SEM/FIB/Ionenfeinstrahlanlage Referenznummer der Bekanntmachung: 2020/06-50111

Bekanntmachung vergebener Aufträge

Ergebnisse des Vergabeverfahrens

Lieferauftrag

Rechtsgrundlage:
Richtlinie 2014/24/EU

Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber

I.1)Name und Adressen
Offizielle Bezeichnung:[gelöscht]
Postanschrift: Max-Planck-Straße 1
Ort: Geesthacht
NUTS-Code: DEF06 Herzogtum Lauenburg
Postleitzahl: 21502
Land: Deutschland
Kontaktstelle(n):[gelöscht]
E-Mail: [removed]
Telefon: +49 4152870
Fax: [removed]

Internet-Adresse(n):

Hauptadresse: https://www.hzg.de

I.2)Informationen zur gemeinsamen Beschaffung
I.4)Art des öffentlichen Auftraggebers
Andere: Forschungseinrichtung
I.5)Haupttätigkeit(en)
Andere Tätigkeit: Werkstoff- und Küstenforschung, Biomaterialforschung

Abschnitt II: Gegenstand

II.1)Umfang der Beschaffung
II.1.1)Bezeichnung des Auftrags:

SEM/FIB/Ionenfeinstrahlanlage

Referenznummer der Bekanntmachung: 2020/06-50111
II.1.2)CPV-Code Hauptteil
42900000 Maschinen für allgemeine und besondere Zwecke
II.1.3)Art des Auftrags
Lieferauftrag
II.1.4)Kurze Beschreibung:

Für das Institut für Werkstoffforschung am Helmholtz-Zentrum Geesthacht (folgend HZG), zu dem u. a. das German Material Science Center (GEMS) gehört soll für die Charakterisierung und Herstellung von mikroskopischen Proben eine kombinierte Rasterelektronenmikroskop-Ionenfeinstrahlanlage beschafft werden (engl. scanning electron microscpope and focused ion beam system, abgekürzt SEM/FIB, im Folgenden kurz „FIB“).

II.1.6)Angaben zu den Losen
Aufteilung des Auftrags in Lose: nein
II.1.7)Gesamtwert der Beschaffung (ohne MwSt.)
Wert ohne MwSt.: [Betrag gelöscht] EUR
II.2)Beschreibung
II.2.1)Bezeichnung des Auftrags:
II.2.2)Weitere(r) CPV-Code(s)
II.2.3)Erfüllungsort
NUTS-Code: DE600 Hamburg
Hauptort der Ausführung:

DESY

Notkestraße 85

22607 Hamburg

II.2.4)Beschreibung der Beschaffung:

Für das Institut für Werkstoffforschung am Helmholtz-Zentrum Geesthacht (folgend HZG), zu dem u. a. das German Material Science Center (GEMS) gehört soll für die Charakterisierung und Herstellung von mikroskopischen Proben eine kombinierte Rasterelektronenmikroskop-Ionenfeinstrahlanlage beschafft werden (engl. scanning electron microscpope and focused ion beam system, abgekürzt SEM/FIB, im Folgenden kurz „FIB“).

Das FIB wird primär eingesetzt um 3-dimensionale mikroskopische Strukturen aus dem zu untersuchenden Probenkörper herauszuarbeiten, um diese Strukturen aus dem Probenkörper herauszulösen und auf einen geeigneten Probenträger zu fixieren (der Probenträger mit der Probe wird anschließend z. B. in die Nanotomographie-Anlage eingesetzt für die eigentliche Untersuchung).

Die im FIB zu bearbeitenden Probenkörper können verschiedensten Materialklassen angehören: Metalle, Halbleiter, Polymere, Keramiken, biologische Materialien, biologisches Gewebe oder Kombinationen aus diesen. Daneben wird das FIB auch für die oberflächliche und oberflächennahe Charakterisierung (mittels Elektronenmikroskopie und EDX/EBSD) sowie für die volumetrische Analyse (mittels FIB-Tomographie) der Probenkörper sowie der angefertigten Probenstrukturen eingesetzt.

Mit der neu zu beschaffenden Anlage, welche mit einer Edelgas-Plasma-Ionenquelle arbeiten soll, sollen die zu präparierenden Proben frei von Metall-Verunreinigungen und mit einer Abtragsrate präpariert werden, die die Herstellung mehrerer Proben aus verschiedenen Probenkörpern an einem Arbeitstag ermöglicht um den stetig steigenden Bedarf an Probenpräparations-Leistungen unserer Nutzer decken zu können.

Die Abtragsauflösung muss um den Faktor 2 besser als die Auflösung der vorhandenen Nanotomographie-Anlage sein (z. Zt. 37 nm) um Nanotomographiedaten ohne sichtbare Artefakte in der Probengeometrie zu erhalten. Die neue Anlage soll ferner mit einer Elektronenoptik ausgestattet sein, die im Rasterelektronenmikroskop-Modus auch leitende und magnetisierbare Proben mit höchster Auflösung abbilden kann da Metallproben einen signifikanten Anteil an unseren Forschungsaktivitäten haben.

Aufgrund der genannten technischen und methodischen Gegebenheiten sind die spezifizierten technischen Mindestanforderungen zwingend erforderlich.

Das HZG behält sich vor die Aufforderung zur Demonstration/Teststellung des angebotenen Gerätekonzepts beim Bieter vor Ort oder bei einem Referenzkunden, die Präsentation/Teststellung muss in deutscher oder englischer Sprache erfolgen und sämtliche Vorgaben der Leistungsbeschreibung bestätigen.

Vor dem Hintergrund der Corona-Pandemie-Empfehlungen erfolgt dies nur im Bedarfsfall und nur mit dem erst- ggf. zweit-aussichtsreichsten Bieter.

Die Finanzierung dieses Systems ist fördermittelgebunden, sie ist mithin in ihrem Gesamtwert limitiert und setzt eine Abnahme der Anlage bis zum 18.12.2020 voraus. Bei Überschreitung des Budgets bleibt die Aufhebung gemäß § 63 VgV vorbehalten. Zudem ist aus diesen Gründen auch das Angebot eines Gebraucht- oder Vorführgeräts zulässig unter der Maßgabe, dass das angebotene Gerät zum Zeitpunkt der Angebotsabgabefrist nicht älter als 12 Monate und der Gesamtzustand als neuwertig zu bewerten ist und sämtliche Vorgaben der Leistungsbeschreibung erfüllt.

II.2.5)Zuschlagskriterien
Qualitätskriterium - Name: Qualität der technischen Ausführung / Gewichtung: 40
Qualitätskriterium - Name: Preis / Gewichtung: 60
Preis - Gewichtung: 60.00
II.2.11)Angaben zu Optionen
Optionen: nein
II.2.13)Angaben zu Mitteln der Europäischen Union
Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm, das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein
II.2.14)Zusätzliche Angaben

Abschnitt IV: Verfahren

IV.1)Beschreibung
IV.1.1)Verfahrensart
Offenes Verfahren
IV.1.3)Angaben zur Rahmenvereinbarung oder zum dynamischen Beschaffungssystem
IV.1.6)Angaben zur elektronischen Auktion
IV.1.8)Angaben zum Beschaffungsübereinkommen (GPA)
Der Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen: ja
IV.2)Verwaltungsangaben
IV.2.1)Frühere Bekanntmachung zu diesem Verfahren
Bekanntmachungsnummer im ABl.: 2020/S [removed]
IV.2.8)Angaben zur Beendigung des dynamischen Beschaffungssystems
IV.2.9)Angaben zur Beendigung des Aufrufs zum Wettbewerb in Form einer Vorinformation

Abschnitt V: Auftragsvergabe

Bezeichnung des Auftrags:

Auftragsvergabe Tescan GmbH

Ein Auftrag/Los wurde vergeben: ja
V.2)Auftragsvergabe
V.2.1)Tag des Vertragsabschlusses:
18/08/2020
V.2.2)Angaben zu den Angeboten
Anzahl der eingegangenen Angebote: 1
Der Auftrag wurde an einen Zusammenschluss aus Wirtschaftsteilnehmern vergeben: nein
V.2.3)Name und Anschrift des Wirtschaftsteilnehmers, zu dessen Gunsten der Zuschlag erteilt wurde
Offizielle Bezeichnung:[gelöscht]
Postanschrift: Zum Lonnenhohl 46
Ort: Dortmund
NUTS-Code: DEA52 Dortmund, Kreisfreie Stadt
Postleitzahl: 44319
Land: Deutschland
E-Mail: [removed]
Telefon: [removed]
Fax: [removed]

Internet-Adresse: http://www.tescan.de

Der Auftragnehmer ist ein KMU: nein
V.2.4)Angaben zum Wert des Auftrags/Loses (ohne MwSt.)
Gesamtwert des Auftrags/Loses: [Betrag gelöscht] EUR
V.2.5)Angaben zur Vergabe von Unteraufträgen

Abschnitt VI: Weitere Angaben

VI.3)Zusätzliche Angaben:

Bekanntmachungs-ID: CXU1YYDYYHZ

VI.4)Rechtsbehelfsverfahren/Nachprüfungsverfahren
VI.4.1)Zuständige Stelle für Rechtsbehelfs-/Nachprüfungsverfahren
Offizielle Bezeichnung:[gelöscht]
Postanschrift: Villemomblerstr. 76
Ort: Bonn
Postleitzahl: 53123
Land: Deutschland
Telefon: [removed]
Fax: [removed]
VI.4.2)Zuständige Stelle für Schlichtungsverfahren
VI.4.3)Einlegung von Rechtsbehelfen
Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen:

— § 134 Abs. 2 GWB - Informations- und Wartepflicht: Ein Vertrag darf erst 15 Kalendertage nach Absendung der Information nach § 134 Abs. 1 GWB geschlossen werden. Wird die Information auf elektronischem Weg oder per Fax versendet, verkürzt sich die Frist auf 10 Kalendertage. Die Frist beginnt am Tag nach der Absendung der Information durch den Auftraggeber; auf den Tag des Zugangs beim betroffenen Bieter und Bewerber kommt es nicht an.

— Das Vergabeverfahren unterliegt den Vorschriften über das Nachprüfungsverfahren vor der Vergabekammer (§ 155 ff. GWB). Gemäß § 160 Abs. 3 GWB ist der Antrag unzulässig, soweit:

1) der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von 10 Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Abs. 2 GWB bleibt unberührt,

2) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,

3) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,

4) mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. Der vorstehende Satz gilt nicht bei einem Antrag auf Feststellung der Unwirksamkeit des Vertrags nach § 135 Abs. 1 Nr. 2 GWB. § 134 Abs. 1 Satz 2 GWB bleibt unberührt.

VI.4.4)Stelle, die Auskünfte über die Einlegung von Rechtsbehelfen erteilt
VI.5)Tag der Absendung dieser Bekanntmachung:
07/09/2020

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