Offizielle Bezeichnung:[gelöscht]
Postanschrift: Max-Planck-Straße 1
Ort: Geesthacht
NUTS-Code: DEF06 Herzogtum Lauenburg
Postleitzahl: 21502
Land: Deutschland
Kontaktstelle(n):[gelöscht]
E-Mail: [removed]
Telefon: +49 4152870
Fax: [removed]

Internet-Adresse(n):

Hauptadresse: https://www.hzg.de

Andere: Forschungseinrichtung

Andere Tätigkeit: Werkstoff- und Küstenforschung, Biomaterialforschung

Röntgenkleinwinkelstreuanlage

Referenznummer der Bekanntmachung: 2020/04-50080

Lieferauftrag

Das zu beschaffende Gerät dient in erster Linie der Strukturaufklärung von Multiskalenmaterialien durch Beugungsmessungen. Diese Materialien sind zentraler Bestandteil des Forschungsprogramms im Topic „Hybrid and Functionalized Structures“ der Programmorientierten Förderung der Helmholtz-Gemeinschaft sowie im Sonderforschungsbereich (SFB) 986 „Maßgeschneiderte Multiskalige Materialsysteme“ und der darauf aufbauenden Forschung im Hamburger „Center for Integrated Multiscale Materials Systems“ CIMMS. Als die betreibende Organisationseinheit ist die Arbeitsgruppe Hybride Materialsysteme (WMH) des Instituts für Werkstoffforschung, Werkstoffmechanik am Helmholtz Zentrum Geesthacht (HZG) in diese Strukturen eingebettet. Der SFB 986 und die aus ihm hervorgegangene Forschung in CIMMS bündeln die Materialforschung auf dem Gebiet der Multiskalenmaterialien an den Standorten Technische Universität Hamburg, HZG, Deutsches Elektronensynchrotron DESY, und Universität Hamburg. Die Labormessungen mit Kleinwinkelstreuung bei WMH ergänzen Untersuchungen an den leistungsfähigeren Geräten des DESY. Dies schließt auch Untersuchungen ein, die regelmäßig im Rahmen des von HZG betriebenen German Engineering Materials Science Centre (GEMS) durchgeführt werden. Das zu beschaffende Gerät dient gleich ermaßen eigenständigen Messungen wie auch Messungen mit dem Ziel, Prozeduren, Probenqualitäten, und Messprotokolle zu etablieren, die im Anschluss bei DESY weiterverfolgt werden.

Eine prototypische Anwendung ist die Untersuchungen von hierarchisch aufgebautem nanoporösem Gold hinsichtlich des Gefüges der Netzwerkstruktur auf allen Skalen, der Kristallographie, der Kristallgitterdefek te und der Mikroverzerrung. Siehe hierzu als Referenz die Publikationen Physical Review Materials 1 (2017) 076003, ACS Nano 7 (2013) 5948 sowie Advanced Functional Materials 25 (2015) 2530. Der SFB 986 untersucht weiterhin Opale, inverse Opale sowie photonische Gläser. Als Referenz hierfür siehe z. B. Journal of the European Ceramic Society 39 (2019) 3353.

Die zu untersuchenden Multiskalenmaterialien enthalten typisch relevante Strukturmerkmale auf der Skala von der Kristallgitter- und Defektstruktur über feinskalige Ausscheidungen oder molekulare Oberflächenlagen, Primäre Porenstrukturen im Bereich weniger Nanometer und Struktur auf einer oberen Skalenebene im Bereich von (einigen) 100 nm, in Einzelfällen bis zu Müm. Diese Strukturmerkmale sind im gesamten Materialvolumen verteilt. Grundaufgabe des zu beschaffenden Gerätes ist die Strukturbestimmung im Volumen und in einem Skalenbereich von der atomaren Skala bis hinauf zu einigen 100 nm. Dies erfordert, dass das Grundgerät für jeweils ein und dieselbe Probe den gesamten Skalenbereich von der atomaren Skala bis hinauf zu charakteristischen Längenskalen von einigen 100 nm abdecken kann. Die Untersuchungen schließen Prozesse ein, zum Beispiel bei der Gefügeentwicklungen während der Herstellung von Nanomaterialien durch Legierungskorrosion. Dabei treten Änderungen der Struktur mit der Zeit simultan auf allen Längenskalen auf. Das Gerät muss daher geeignet sein für regelmäßig simultane Streumessungen im Kleinwinkel- wie auch im Weitwinkelbereich (SAXS/WAXS). Im reziproken Raum entsprechen die zu untersuchenden Skalen insgesamt einem Intervall von Streuvektoren in der Größenordnung von einigen 10-2 nm-1 bis hinauf zu etwa 40 nm-1.

Ein Gerät für simultan einerseits hochauflösende Kleinwinkelstreuung und andererseits Weitwinkelstreuung mit einem entsprechend großen Messbereich im reziproken Raum ist daher gefordert.

Zu untersuchen sind unter anderem strukturelle Anisotropien auf jeder Längenskala, z. B. in einachsig plastisch verformten porösen Metallen. Die Information im reziproken Raum wird daher richtungsaufgelöst benötigt; in 2 Dimensionen muss der gesamte Azimutwinkelbereich von 360 Grad erfasst werden.

Aufgrund der begrenzen Zeichenanzahl entnehmen Sie die vollständige Leistungsbeschreibung bitte den Vergabeunterlagen.

Aufteilung des Auftrags in Lose: nein

Wert ohne MwSt.: [Betrag gelöscht] EUR

NUTS-Code: DEF06 Herzogtum Lauenburg

Hauptort der Ausführung:

Helmholtz-Zentrum Geesthacht

Max-Planck-Straße 1

21502 Geesthacht

Grundgerät Röntgenklein- und Weitwinkelstreuung (SAXS/WAXS)

— Funktionsfähiges Komplettgerät für simultan sowohl hochauflösende Röntgenkleinwinkelstreuung (SAXS) und wie auch Röntgenweitwinkelstreuung (WAXS), mit allen für den Betrieb erforderlichen Hardware- wie auch Softwarekomponenten;

— Funktionsfähige Einbindung der Zusatzkomponenten (WAXSMD, USAXS, GISAXS, siehe unten) sowohl Hardware- wie auch softwareseitig Auslegung für die Messung mit Mo- wie auch Cu-Strahlung mit vollautomatisiertem Wechsel zwischen den Wellenlängen; der Wechsel muss ohne weiteren Nutzereingriff und insbesondere ohne manuelle Justage erfolgen;

— Mikrofokusquellen für beide Strahlungsarten, jeweils inklusive Kollimationsoptik;

— Geschlossenes Kühlsystem für die Röntgenquellen, mit Wärmetauscher oder Refrigeratorthermostat Kollimation und Strahlengang;

— Kollimation des Primärstrahls über streufreie Blenden, jeweils alle 4 Schneiden unabhängig motorisiert verfahrbar;

— Kollimationsstrecke für den Primärstrahl abgestimmt auf den größten Abstand Probe zu Detektor (APD);

— Abstand ProbeDetektor in der Konfiguration mit höchster Auflösung mindestens 180 cm;

— Strahlengang vollständig im Vakuum von 1 mbar oder besser;

— Vakuumpumpe für den Strahlengang;

— Messvorrichtung für das Vakuumniveau Detektor Kleinwinkelstreuung;

— 2D Detektor für hochauflösende Kleinwinkelstreuung mit den folgenden Eigenschaften:

a. Bauart „single photon counting hybrid pixel detector“,

b. geeignet für beide Strahlungsarten, Mo und Cu,

c. geeignet für die Messung der Intensität im direkten Primärstrahl, ohne Strahlfänger, regelmäßig während der gesamten Dauer jeder Messung,

d. hohe Zähleffizienz, insbesondere Zähleffizienz mindestens 75 % für Mostrahlung,

e. vollautomatisierter Wechsel der Detektorposition,

f. bei größtem APD Winkelauflösung eines einzelnen Pixels 0.006Grad oder besser,

g. mindestens 300 000 Pixel,

h. ausgerüstet mit motorisiertem Schutzfenster, um den Detektor zu schützen, während er nicht benutzt oder wenn er Atmosphäre ausgesetzt wird Bestimmung der absoluten Intensität bei Kleinwinkelstreumessungen:

— Messdaten müssen mit automatischer Quantifizierung sowohl des Streuvektors als auch der absoluten Intensität mit hoher Genauigkeit reduziert werden. Hierzu darf im Routinebetrieb keine Eichprobe erforderlich sein. Die Quantifizierung der absoluten Intensität muss durch kontinuierliche Messung des transemittierten Primärstrahls während der Streuungsmessung mit demselben Detektor erreicht werden; hierzu darf kein Filter oder Abschwächer erforderlich sein, damit die Genauigkeit der absoluten Intensität nicht durch Strahlverhärtung (Verschiebung des Wellenlängenspektrums) beeinträchtigt wird. Diese Funktionalität muss routinemäßig im täglichen Betrieb verfügbar sein.

Weitwinkelstreuung

— separates 2-D Detektormodul, Bauart „hybrid pixel detector“, zur Messung der Weitwinkelstreuung simultan während laufender Kleinwinkelstreumessungen;

— Streusignal muss messbar sein bis zu einem maximalen Streuwinkel von mindestens 2 Theta = 55Grad;

— zweite Detektorposition für Messung mit höherer Auflösung, zum Beispiel für maximalen Streuwinkel von 2 Theta = 40Grad.

Messbereich im reziproken Raum (q-Bereich)

— System muss SAXS/WAXS-Messungen mit einstellbarem APD ermöglichen, um mit Cu-Strahlung einen Bereich des Streuvektors, q, von Beträgen q = 0.015 nm-1 bis q = 38 nm-1 oder besser lückenlos abzudecken. Automatisierte Einstellung aller erforderlichen Konfigurationen;

— System muss in der Lage sein, die zur lückenlosen Abdeckung des gesamten, gerade spezifizierten q- Bereichs erforderliche Variation des APD unter Beibehaltung einer festen Probenposition zu erreichen, ohne Kompromisse bei der Datenqualität. Mit anderen Worten, es darf ausschließlich die Detektorposition entlang der Strahlausbreitungsachse geändert werden. „Keine Kompromisse bei der Datenqualität“ bedeutet hier insbesondere, dass die spezifizierten Werte des q-Bereichs und des Azimuthbereichs sowie der Pixel bezogenen Winkelauflösung uneingeschränkt beibehalten werden;

— System muss die automatische und kontinuierliche Änderung der Konfiguration über den gesamten für Transmissionsmessungen spezifizierten q-Bereich des Instruments ermöglichen. Dies muss durch eine computergesteuerte kontinuierliche Änderung des Abstands zwischen Probe und Detektor über den gesamten Bereich einschließlich der automatischen Justage des Systems (keine manuelle Handhabung erforderlich und alle Einstellungen softwaregesteuert).

Probenkammer und Probenpositionierung

— Probenkammer mit den folgenden Eigenschaften:

a. innere Abmessungen mindestens 350 × 450 × 450 mm³,

b. Freiraum von mindestens (in Bezug auf die Probenposition bei regulären Messungen mit SAXS und WAXS): mind. +/- 160 mm in vertikaler Richtung, mind. +/- 200 mm in horizontaler Richtung und mind. +/- 100 mm in der Strahlausbreitungsrichtung; dabei muss die Probenbühne funktionsfähig und an ihrer Standardposition eingebaut bleiben,

c. Streuungsmessungen alternativ mit Probe im Vakuum oder an Luft möglich. Insbesondere muss auch für Messungen mit der Probe in Luft die softwaregesteuerte, automatische Änderung der Konfiguration (ohne manuellen Nutzereingriff) möglich sein, und zwar über mehr als 3 Größenordnungen in q ab einem minimalen Steuervektorbetrag von q =0,015 nm-1,

d. Zugang in die Kammer durch 2 gegenüberliegende große Türen,

e. mindestens 2 freie Vakuumflansche für nutzerkonfigurierbare Durchführungen.

21. Probenbühne zur Probenpositionierung in der Probenkammer mit den folgenden Eigenschaften:

a. motorisiert in jeder der beiden Raumrichtungen senkrecht zum Strahl verfahrbar,

b. Verfahrweg in jeder Richtung mindestens 90 mm, Positioniergenauigkeit 1 Müm oder besser,

c. geeignet für den Aufbau von nutzereigenen Umgebungszellen auf der Probenbühne, bis zu einem Gewicht von 5 kg.

— parallaxenfreies Videosystem für die Probenjustage.

Aufgrund der begrenzen Zeichenanzahl entnehmen Sie bitte die vollständige Leistungsbeschreibung den Vergabeunterlagen.

Preis

Optionen: nein

Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm, das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein

Offenes Verfahren

Der Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen: ja

Bekanntmachungsnummer im ABl.: 2020/S [removed]

Auftragsvergabe Xenocs SAS

Ein Auftrag/Los wurde vergeben: ja

12/06/2020

Anzahl der eingegangenen Angebote: 1

Anzahl der eingegangenen Angebote von KMU: 1

Der Auftrag wurde an einen Zusammenschluss aus Wirtschaftsteilnehmern vergeben: nein

Offizielle Bezeichnung:[gelöscht]
Postanschrift: 1-3 allée du Nanomètre
Ort: Grenoble
NUTS-Code: FRK24 Isère
Postleitzahl: 38000
Land: Frankreich
E-Mail: [removed]

Internet-Adresse: https://www.xenocs.com/

Der Auftragnehmer ist ein KMU: ja

Gesamtwert des Auftrags/Loses: [Betrag gelöscht] EUR

Bekanntmachungs-ID: CXU1YYDYY6X

Offizielle Bezeichnung:[gelöscht]
Postanschrift: Villemomblerstr. 76
Ort: Bonn
Postleitzahl: 53123
Land: Deutschland
Telefon: [removed]
Fax: [removed]

Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen:

— § 134 Abs. 2 GWB – Informations- und Wartepflicht: Ein Vertrag darf erst 15 Kalendertage nach Absendung der Information nach § 134 Abs. 1 GWB geschlossen werden. Wird die Information auf elektronischem Weg oder per Fax versendet, verkürzt sich die Frist auf 10 Kalendertage. Die Frist beginnt am Tag nach der Absendung der Information durch den Auftraggeber; auf den Tag des Zugangs beim betroffenen Bieter und Bewerber kommt es nicht an,

— Das Vergabeverfahren unterliegt den Vorschriften über das Nachprüfungsverfahren vor der Vergabekammer (§ 155 ff. GWB). Gemäß § 160 Abs. 3 GWB ist der Antrag unzulässig, soweit:

1) der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von 10 Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Abs. 2 GWB bleibt unberührt,

2) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,

3) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,

4) mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. Der vorstehende Satz gilt nicht bei einem Antrag auf Feststellung der Unwirksamkeit des Vertrags nach § 135 Abs. 1 Nr. 2 GWB. § 134 Abs. 1 Satz 2 GWB bleibt unberührt.

10/07/2020