SEM/FIB/Ionenfeinstrahlanlage Referenznummer der Bekanntmachung: 2020/06-50111
Auftragsbekanntmachung
Lieferauftrag
Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
Postanschrift: Max-Planck-Straße 1
Ort: Geesthacht
NUTS-Code: DEF06 Herzogtum Lauenburg
Postleitzahl: 21502
Land: Deutschland
Kontaktstelle(n):[gelöscht]
E-Mail: [removed]
Telefon: +49 4152870
Fax: [removed]
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: https://www.hzg.de
Abschnitt II: Gegenstand
SEM/FIB/Ionenfeinstrahlanlage
Für das Institut für Werkstoffforschung am Helmholtz-Zentrum Geesthacht (folgend HZG), zu dem u. a. das German Material Science Center (GEMS) gehört soll für die Charakterisierung und Herstellung von mikroskopischen Proben eine kombinierte Rasterelektronenmikroskop-Ionenfeinstrahlanlage beschafft werden (engl. scanning electron microscpope and focused ion beam system, abgekürzt SEM/FIB, im Folgenden kurz „FIB").
DESY Notkestraße 85
22607 Hamburg
Für das Institut für Werkstoffforschung am Helmholtz-Zentrum Geesthacht (folgend HZG), zu dem u. a. das German Material Science Center (GEMS) gehört soll für die Charakterisierung und Herstellung von mikroskopischen Proben eine kombinierte Rasterelektronenmikroskop-Ionenfeinstrahlanlage beschafft werden (engl. scanning electron microscpope and focused ion beam system, abgekürzt SEM/FIB, im Folgenden kurz „FIB").
Das FIB wird primär eingesetzt um 3-dimensionale mikroskopische Strukturen aus dem zu untersuchenden Probenkörper herauszuarbeiten, um diese Strukturen aus dem Probenkörper herauszulösen und auf einen geeigneten Probenträger zu fixieren (der Probenträger mit der Probe wird anschließend z. B. in die Nanotomographie-Anlage eingesetzt für die eigentliche Untersuchung).
Die im FIB zu bearbeitenden Probenkörper können verschiedensten Materialklassen angehören: Metalle, Halbleiter, Polymere, Keramiken, biologische Materialien, biologisches Gewebe oder Kombinationen aus diesen. Daneben wird das FIB auch für die oberflächliche und oberflächennahe Charakterisierung (mittels Elektronenmikroskopie und EDX/EBSD) sowie für die volumetrische Analyse (mittels FIB-Tomographie) der Probenkörper sowie der angefertigten Probenstrukturen eingesetzt.
Mit der neu zu beschaffenden Anlage, welche mit einer Edelgas-Plasma-Ionenquelle arbeiten soll, sollen die zu präparierenden Proben frei von Metall-Verunreinigungen und mit einer Abtragsrate präpariert werden, die die Herstellung mehrerer Proben aus verschiedenen Probenkörpern an einem Arbeitstag ermöglicht um den stetig steigenden Bedarf an Probenpräparations-Leistungen unserer Nutzer decken zu können.
Die Abtragsauflösung muss um den Faktor 2 besser als die Auflösung der vorhandenen Nanotomographie-Anlage sein (z. Zt. 37 nm) um Nanotomographiedaten ohne sichtbare Artefakte in der Probengeometrie zu erhalten. Die neue Anlage soll ferner mit einer Elektronenoptik ausgestattet sein, die im Rasterelektronenmikroskop-Modus auch leitende und magnetisierbare Proben mit höchster Auflösung abbilden kann da Metallproben einen signifikanten Anteil an unseren Forschungsaktivitäten haben.
Aufgrund der genannten technischen und methodischen Gegebenheiten sind die spezifizierten technischen Mindestanforderungen zwingend erforderlich.
Das HZG behält sich vor die Aufforderung zur Demonstration/Teststellung des angebotenen Gerätekonzepts beim Bieter vor Ort oder bei einem Referenzkunden, die Präsentation/Teststellung muss in deutscher oder englischer Sprache erfolgen und sämtliche Vorgaben der Leistungsbeschreibung bestätigen.
Vor dem Hintergrund der Corona-Pandemie-Empfehlungen erfolgt dies nur im Bedarfsfall und nur mit dem erst- ggf. zweit-aussichtsreichsten Bieter.
Die Finanzierung dieses Systems ist fördermittelgebunden, sie ist mithin in ihrem Gesamtwert limitiert und setzt eine Abnahme der Anlage bis zum 18.12.2020 voraus. Bei Überschreitung des Budgets bleibt die Aufhebung gemäß § 63 VgV vorbehalten. Zudem ist aus diesen Gründen auch das Angebot eines Gebraucht- oder Vorführgeräts zulässig unter der Maßgabe, dass das angebotene Gerät zum Zeitpunkt der Angebotsabgabefrist nicht älter als 12 Monate und der Gesamtzustand als neuwertig zu bewerten ist und sämtliche Vorgaben der Leistungsbeschreibung erfüllt.
Abschnitt III: Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Angaben
Eigenerklärung zur Eintragung ins Handelsregister
Eigenerklärung zum Nichtvorliegen v. Ausschlussgründen nach §§ 123 und 124 Abs. 1 Nr. 1-4 GWB, gem. Dokument „10090826 Eignungsformblatt.pdf"
1. Erklärung zum Umsatz des Unternehmens in den Jahren 2017 bis 2019:
Gesamtumsatz des Unternehmens sowie spezifischer Umsatz bezüglich der besonderen Leistungsart, die Gegenstand dieser Vergabe ist (Herstellung von SEM/FIB).
2. Eigenerklärung zum Bestehen einer Haftpflichtversicherung mit Angabe der Deckungssumme je Versicherungsfall für
Personen-,Sach- und Vermögensschäden, ein Nachweis kann auf gesondertes Verlangen angefordert werden – gem. dem Dokument „10090826 Eignungsformblatt.pdf"
Angabe von 3 Referenzen für kombinierte Rasterelektronenmikroskop-Ionenfeinstrahlanlagen und Angabe der durchschnittlichen Anzahl des beschäftigten Personals in den beiden letzten abgeschlossenen Geschäftsjahren – gem. dem Dokument "10090826 Eignungsformblatt.pdf"
Abschnitt IV: Verfahren
Abschnitt VI: Weitere Angaben
1. Die Vergabeunterlagen können unter der in Ziffer I.3) genannten Internetadresse abgerufen werden. Die Verwendung der Angebotsunterlagen ist verbindlich. Sofern im Laufe des Vergabeverfahrens weitere Informationen oder Präzisierungen Seitens HZG erforderlich werden sollten, werden diese Zusatzinformationen ebenfalls unter der dort genannten Internetadresse veröffentlicht. Die Bieter müssen daher regelmäßig prüfen, ob unter der dort genannten Internetadresse weitere Informationen veröffentlicht wurden. Eine Registrierung bei der Vergabeplattform erleichtert den Zugang und die Information zu den Bieterinformationen;
2. Fragen zu den Anforderungen dieser Bekanntmachung und den Vergabeunterlagen sollen umgehend, jedoch spätestens bis zum 27.7.2020 über die Vergabeplattform gestellt werden. HZG behält sich vor, später eingehende Fragen nicht zu beantworten;
3. Angebote sind elektronisch an die in Ziffer I.3) benannte Stelle über die Vergabeplattform zu übermitteln. Bis zum Ablauf der Angebotsfrist sind die Angebote verschlüsselt, so dass HZG keinen Zugriff auf sie hat. Dem Bieter steht es jedoch frei, sein Angebot bis zum Ablauf der Frist zu bearbeiten und neu hochzuladen;
4. HZG behält sich vor, das Verfahren aus sachlichen Gründen aufzuheben. Ersatzansprüche der Bieter sind – soweit rechtlich Zulässig – ausgeschlossen. Mit dem Herunterladen der Vergabeunterlagen stimmt der Bieter dem zu;
5. Durch die Abgabe des Angebots verpflichtet sich der Bieter, alle ihm ggf. übersandten Unterlagen vertraulich zu behandeln und den Geheimwettbewerb auch ansonsten zu wahren; dies gilt auch im Hinblick auf das jeweilige Angebot. HZG seinerseits wird Unterlagen der Bieter nur für die Zwecke des Verfahrens verwenden;
6. Bietergemeinschaften haben mit ihrem Teilnahmeantrag eine von allen Mitgliedern unterschriebene rechtsverbindliche Erklärung abzugeben, die in den Bewerbungsunterlagen enthalten ist;
7. Ist das Hochladen von Dokumenten über das Bietertool nicht möglich, liegt dies meist an der unternehmenseigenen Firewall. Wir empfehlen, rechtzeitig probeweise Dokumente hochzuladen; diese können problemlos wieder zurückgezogen werden. Bei Problemen stimmen Sie sich bitte über die Rechteadministration mit Ihrer IT-Abteilung ab. Erfahrungsgemäß ist das Hochladen von einem Rechner außerhalb des Firmennetzwerks problemlos möglich.
8. Das Angebot kann in deutscher oder englischer Sprache abgegeben werden. Für die Vertragsdokumente ist die deutsche Sprache maßgeblich. Es gilt deutsches Recht.
Bekanntmachungs-ID: CXU1YYDYY6C
Postanschrift: Villemomblerstr. 76
Ort: Bonn
Postleitzahl: 53123
Land: Deutschland
Telefon: [removed]
Fax: [removed]
— § 134 Abs. 2 GWB – Informations- und Wartepflicht: Ein Vertrag darf erst 15 Kalendertage nach Absendung der Information nach § 134 Abs. 1 GWB geschlossen werden. Wird die Information auf elektronischem Weg oder per Fax versendet, verkürzt sich die Frist auf 10 Kalendertage. Die Frist beginnt am Tag nach der Absendung der Information durch den Auftraggeber; auf den Tag des Zugangs beim betroffenen Bieter und Bewerber kommt es nicht an.
— Das Vergabeverfahren unterliegt den Vorschriften über das Nachprüfungsverfahren vor der Vergabekammer (§ 155 ff. GWB). Gemäß § 160 Abs. 3 GWB ist der Antrag unzulässig, soweit:
1. der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von 10 Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Abs. 2 GWB bleibt unberührt,
2. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,
3. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,
4. mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. Der vorstehende Satz gilt nicht bei einem Antrag auf Feststellung der Unwirksamkeit des Vertrags nach § 135 Abs. 1 Nr. 2 GWB. § 134 Abs. 1 Satz 2 GWB bleibt unberührt.