Analytisches Hochleistungs-FE-REM mit Hoch- und Niedrigauflösung für Abbildung, EBSD (TKD) und EDX im Hoch- sowie Niedrigvakuum Referenznummer der Bekanntmachung: 22/23
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2023-06-28
Berlin
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2023-06-28
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CPV: 38511100-1
Rasterelektronenmikroskope