche magnetische Felder, akustische Signale und Bodenschwingungen detektiert werden, die sich negativ auf die Performanz auswirken können. Die Ergebnisse sind dem Angebot beizulegen.

Zum Leistungsumfang gehören ebenfalls:

- Bekanntgabe in dem Angebot der Abmessungen und des jeweiligen Gewichts der einzelnen Mikroskopteile,

- die Bereitstellung eines vollständigen Nutzerhandbuchs in englischer Sprache in elektronischer Form,

- Durchführung einer Schulung (5 Tage á 8h).

II.1.5)Geschätzter Gesamtwert
II.1.6)Angaben zu den Losen
Aufteilung des Auftrags in Lose: nein
II.2)Beschreibung
II.2.2)Weitere(r) CPV-Code(s)
38512100 Ionenmikroskope
II.2.3)Erfüllungsort
NUTS-Code: DE300 Berlin
Hauptort der Ausführung:

Leistungsempfänger: Leibniz-Institut für Kristallzüchtung im Forschungsverbund Berlin e.V, Max-Born-Straße 2, 12489 Berlin

Das Gerät muss an folgenden Verwendungsort geliefert werden: Humboldt-Universität zu Berlin, Institut für Physik, Raum 0.512, Newtonstraße 15, 12489 Berlin.

II.2.4)Beschreibung der Beschaffung:

Es sind folgende Leistungen zu erbringen:

- Lieferung des Geräts (1 Stk.) zum Verwendungsort: Humboldt-Universität zu Berlin, Institut für Physik, Raum 0.512, Newtonstraße 15, 12489 Berlin.

- Installation und Inbetriebnahme.

- Bekanntgabe der Abmessungen und des jeweiligen Gewichts der einzelnen Mikroskopteile.

- die Bereitstellung eines vollständigen Nutzerhandbuchs in englischer Sprache in elektronischer Form.

- Durchführung einer Schulung (5 Tage á 8h).

Eine Vorort-Inspektion der Räumlichkeiten durch den Bieter ist vor der Angebotsabgabe erforderlich.

II.2.5)Zuschlagskriterien
Der Preis ist nicht das einzige Zuschlagskriterium; alle Kriterien sind nur in den Beschaffungsunterlagen aufgeführt
II.2.6)Geschätzter Wert
II.2.7)Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung oder des dynamischen Beschaffungssystems
Laufzeit in Monaten: 12
Dieser Auftrag kann verlängert werden: nein
II.2.10)Angaben über Varianten/Alternativangebote
Varianten/Alternativangebote sind zulässig: nein
II.2.11)Angaben zu Optionen
Optionen: nein
II.2.13)Angaben zu Mitteln der Europäischen Union
Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm, das aus Mitteln der EU finanziert wird: ja
Projektnummer oder -referenz:

EFRE 1.6/02

II.2.14)Zusätzliche Angaben

Abschnitt III: Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Angaben

III.1)Teilnahmebedingungen
III.1.1)Befähigung zur Berufsausübung einschließlich Auflagen hinsichtlich der Eintragung in einem Berufs- oder Handelsregister
Auflistung und kurze Beschreibung der Bedingungen:

Folgende Formulare müssen zwingend ausgefüllt und über Bietercockpit eingereicht werden:

- Eigenerklärung zur Eignung_VgV_23

- Erklärung gem. § 1 Abs. 2 der Frauenförderverordnung

- Eigenerklärung-VO-2022-833 (Sanktionen gegen Russland)

- Bieterangaben_Wettbewerbsregister

Folgende Dokumente müssen ausgefüllt und eingereicht werden nur, sofern zutreffend:

- Erklärung_Bieter_Bewerbergemeinschaft

- Unterauftragnehmer_Eignungsleihe_VgV_UVgO

- Verpflichtungserklaerung_anderer_Unternehmer

III.1.2)Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit
Auflistung und kurze Beschreibung der Eignungskriterien:

Folgender Nachweis muss zwingend über Bietercockpit eingereicht werden:

Nachweis (Kopie) über eine ungekündigte, im Rahmen und Umfang marktübliche Berufs- oder Betriebshaftpflichtversicherung für Personen-, Vermögens- und Sachschäden mit Angabe der Versicherungssumme. Der Bieter ist verpflichtet, den Versicherungsschutz bis zum Ende der Laufzeit des Vertrages oder bis zur Verjährung der Mängelansprüche aufrechtzuhalten.

III.1.3)Technische und berufliche Leistungsfähigkeit
Auflistung und kurze Beschreibung der Eignungskriterien:

Folgende Nachweise müssen zwingend über Bietercockpit (auf eigener Vorlage, z.B. Firmenbriefpapier) eingereicht werden:

- Nachweis darüber, dass der Bieter ein Mikroskop, das die in der Leistungsbeschreibung aufgeführten Mindestkriterien erfüllt, zum Zeitpunkt des Angebotes bereits hergestellt hat und dass er die Erfüllung der Mindestkriterien durch ein glaubwürdiges Experiment nachweisen kann. Als Nachweis gilt die Vorlage des Experimentergebnisses oder der Verweis auf Zitierung in einschlägigen Fachmedien.

Die Erfüllung der Mindestkriterien kann auch dadurch nachgewiesen werden, dass der Bieter mindesten eine entsprechende Referenz über eine erfolgreiche Lieferung und Installation eines Geräts, das die erwähnten Mindestanforderungen erfüllt, einreicht. In diesem Fall darf die Referenz maximal aus den letzten 3 Jahren stammen (gerechnet rückwirkend ab dem Datum der Bekanntmachung zu dieser Ausschreibung). Die Referenz muss folgende Angaben enthalten:

a) Name des Auftraggebers

b) Kontaktdaten (Telefon / E-Mail) einer Person beim Auftraggeber, die die Auskunft über die Referenz erteilen kann

c) Jahr der Leistungserbringung

d) Kurzbeschreibung des Auftrags

- Nachweis über das Engagement für Umwelt und Etablierung geeigneter Maßnahmen und Innovationen, um Nachhaltigkeit im Produktionsprozess zu erreichen. Der Nachweis kann durch die Einreichung einer Kopie der ISO 14001 oder EMAS-Zertifizierung oder durch die Darstellung eines selbst entwickelten und implementieren Umweltmanagementsystems erbracht werden.

III.2)Bedingungen für den Auftrag
III.2.2)Bedingungen für die Ausführung des Auftrags:

Es bestehen gesonderte Anforderungen nach dem Berliner Ausschreibungs- und Vergabegesetz (BerlAVG), siehe Vergabeunterlagen.

Gesamtschuldnerisch haftend mit bevollmächtigtem Vertreter.

Abschnitt IV: Verfahren

IV.1)Beschreibung
IV.1.1)Verfahrensart
Offenes Verfahren
IV.1.3)Angaben zur Rahmenvereinbarung oder zum dynamischen Beschaffungssystem
IV.1.8)Angaben zum Beschaffungsübereinkommen (GPA)
Der Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen: ja
IV.2)Verwaltungsangaben
IV.2.2)Schlusstermin für den Eingang der Angebote oder Teilnahmeanträge
Tag: 31/07/2023
Ortszeit: 09:00
IV.2.3)Voraussichtlicher Tag der Absendung der Aufforderungen zur Angebotsabgabe bzw. zur Teilnahme an ausgewählte Bewerber
IV.2.4)Sprache(n), in der (denen) Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können:
Deutsch
IV.2.6)Bindefrist des Angebots
Das Angebot muss gültig bleiben bis: 29/09/2023
IV.2.7)Bedingungen für die Öffnung der Angebote
Tag: 31/07/2023
Ortszeit: 09:00
Angaben über befugte Personen und das Öffnungsverfahren:

entfällt

Abschnitt VI: Weitere Angaben

VI.1)Angaben zur Wiederkehr des Auftrags
Dies ist ein wiederkehrender Auftrag: nein
VI.2)Angaben zu elektronischen Arbeitsabläufen
Aufträge werden elektronisch erteilt
Die elektronische Rechnungsstellung wird akzeptiert
Die Zahlung erfolgt elektronisch
VI.3)Zusätzliche Angaben:

Reichen Sie neben dem elektronisch ausgefüllten Leistungsverzeichnis (Preisblatt) / Angebotsschreiben und der angeforderten Unterlagen auch ein technisches Datenblatt ein. Dieses laden Sie im AI-Bietercockpit hoch. Stellen Sie dabei sicher, dass Sie keine eigenen Geschäftsbedingungen (z.B. AGB) oder Textpassagen, die darauf verweisen, beifügen.

Zahlungsplan: s. Pkt. 15 der Zusätzlichen Vertragsbedingungen_ZVB_Besonderen Vertragsbedingungen_BVB des FVB.

VI.4)Rechtsbehelfsverfahren/Nachprüfungsverfahren
VI.4.1)Zuständige Stelle für Rechtsbehelfs-/Nachprüfungsverfahren
Offizielle Bezeichnung:[gelöscht]
Postanschrift:[gelöscht]
Ort: Berlin
Postleitzahl: 10825
Land: Deutschland
E-Mail: [gelöscht]
Telefon: [gelöscht]
Fax: [gelöscht]
Internet-Adresse: http://www.berlin.de/
VI.4.3)Einlegung von Rechtsbehelfen
Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen:

Innerhalb von 15 Kalendertagen nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, kann ein Nachprüfverfahren bei der Vergabekammer beantragt werden (§ 160 Abs. 3 Nr. 4 GWB).

VI.5)Tag der Absendung dieser Bekanntmachung:
26/06/2023